株式会社アイテス

ナイロン6.10の構造解析

特長を当社のFT-IR、熱分解GC-MSを使用して分子レベルで解き明かしていきます！

アイテスでは『ナイロン6.10の構造解析』を行っています。 ナイロンはしなやかさを備え、絹に近い感触を持ち、その一方で、 「鋼鉄より強く、クモの糸より細い」という天然繊維にない高い強度や 耐…

MALDI-TOFMSによる顔料、ポリマー分析

絶対値として質量数を検出！化合物の組成に関する情報を得る事が出来ます

当社では『MALDI-TOFMSによる顔料、ポリマー分析』を行っております。 「MALDI-TOFMS」では、顔料など不溶性であったり分子量が大きい物質の 分子量情報、合成ポリマーなどの分子量…

【資料】不具合の原因を化学の視点で解決します

不具合の原因を化学の視点で解決！化学、および反応機構でアプローチする方法をご紹介

クラック、変色、剥離、変形、物性強度低下など、製品、 部材などに発生する不具合は様々です。 その多くは、製品を構成する材料に原因がある場合が多く、 その材料を分析調査することで解決することが…

XPSによるバンドギャップの簡易測定

XPSを使用して簡易的に測定することが可能！酸化物系以外の半導体もお問合せください

アイテスでは、『XPSによるバンドギャップの簡易測定』を行っています。 半導体や絶縁物の中で、比較的バンドギャップが広い物質や薄膜の バンドギャップを、XPSを使用して簡易的に測定することが可…

【資料】ビニルポリマー（樹脂材料）のIR分析

ポリスチレン、塩化ビニル（塩ビ）などのIR分析を行った結果をご紹介！

ビニルポリマーには多くの種類があり、その側鎖の分子構造によって さまざまな特性を発現。また、その側鎖の結合配置（立体異性体）により、 結晶性に差が生じます。 当資料では、ビニルポリマーの中で…

真贋調査（比較観察）

正規品又は標準品と調査対象品を比較！サイレントチェンジされていないか等を調査

アイテスでは、『真贋調査（比較観察）』を行っています。 正規品又は標準品と調査対象品を比較し、構造などの差異や サイレントチェンジされていないか等を調査。 外観観察をはじめ、開封観察や電…

【資料】偏光フィルムおよび光拡散フィルムの劣化分析

使用サンプルとその特性や偏光フィルム・光拡散フィルムの劣化分析結果などをご紹介！

偏光フィルム、および光拡散フィルムは、LCD製品、意匠デザインなどに 使用されています。 温度や湿度など使用環境により劣化することがあり、偏光、拡散という 特性が低下することで、液晶画面やデ…

【資料】透明樹脂のFT-IR分析

液晶ディスプレイの周辺部材、繊維などの原料（ペレット）をIR分析した結果をご紹介！

PMMA（アクリル）、PET（ポリエチレンテレフタレート）、 PC（ポリカーボネート）はその透明性という特長を活かし、 多くの用途に使用されます。 液晶ディスプレイの周辺部材、モバイル端末画…

光硬化樹脂中重合開始剤の分析

材料中の微量成分を熱脱着GCMSにて分析！様々な材料のキャラクタリゼーションを行います

アイテスは、GCMSを用いてUV硬化樹脂中の光重合開始剤を分析をし、 感光剤の一種であるIrgacure184（光ラジカル重合開始剤）を検出しました。 感光剤には様々な構造のものがあり、その構…

【資料】MEMS部品の構造解析

MEMS部品の構造を非破壊・破壊的手法を組み合わせ、総合的に解析！

当資料では、MEMS部品の構造解析についてご紹介しています。 X線透視観察にて、パッケージ内部の構造を観察する“加速度センサーの 非破壊観察”をはじめ、“加速度センサーの機械研磨後、光学顕微鏡…

【資料】EPMA分析例 その2

EPMAによる分析は、PET、PETH分光結晶で検出することができ、17Clと47Agのピーク分離が可能！

EPMAはEDXと比較すると検出分解能が優れています。 EDXでは元素の検出位置が近く、ピーク分離が困難な場合であっても、 EPMAであればピーク分離が可能な場合があります。 当資料は、…

表面分析ガイド

様々な表面分析手法！異物、変色、汚染などのお困りごとの解決に向けてお役立て致します

当社は、様々な表面分析手法を用いて、異物、変色、汚染などのお困り ごとの解決に向けてお役立て致します。 微小領域からバルク試料まで幅広い分析が可能な「EDX」、電子線を照射し オージェ電子を…

【資料】XPS（ESCA）による変色変質素材の表面分析

問題の対策や回避が可能！元素および結合状態分析で比較検証した事例をご紹介

素材は、使用環境により変質変色することが多いです。 変質変色により製品の性能や意匠性に問題が生じますが、 化学分析によりその分子構造の変化を把握解明することで、 問題の対策や回避が可能となり…

【EBSDによる解析例】シリコンウエハ

測定したシリコンウエハは単結晶！IPFマップ、極点図、逆極点図は比較的シンプルな結果になりました

EBSDで解析したシリコンウエハの事例をご紹介いたします。 ウエハから小片を切り出し、中央50×50μmの領域にてIPFマップを取得。 測定範囲内は、{001}面を表す赤色を示し、また、粒界が…

FE-SEM観察（Alワイヤボンディング部結晶粒観察）

⾼輝度電⼦銃による緻密なSEM画像！表⾯情報に敏感なインレンズSE検出器を装備

ZEISS製の「FE-SEM ULTRA55」は、GEMINIカラムを搭載しており、 極低加速電圧で高分解能観察が可能な装置です。 検出器も複数搭載されており、さまざまなサンプルの観察が可能。…