信頼性のトータルサポートサービス

アイテスでは、JIS・JEDEC・MIL等の標準規格に準じた環境試験装置を使用し、
様々なエレクトロニクス製品、部品および材料の信頼性評価受託試験を承ります。

電気試験をはじめ、非破壊観察やパワーサイクル試験
などがございます。

【環境試験】
■高度寿命加速試験
■恒温恒湿試験
■冷熱衝撃試験
■液槽冷熱衝撃試験
■In-Situ常時測定信頼性評価試験サービス

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

株式会社アイテスでは、『ハイパワー恒温恒湿槽での環境試験』を
承っております。

最大15℃/分（-45⇔±155℃）の定速温度変化が可能。
温度勾配をコントロールしての温度サイクル試験が実施できます。

また、温度制御範囲が一般的な恒温恒湿槽より広く、95℃にて制御可能です。

【特長】
■ハイパワー恒温恒湿槽を2台導入
■最大15℃/分（-45⇔±155℃）の定速温度変化が可能
■温度勾配をコントロールしての温度サイクル試験が実施できる
■温度制御範囲が一般的な恒温恒湿槽より広い
■95℃にて制御可能

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株式会社アイテスでは、シーメンス製（メンター製）のパワーサイクル
試験装置を使用した、パワーサイクル試験の受託を行っています。

試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能です。

また、パワーデバイスの各種観察・測定にも対応しています。
パワーサイクル試験などの試験前後の変化を捉えることができます。

【特長】
■試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能
■パワーデバイスの各種観察・測定にも対応
■パワーサイクル試験などの試験前後の変化を捉えることができる

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株式会社アイテスでは、『モジュール試作と熱抵抗評価』を承っております。

パワーデバイス及びパワーデバイスで使用する材料の評価において、実際に
デバイスを組み立てての熱抵抗測定は、実力の把握に有効な方法です。

試作から評価まで対応致します。
ご興味がございましたら、是非お気軽にご相談ください。

【特長】
＜パワーモジュールの試作＞
■チップの調達からモジュールの組立てまで、一貫して柔軟かつ安価でご提供
■ダイアタッチやTIM材などの評価に好適
＜過渡熱抵抗測定＞
■パワーデバイス向けのT3Ster（パワーサイクル試験装置 内蔵）にて、
　過渡熱抵抗の測定を実施、構造関数の取得と熱解析を行う
■そのデータも用いて、材料間の比較や熱抵抗の算出・不良部の推定などが可能

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アイテスでは信頼性試験、分析・解析などパワーデバイスのトータルソリューションサービスを行っております。過渡熱測定を同時に行える「パワーサイクル試験機」をはじめ、「化合物半導体の故障解析」「拡散層の濃度解析」「モジュールの断面解析」など。具体的実績を元にご提案させていただきます。

キーワード：■パワー半導体全般（チップ、モジュールTIM素材など）■信頼性試験/評価　■構造解析（出来栄え・他社品RE）■故障解析（故障箇所特定、原因究明、改善提案）

【試験一覧】
■パワーサイクル試験
■液槽熱衝撃試験
■ゲートバイアス試験
■半導体・パッケージ剥離部の非破壊観察
■パワーチップの故障解析　など

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当資料では、分子構造解析のための分析手法として一例をご紹介しています。

液晶高分子（LCP）をはじめ、IRによる構造解析やラマンによる構造解析、
GC-MS分析による低分子液晶（for LCD）のTICデータ、および検出物質などを
図や表とともに掲載。

量子レベルでの分析解析には、層の厚い技術集団「アイテス」へ、
是非ご相談ください。

【掲載内容（抜粋）】
■液晶高分子（LCP）
■LCP（全芳香族ポリアミド）の構造解析
■IRによる構造解析
■ラマンによる構造解析
■XPS（ESCA）による構造解析

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鉛フリー半田が普及する一方、Snメッキあるいは半田付け部から発生
する金属結晶のウィスカは電子部品の信頼性に大きな影響を与えます。

当社では、信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能です。

基板中のどの部品、どのピンにウィスカが発生しているか検査員が
逃さず観察します。

【特長】
■信頼性試験後に実装基板の外観観察を行い、ウィスカ有無の判定
■外観観察にてウィスカが検出されたらデジタルマイクロスコープで
　観察・測長
■より詳細に観察、分析を行いたい場合は、表面SEM/EDX分析を実行
■必要に応じて、断面観察（SEM）や結晶方位解析（EBSD）などの観察、
　解析も可能

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当社の「超微⼩硬度計による材料評価」では、⾦属・⾼分⼦・
プラスチック・セラミックス等の材料の超微⼩硬度測定を行えます。

また、硬さを数値化できるため、経年の品質管理にも役⽴ちます。

圧⼦に荷重をかけている状態で、くぼみの押し込み深さを直読し、
硬さを求めます。回復挙動における特性値を求めることも可能です。

【装置概要】
■試験⼒レンジ0.4mN～1000mN 精度±0.02mN
■押し込みレンジ1nm（0.01μm）～700μm

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株式会社アイテスでは、『パワーデバイスのHAST試験』を承っております。

【特長】
■最大1000V印加での不飽和蒸気加圧試験が可能
■高温高湿下での通電により、金属配線の腐食やマイグレーション等の評価を実施
■試験中のモニタリングにより､リアルタイムでの試料劣化を把握 （詳細を見る）

当資料は、株式会社アイテスによる『超微小硬度計による負荷除荷モード＆
カラーフィルター測定例』についてのご紹介しています。

硬度測定で得られる結果をグラフを用いて解説。そのほかにも、不要になった
ディスプレイからカラーフィルターを取り出し、カラーレジストのRed、
Green、Blueの硬度を測定した例も写真やグラフを用いて掲載しています。

是非、ダウンロードしてご覧ください。

【掲載内容】
■硬度測定で得られる結果
■ディスプレイ内カラーフィルターの硬度測定例

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試験環境、観察環境が重要な評価として、ウィスカ観察がありますが、
ウィスカは非常に繊細で、振動・空気の揺らぎなどに敏感なため、試験後の
移動・保管などの取り扱いには注意が必要です。

当社では、試験槽と保管庫、観察場所を1フロアに集約し、移動・保管の
リスクを低減、ウィスカが脱落・消失しない環境を整えております。

また、信頼性試験前後のマイグレーション観察やはんだ表面観察も
承っておりますので、お気軽にお問い合わせください。

【特長】
■信頼性試験から観察まで一貫したサービス
■試験槽と保管庫、観察場所を1フロアに集約
■移動・保管のリスクを低減
■ウィスカが脱落・消失しない
■信頼性試験前後のマイグレーション観察やはんだ表面観察も対応

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ランプ加熱試験（赤外線照射試験）についてご紹介します。

環境試験槽に試験試料を設置し送風状態で雰囲気温度を制御しながら、
赤外線ランプを最大7個使用し光を照射することで、試料表面の温度センサー
の温度が雰囲気温度より高くなるように制御を行います。

例えば、昼間の高温になった車内において、太陽光により雰囲気温度より
さらに過熱されるストレスを模擬する事ができます。

【特長】
■環境試験槽内で送風環境下における赤外線照射試験に対応可能
■雰囲気温度に対して試料表面の温度が高くなるような環境を再現できる

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製品を構成する素材の、熱、湿気負荷による信頼性試験は必須ですが、
試験後の分析評価もまた、欠かすことのできないプロセスです。

恒温恒湿試験は、製品、素材などに温度と湿度の負荷をかけ、物性、特性、
外観などの変化有無、および寿命を確認する装置で、当社では、多種多様な
サンプルの設置も工夫してご対応。

当資料では、恒温恒湿試験前後の素材分子構造変化をIR分析にて検証した
事例をご紹介します。ぜひ、ご一読ください。

【掲載内容】
■信頼性試験装置例（恒温恒湿試験装置）
■サンプル設置の工夫
■化学分析による試験前後の比較評価

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『自記分光光度計による透過率測定サービス』についてご紹介します。

透明素材の透過率は、使用される製品のスペックに重要な特性項目です。

熱、湿度、紫外線などによる劣化でその特性が低下、
または失われる場合があります。

当資料では、装置原理とともに、透明樹脂の恒温恒湿試験前後での
透過率の変化を比較評価した結果、および考察内容を掲載。

是非、ご一読ください。

【掲載内容】
■自記分光光度計の原理、および仕様
■PET樹脂（ポリエチレンテレフタレート）の透過率変化
■PVC樹脂（塩ビ︓ポリビニルクロリド）の透過率変化

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『信頼性試験、曇価（ヘーズ）測定、IR分析のセットメニュー
サービス』についてご紹介します。

プラスチック（樹脂）素材は、使用環境により変色、変質する場合があり、
透明素材は、その透明性、高い透過率が価値ある特性となりますが、
劣化変質によりその特性が低下することで、素材としての機能を失います。

当資料では、「信頼性試験装置例」をはじめ「曇価測定結果」や
「IR分析結果」を表とグラフを用いて解説。

是非、ご一読ください。

【掲載内容】
■信頼性試験装置例（恒温恒湿試験装置）
■曇価（ヘーズ）測定結果
■IR分析結果

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樹脂は、成形加工、および調色がしやすいため多くの製品で使用されています。

使用される環境によっては、変色しやすいことも事実であり、
信頼性試験前後の表色系、および透過率の評価は欠かせません。

本資料では、透明樹脂の恒温恒湿試験前後における表色系、透過率の
変化結果をご紹介いたします。

【掲載内容】
■（xyY）およびL*a*b*表示系について
■恒温恒湿試験（85℃ 85% 168時間）前後の測定

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プラスチックの押出/射出成形加工は、その原料の耐熱温度（融点 Tm）に
応じて条件設定されますが原料の劣化変質により、決められた設定温度で
成形加工が困難となるケースもあります。

プラスチック原料のペレットや粉末のメルトフローレイト（MFR）を
確認することで、従来品と変化がないかを把握することが可能。

未処理（負荷なし）、温湿度負荷（恒温恒湿試験）、および紫外線照射した
PP（ポリプロピレン）を射出し、温度230℃、荷重5kgで評価した事例を
ご紹介しておりますので、ぜひPDFダウンロードよりご覧ください。

【評価事例】
■PP：ポリプロピレン
■8585：85℃85％ × 336時間
■UV：紫外線照射 253.7nm × 336時間
■射出時間：10分（3分から換算）

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製品を構成する素材は多種多様ですが、製品性能は素材の特性が
鍵を握ることも少なくありません。

アイテスでは、素材の信頼性試験から観察、物理/化学分析まで
一貫対応いたします。

本資料では、プラスチック材料の紫外線/恒温恒湿負荷前後の
分子構造、および熱特性変化の⽐較評価を⾏った事例をご紹介します。

【掲載内容】
■恒温恒湿試験、および紫外線照射
　（サンプル：ポリエチレン（PE）ペレット）
■IR、ラマン、およびEGA分析結果

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素材は、使用環境により変質変色することが多いです。

変質変色により製品の性能や意匠性に問題が生じますが、
化学分析によりその分子構造の変化を把握解明することで、
問題の対策や回避が可能となります。

当資料では、表面分析による元素および結合状態分析で
比較検証した事例をご紹介しています。

【掲載内容】
■分析サンプル
■XPS（ESCA）による元素分析結果
■XPS（ESCA）による結合状態分析結果（ポリカーボネート）
■XPS（ESCA）による結合状態分析結果（塩化ビニール）

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アイテスでは、『真贋調査（比較観察）』を行っています。

正規品又は標準品と調査対象品を比較し、構造などの差異や
サイレントチェンジされていないか等を調査。

外観観察をはじめ、開封観察や電気的特性測定、破壊・非破壊観察、
信頼性試験、材料調査などに対応しています。

【特長】
■正規品又は標準品と調査対象品を比較
■構造などの差異やサイレントチェンジされていないか等を調査

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LCD解析でお困りのあなたに、
私たちアイテスが解決のお手伝いをします！

構造解析：
　刻々と進化するFPD製品・先端技術が組み込まれた製品に対して、
　特性・構造上の潜在的問題点がないかを評価しご報告します。
不良解析：
　増え続ける海外製造品の製造不良に対して、
　最短ルートでアプローチ・原因究明いたします。
信頼性試験：
　お客様の目的・必要性に応じて、豊富なノウハウにより
　最適な信頼性試験手法・条件のご提案を行います。

【掲載内容】
■　知ってた？知らなかった？ディスプレイとは？
■　パネル解析事例
■　もっと教えて！アイテスのLCD解析
■　アイテスではこんな解析ができます！ （詳細を見る）

当社が行った、信頼性試験後のPbフリーはんだ断面観察についてご紹介いたします。

Pbフリーはんだ実装品(Sn/Ag/Cu合金はんだ)を3種の信頼性試験に投入。
初期品と試験後品を比較しクラックの発生有無及び金属間化合物層の
成長具合を確認しました。

クラック進展の経過観察などではんだ接合部の耐久性を段階的に確認するには、
サイクル数ごとに取出して断面観察が行えるTC試験がお勧めです。

【試験条件】
(1) TC試験(温度サイクル) 125℃20分/-40℃20分/1000cyc
(2) HT試験(高温放置) 150℃/1000時間
(3) TH試験(温度湿度) 85℃/85%rh/1000時間

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『ESD(CDM)試験受託サービス』は、半導体製品およびそれを含む
電子部品の信頼性として重要なデバイス帯電モデルのESDによる
破壊に対する耐性を評価します。

直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Induced CDM)の両方に対応。

また、ダイオード特性判定法、その他の特性評価による、破壊判定も
可能です。(別装置を使用)

【特長】
■各種規格条件JEDEC、JEITA(EIAJも可)、AECに対してユニット交換で対応
■直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Induced CDM)の両方に対応
■AEC-Q100-011の直接チャージ法と電界誘導法にも対応
■ダイオード特性判定法、その他の特性評価による、破壊判定も対応可能
■印加ピンの接触確認機能により確実に印加

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『ESD(HBM・MM)試験サービス』は、半導体製品およびそれを含む
電子部品の信頼性として重要なHuman Body ModelとMachine Modelの
ESDによる破壊に対する耐性を評価します。

512ピンまでのICモジュール、半導体製品、サブシステム等の製品に対応。

ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を
実施します。また、耐性に問題があった場合、故障解析/原因究明等の
問題解決のお手伝いをします。

【特長】
■512ピンまでのICモジュール、半導体製品、サブシステム等の製品に対応
■512ピン以上の製品についても一部対応(要相談)
■ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を実施
■お客様のご要望や目的に応じた試験をご提案、実施
■耐性に問題があった場合、故障解析/原因究明等の問題解決をお手伝い

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当社では、液槽冷熱衝撃試験において、LEDを常時通電点灯しながら試験ができ
試験中の点灯状態の確認や、電流値の常時モニターなどの評価に対応します。

液槽は液体を媒体に温度ストレスを与え、気槽より温度変化が急峻。

絶縁性の高い液体を使用しているため通電試験が可能で、試験中のLEDの
点灯状態の確認や、電圧(電流)をモニターすることで、特性の変化点が
確認できます。

【特長】
■LEDを常時通電点灯しながら試験が可能
■液槽は液体を媒体に温度ストレスを与え、気槽より温度変化が急峻
■絶縁性の高い液体を使用しているため通電試験が可能
■特性の変化点が確認できる

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ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014において、試験時のデバイス付近の相対湿度は
30％未満にすることを要求されています。

確認方法は、サンプル設置近傍の2ヶ所に温湿度センサーを設置して温度・
湿度を常時モニターし、相対湿度が30％未満となった時点で試験開始。

AEC規格においても2019年の改訂でANSI/ESDA/JEDEC JS-002に準拠すると明記され、
低湿度環境の要求は今後も高まってくると見込まれます。

【CDM試験の主要規格の湿度要求】
■ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2018：相対湿度30％未満
■AEC-Q100-011 Rev-D・AEC-Q101-005 Rev-A：相対湿度30％未満
■JEITA ED-4701/302A(試験方法305D)：周囲温度25℃±5℃

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当社が取り扱う、超音波顕微鏡『SAM(Scanning Acoustic Microscope)』を
ご紹介いたします。

半導体パッケージ、基板、電子部品等の内部状態、密着性状態の
不具合検出に大変威力を発揮します。

非破壊にて観察が可能で、試料に入射された超音波の反射波より、
剥離等の検出ができます。

【仕様(抜粋)】
■パルサーレシーバー：500MHz
■観察手法：反射法/透過法　両観察手法に対応
■音響レンズ/反射法：15,25,30,50,80,100,230MHz
■音響レンズ/透過法：15,25,30,50,100MHz

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株式会社アイテスでは、『冷熱衝撃試験』を行っております。

試料に高温と低温を繰り返し晒す事により、高温・低温の熱による
ストレスだけではなく、各部位の伸縮により応力が発生。
繰り返し応力によってもストレスが加えられます。

電子部品の接合部だけではなく、ネジ等による固定部位の評価としても
当試験が行われます。

【冷熱衝撃試験装置の主なスペック】
■内法：W650×H460×D370mm　温度範囲：-65～0/+60～200℃
■内法：W650×H460×D670mm　温度範囲：-65～0/+60～200℃
■内法：W970×H460×D670mm　温度範囲：-65～0/+60～200℃

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株式会社アイテスでは、『液槽冷熱衝撃試験』を行っております。

液体を媒体として温度変化によるストレスを与え、気槽式熱衝撃試験よりも
温度変化が急峻なため、短期間で実施するのに有効な試験方法です。

当装置では、高温の最高温度が180℃まで対応可能なため、高耐熱部品・材料
などの加速試験に対応することができます。

【特長】
■最高温度が180℃まで対応可能
■高耐熱部品の試験・評価に有効
■気槽式熱衝撃試験よりも温度変化が急峻
■短期間で実施するのに有効

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当社では、表面実装部品(SMD)のはんだ実装工程における耐熱性を評価する、
『はんだ耐熱性試験(SMD)』を行っております。

実装までの吸湿を加湿処理で再現し､はんだ実装時の熱ストレスに相当する
加熱処理で剥離やクラック等の有無を評価。

試験後の検査として初期測定と同内容の検査を行い、必要であれば、
不良部の断面観察などの解析も実施します。

【はんだ耐熱性試験の流れ】
■初期測定
■温度サイクル(shipping condition)
■乾燥処理(Baking)
■加湿処理(Soaking)
■加熱処理(Reflow)
■最終測定

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当社では液晶ディスプレイやOLEDなどの光学特性を分光放射計を用いて
測定できます。

試験前後に測定を行う事で、光学特性の変化を定量的に評価。
白および赤緑青の4パターンにて分光放射輝度を測定します。

輝度・色度・主波長など、さまざまな光学特性を測定することが
可能です。

【測定器概要】
■測定項目：分光放射、輝度、色度
■測定範囲：0.0005cd/m2～5,000,000cd/m2
■波長測定範囲：380nm～780nm
■波長分解能：1nm(有効波長幅[半値幅]：5nm）
■設置方法・治具：縦置き、平置きなど、形状に応じて対応

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急激な温湿度変化で生じる結露は、製品の腐食やイオンマイグレーションに
よるリーク、誤動作を引き起こす原因となります。

『結露サイクル試験』は温度変化と加湿を行い、結露を強制的に繰り返し
発生させ結露に対する評価を実施。

また結露試験前後における経時変化の観察対応もできますのでご用命の際は
お気軽にお問い合わせください。

【試験槽仕様】
■型式：TSA-203D(ESPEC)
■内寸：W650×H460×D670
■温度範囲
・高温さらし：-10℃～+100℃
・低温さらし：-40℃～+10℃
■湿度範囲：40～95％RH(高温さらし)
■試験中の通電も可能

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「キセノンウェザーメーター」は、光源にキセノンアークランプを用いた
促進耐候性試験機で、照射、温湿度、降雨などの暴露条件を組み合わせることで
屋外や屋内の環境を人工的に再現し、自然暴露試験よりも短い時間で
試験体の劣化を促進させて耐候性・耐光性を評価します。

光源のキセノンランプは、太陽光の紫外・可視部に極めて近似した分光分布を
持ち、適切なフィルタの使用と放射照度を正確に制御。屋外暴露と相関性・
再現性の良い試験が行えます。

本試験は、協力会社様で実施するサービスとなっております。

【特長】
■使用するフィルタの組み合わせで、屋外の直射日光、屋内の窓ガラス越しの
　日光などを再現
■強エネルギー型の試験機では太陽光の約3倍の高照度で照射し、より短時間で
　耐光性の評価が可能
■自動車、塗料、建築、プラスチック、印刷物、繊維などの様々な分野で、
　試験として採用されている

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当社の『積層セラミックコンデンサ連続通電試験』をご紹介します。

故障モードをショート(短絡)と仮定して高温・高湿の環境下で直流電圧
を連続通電しながら漏れ電流の変化を常時測定で把握する高温・高湿
連続通電試験が可能。

メーカー別、ロット別等の複数の製品の実力を比較する有効な手法の一つと
考えます。また、試験基板の設計や作製から対応いたします。

【特長】
■必要に応じて、デバイス実装用基板の設計から実施
■0603・1005等のサイズも対応可
■モニタリング装置は抵抗ボード経由でサンプルと接続しリーク電流値換算
■試験後には容量測定を実施し容量劣化の程度を確認することも可能

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