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      • フタル酸エステル類のスクリーニング分析 製品画像

        フタル酸エステル類のスクリーニング分析

        規制値は1000ppm!簡易的に規制対象化合物含有の有無を調べる事が出来ます

        フタル酸エステル類は、可塑剤などの添加剤成分として多くの プラスチック製品に使用されていますが、改正RoHS指令により 新たに4種のフタル酸エステル類が規制対象となりました。 当社の「スクリ…

      • HDPE・LDPE比較分析 製品画像

        HDPE・LDPE比較分析

        材料構造・材料特性の解析や、不具合、劣化現象なども様々な分析手法から考察

        ポリエチレン樹脂には大きく分けて高密度ポリエチレン(HDPE)と 低密度ポリエチレン(LDPE)の種類があります。 それぞれ基本となる分子構造は同じですが、枝分かれ構造の多さなどの 違いによ…

      • 液槽冷熱衝撃試験 製品画像

        液槽冷熱衝撃試験

        高温180℃対応!車載用・高温対応の電子部品等、高耐熱部品の試験・評価に有効

        株式会社アイテスでは、『液槽冷熱衝撃試験』を行っております。 液体を媒体として温度変化によるストレスを与え、気槽式熱衝撃試験よりも 温度変化が急峻なため、短期間で実施するのに有効な試験方法です…

      • 冷熱衝撃試験 製品画像

        冷熱衝撃試験

        電子部品の接合部だけではなく、ネジ等による固定部位の評価にも!

        株式会社アイテスでは、『冷熱衝撃試験』を行っております。 試料に高温と低温を繰り返し晒す事により、高温・低温の熱による ストレスだけではなく、各部位の伸縮により応力が発生。 繰り返し応力によ…

      • 超音波顕微鏡『SAM』 製品画像

        超音波顕微鏡『SAM』

        非破壊にて観察が可能!内部状態、密着性状態の不具合検出に威力を発揮!

        当社が取り扱う、超音波顕微鏡『SAM(Scanning Acoustic Microscope)』を ご紹介いたします。 半導体パッケージ、基板、電子部品等の内部状態、密着性状態の 不具合検出に大変…

      • 【資料】重合度、分子量の差をIR分析で検証 製品画像

        【資料】重合度、分子量の差をIR分析で検証

        エチレン部に基準ピークを設け、エーテル結合に関与するピークに着目しました!

        当資料は、株式会社アイテスによる『重合度、分子量の差をIR分析で検証』 についてご紹介しています。 ポリエチレンオキサイド(PEO)は、その極性構造由来の特性により多くの 用途で使用されてお…

      • CDM試験 低湿度環境対応 製品画像

        CDM試験 低湿度環境対応

        ドライエアにより湿度30%未満を実現!CDM試験における主要規格の湿度要求や仕様についてご紹介

        ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014において、試験時のデバイス付近の相対湿度は 30%未満にすることを要求されています。 確認方法は、サンプル設置近傍の2ヶ所に温湿度センサー…

      • 液晶材料分析 製品画像

        液晶材料分析

        豊富な装置と知見!化学機器分析で材料全般の分子構造を解明いたします!

        液晶材料には様々な種類があり、LCDパネルに使用する低分子もあれば、 プリント基板や電装部品などに使用される高分子もあります。 それら低分子液晶、高分子液晶(LCP)の分子構造を解析した事例を…

      • 液槽冷熱衝撃試験 LED通電 製品画像

        液槽冷熱衝撃試験 LED通電

        常時モニタを用いることで変化点を確認可能!当社の信頼性試験をご紹介します

        当社では、液槽冷熱衝撃試験において、LEDを常時通電点灯しながら試験ができ 試験中の点灯状態の確認や、電流値の常時モニターなどの評価に対応します。 液槽は液体を媒体に温度ストレスを与え、気槽よ…

      • ESD(HBM・MM)試験受託サービス 製品画像

        ESD(HBM・MM)試験受託サービス

        DUTボード作製から試験まで!ご要望や目的に応じた試験をご提案、実施致します

        『ESD(HBM・MM)試験サービス』は、半導体製品およびそれを含む 電子部品の信頼性として重要なHuman Body ModelとMachine Modelの ESDによる破壊に対する耐性を評価…

      • ESD(CDM)試験受託サービス 製品画像

        ESD(CDM)試験受託サービス

        印加ピンの接触確認機能により確実に印加!直接チャージ法と電界誘導法にも対応

        『ESD(CDM)試験受託サービス』は、半導体製品およびそれを含む 電子部品の信頼性として重要なデバイス帯電モデルのESDによる 破壊に対する耐性を評価します。 直接チャージ法(Direct…

      • 【資料】ミクロトームは刃(ナイフ)が命 製品画像

        【資料】ミクロトームは刃(ナイフ)が命

        試料の切削にはガラスナイフやダイヤモンドナイフを使用!断面観察事例を交えてご紹介

        当資料では、ミクロトーム及びナイフについて、断面観察事例を交えて ご紹介しております。 「ミクロトーム」はTEMやSEM、OM用の断面観察試料を作製する装置で 試料の切削にガラスナイフやダイ…

      • 信頼性試験後のPbフリーはんだ断面観察 製品画像

        信頼性試験後のPbフリーはんだ断面観察

        Pbフリーはんだ実装品を3種の信頼性試験に投入!各試験の主な目的と断面観察結果をご紹介

        当社が行った、信頼性試験後のPbフリーはんだ断面観察についてご紹介いたします。 Pbフリーはんだ実装品(Sn/Ag/Cu合金はんだ)を3種の信頼性試験に投入。 初期品と試験後品を比較しクラック…

      • ガイドネットマップ法を用いたEPMA分析例 製品画像

        ガイドネットマップ法を用いたEPMA分析例

        広範囲の分析が可能!EPMAのガイドネットマップ法を用いた分析例をご紹介

        EPMAは特長の一つに、ガイドネットマップ法があります。 SEM-EDXでは測定範囲が狭く、湾曲試料では面分析が正しく測定できないことが ありますが、EPMAのガイドネットマップ法を用いること…

      • 【資料集】LCDパネル解析資料集 製品画像

        【資料集】LCDパネル解析資料集

        LCD解析でお困りのあなたに、 私たちアイテスが解決のお手伝いをします!

        LCD解析でお困りのあなたに、 私たちアイテスが解決のお手伝いをします! 構造解析:  刻々と進化するFPD製品・先端技術が組み込まれた製品に対して、  特性・構造上の潜在的問題点がないか…

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