印加ピンの接触確認機能により確実に印加！直接チャージ法と電界誘導法にも対応
『ESD(CDM)試験受託サービス』は、半導体製品およびそれを含む
電子部品の信頼性として重要なデバイス帯電モデルのESDによる
破壊に対する耐性を評価します。
直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Induced CDM)の両方に対応。
また、ダイオード特性判定法、その他の特性評価による、破壊判定も
可能です。(別装置を使用)
【特長】
■各種規格条件JEDEC、JEITA(EIAJも可)、AECに対してユニット交換で対応
■直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Induced CDM)の両方に対応
■AEC-Q100-011の直接チャージ法と電界誘導法にも対応
■ダイオード特性判定法、その他の特性評価による、破壊判定も対応可能
■印加ピンの接触確認機能により確実に印加
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報ESD(CDM)試験受託サービス
【装置仕様】
■印加(充電)電圧：0～±4000V
■ステップ電圧：5V
■印加回数：1～99回
■ピン数：最大1024ピン
■印加ユニット：JEDEC、JEITA、EIAJ、AEC
■チャージ方法
・D-CDM(直接チャージ法)：JEITA、EIAJ、AEC
・FI-CDM(電界誘導法)：JEDEC、AEC
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログESD(CDM)試験受託サービス
取扱企業ESD(CDM)試験受託サービス
ESD(CDM)試験受託サービスへのお問い合わせ
お問い合わせ内容をご記入ください。