解析 | イプロス都市まちづくり

PR【口コミ・事例集付】太陽光架台のエキスパート屋根技研！大型屋根から住宅…

太陽光パネル設置金具をご検討中の方、他社製品と比較検討されている方、必見！屋根技研の産業用架台・住宅用架台を導入された企業様や、施工現場の職人さん、施主さんから聞いて集めた「口コミ・事例集」を制作しました。他社製品と比べて相違は？屋根技研の架台って、実際どうなの？さまざまな本音が掲載されたこの「口コミ・事例集」をイプロス限定で進呈させていただきます。同時にダウンロードして...

メーカー・取り扱い企業：株式会社屋根技術研究所

パワーデバイスの故障解析

ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・…

あらゆるサイズ・形状のダイオード・MOS FET・IGBT等のパワーデバイスに対し最適な前処理を行い裏面IR-OBIRCH解析や裏面発光解析により不良箇所を特定し観察いたします。 ■解析の前処理－裏面研磨－　各種サンプル形態に対応します。　Siチップサイズ：200um～15mm角 ■不良箇所特定－裏面I...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

液晶パネルの不良解析

点灯確認、パネル解体、光学顕微鏡観察により、不良発生箇所を絞り込みます…

不良現象の確認から原因の解明、詳細な不良解析まで液晶パネルの不良診断メニューをご提供いたします。初期解析では、現状確認(点灯試験)、パネル解体、光学顕微鏡観察、不良症状に合わせて実施。詳細解析では、初期解析での診断結果...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

EBSD解析

結晶方位や結晶粒径の変化が解析可能！EBSD(電子線後方散乱回折)法を…

EBSD法とは、試料の持つ結晶構造の情報を基に連続的に取り込んだパターンの結晶方位を算出することにより、結晶粒の分布、集合組織や結晶相分布を解析する手法です。金属やセラミック等の結晶質のものは、立方体等の結晶格子が多数集まって構成されていると考えられおり、当解析法では、それがどのような方向を向いているのか(結晶方位)を解析。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

静電破壊した橙色LEDの不良解析

良品と静電気（ESD）破壊品の輝度・特性の比較、EMS顕微鏡による発光…

当社では、静電破壊した橙色LEDの不良解析を行っております。 ESD試験にて破壊され、発光強度の低下したLEDはエミッション発光と IR-OBIRCH法を用いて解析し、不良現象を明らかにすることが可能です。「良品と静電気（E...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

パワー半導体の解析サービス

故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします…

株式会社アイテスでは、パワー半導体の解析サービスを承っております。当社は日本IBM野洲事業所の品質保証部門から1993年に分離独立して以来、独自の分析・解析技術を培ってきました。 Si半導体だけでなく、話題のワイドバンド...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

LCDパネル良品解析

LCD部品、製品の品質状態を確認！液晶パネルの各構造を当社の持つ分析手…

アイテスでは、LCD部品/製品の良品解析を行っており、当社の持つLCDの知見から製品の品質状態を確認いたします。対象パネルは、SEG-LCD,AM-LCD（a-Si TFT／LTPS TFT）,OLED 車載,モニター,モバ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

海外製液晶ディスプレイの良品解析

不具合が出れば詳細解析も！海外製LCD導入ご検討のお客様向け簡易版解析

株式会社アイテスの液晶ディスプレイの良品解析についてご紹介します。まず、外観観察としてセルパネル状態で、FPC、FOG、COG、シール材に着目して光学顕微鏡観察を行い、次にセルパネルを解体して、シール材やPI膜、TFT形状を確...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

SiCデバイスの裏面発光解析

SiCデバイスの前加工→リーク箇所特定→物理解析/成分分析までスルー対…

当社では、『SiCデバイスの裏⾯発光解析』を行っております。 SiCは従来のSi半導体と比べ、エネルギーロスの少ないパワーデバイスであり注目を集めていますが、Si半導体とは物性が異なるため、故障解析も新たな手法が必要となりま...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

フレキシブル基板（FPC）のEBSD解析

屈曲部の配線に歪みが蓄積している個所などが分かる、EBSD解析をご紹介…

フレキシブル基板（FPC）のEBSD解析をご紹介します。可動部や折り曲げ機構がある製品に使用されるフレキシブル基板について、屈曲部と固定部でCu配線に違いがあるかEBSDによる確認を実施。その結果、光学像では屈曲部と固...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

発光解析のための半導体の裏面研磨

様々な形態の半導体で裏面研磨が可能！素子、不具合の様子の観察が出来ます

裏面OBIRCH/発光解析や裏面発光解析の前処理として各種形態のサンプルの裏面研磨を行います。これは、裏面から解析を行うため不可欠な前処理です。裏面から解析することで、不良を保持したまま発光を検出できるだけで...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

パネル偏光板劣化解析

パネル偏光板の劣化解析例を掲載！信頼性試験やHS-GCMS分析によるア…

ス、ポリビニルアルコール、ポリエチレンテレフタレートなどを貼り合わせた多層フィルムで出来ています。当資料では、信頼性試験後のパネル偏光板をHS-GCMS分析、熱脱着GCMS分析により劣化解析した事例をご紹介しています。目に見えない劣化でも、この分析なら見つかるかも？！是非、ご一読ください。【掲載内容】 ■信頼性試験 ■HS-GCMS分析によるアウトガス分析 ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

TEMによる電子部品・材料の解析

TEM（透過型電子顕微鏡）は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析…

TEMは高倍観察のみならず、EDS、EELSによる元素分析、あるいは電子線回折による結晶構造、面方位、格子定数等の解析を行う事ができます。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

化学反応機構研究所材料劣化解析（PETの分解・劣化）

ポリマー材料やサンプルの状態などに応じて適切な分析方法をご提案！

株式会社アイテスでは、材料劣化解析を行っております。ポリマー材料やサンプルの状態などに応じて適切な分析方法をご提案。材料がどのような劣化過程を辿ったかを解析し、ポリマー材料や使用環境を適切にすることで製品の寿命を...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

UV照射によるフィルム物性変化の解析

ブルーライトカットフィルムの光透過性がどのように変化するか、分光光度計…

を用いて検証。波長350～400nmの光の透過性が、UV照射によって、さらに低下しました。また、フィルム内部で起こっている反応に関して、GC-MSを用いて分析を行いました。【解析内容】 ■通常PETフィルムとブルーライトカットフィルムの光透過特性 ■ブルーライトカットフィルムへのUV照射 ■フィルム内成分のGC-MS分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

実装部品接合部の解析

機械研磨法に化学エッチング、イオンミリング、FIB加工を施すことにより…

電子部品の接合部は基板全体の信頼性に大きな影響を及ぼします。特にはんだ接合部においては、形状のみならず、金属組織の観察が重要になります。...■基板接合部機械研磨　＋化学エッチング　＋イオンミリング　光学顕微鏡、SEMによる観察 ■FIBによる断面作成　SEMによる観察...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

スイッチ接点不良の解析事例

外観確認、電気的な確認、X線での内部観察を実施！解析事例のご紹介

電源が入らなくなった家電のスイッチ部にて故障が推測されたことから、解析事例を作業フローと共に紹介します。最初に外観の観察にて、膨れや⻲裂、変⾊などの形状変化がないか確認。電気的な確認では不具合が再現されるか確認したりオープンなのかショートなのか等を確認...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

アイテス　装置一覧

アイテスの解析・評価・試験サービスに使用する装置一覧です

アイテスは、最先端産業分野でお客様の課題に真摯に取り組む解決提案型企業です。各種保有装置を駆使し、最適なソリューションを提供します。 ■製品解析/不良解析/故障解析　形態観察・電気特性測定・不良解析・故障解析・試料加工 ■信頼性評価試験　信頼性評価試験・ESD/ラッチアップ試験・強度試験・光学特性 ■物理解析/化学分析　物理...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

FPD 評価・検証

特性・構造上の潜在的問題点がないかを評価！信頼性試験手法・条件をご提案

当社では、FPDを様々な角度から徹底評価、検証いたします。構造解析では、FPD製品・先端技術が組み込まれた製品に対して、特性・構造上の潜在的問題点がないかを評価し、ご報告。不良解析では、増え続ける海外調達品の製品不良に対して最短ルートでアプローチ・原因究明...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

EBSD法による解析例

EBSDパターン(菊池パターン)、金ワイヤーボンド接合部の解析例をご紹…

【金ワイヤーボンド接合部　解析例】 ■逆極点図方位マップ(Inverse Pole Figure:IPFマップ) ■逆極点図を基にした結晶方位マップ ■Grain Reference Orientation Deviati...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

品質技術トータルソリューション

製品企画段階から性能、信頼性、廃棄、リサイクルまで考慮した品質への取組…

●製品ライフサイクル全般をカバーする総合的な技術サービス　電子部品の品質向上のために必要な開発時の原材料評価、信頼性試験と結果解析、出荷後の故障解析と結果の開発・製造現場へのタイムリーなフィードバック、さらには品質問題解決のコンサルティングまで、製品ライフサイクル全体にわたりご支援します。 ●信頼性試験の結果を速やかに解析...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

半導体製品の信頼性トータル・ソリューション

半導体製品に関わる部品・装置・材料の開発評価の困難をサポート

【試験・評価・分析・解析】　●信頼性試験　　■温度サイクル試験　　■冷熱衝撃試験　　■高温保存試験　　■高度加速寿命試験　　■プリコンディショニング　　■ホットオイル試験　　■In-situ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【資料】MEMS部品の構造解析

MEMS部品の構造を非破壊・破壊的手法を組み合わせ、総合的に解析！

当資料では、MEMS部品の構造解析についてご紹介しています。 X線透視観察にて、パッケージ内部の構造を観察する“加速度センサーの非破壊観察”をはじめ、“加速度センサーの機械研磨後、光学顕微鏡・ SEM観察”や“マイクロフ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

EBSD法によるCu結晶解析

Cu板における圧縮前後での変化を観察！圧縮前後の結晶粒径の半化を比較で…

EBSD(電子線後方散乱回折)法は、電子線照射により得られた反射電子回折パターンから個々の結晶の方位情報を取得しマップ化したもので、さらに定量的、統計的なデータとして結晶方位(配向性)のみならず結晶粒分布や応力ひずみ等の材料組織状態を調べる手法です。 Cu板における圧縮前後での変化観察では、IQマップ、GRODマップ、 IPFマップ(Axis3方向)を使用し、圧縮前後の結晶粒径...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【資料】反応熱分解によるポリカーボネート劣化解析

材料評価や不良品解析に！分解生成物の違いから、かかった負荷や劣化機構に…

す。しかし優れた性質を持つポリマーであっても、使用環境や経時変化により化学変化、いわゆる劣化が生じます。当資料では、UV照射及び恒温恒湿試験を行ったポリカーボネート材料の劣化解析例を紹介します。【掲載内容】 ■ポリカーボネートの反応熱分解GC-MS分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

ラマンUV硬化樹脂

ラマンスペクトルには有機化合物の官能基が反映！硬化反応がある程度推定可…

当社では、UV硬化性樹脂のUV照射前後のスペクトルを解析しております。 UV硬化樹脂(アクリル系)に紫外線を照射し、照射前後のラマンスペクトルを取得。ラマンスペクトルの解析により硬化反応がある程度推定可能です。より詳しい硬化モード硬...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

液晶ディスプレイの信頼性トータル・ソリューション

海外製液晶ディスプレイの信頼性に問題を抱えるお客様のために、信頼性試験…

場で問題を起こしています。アイテスでは豊富な経験と最新設備により、信頼性試験のデザインから試験前後の目視検査を行い、お客様の抱える信頼性問題を解決します。さらに、故障モードの分類から故障解析、材料分析まで御支援します。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

ウィスカ評価

検査員が逃さず観察！信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能で…

鉛フリー半田が普及する一方、Snメッキあるいは半田付け部から発生する金属結晶のウィスカは電子部品の信頼性に大きな影響を与えます。当社では、信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能です。基板中のどの部品、どのピンにウィスカが発生しているか検査員が逃さず観察します。【特長】 ■信頼性試験後に実装基板の外観観察を行い、ウィスカ有...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【EBSDによる解析例】シリコンウエハ

測定したシリコンウエハは単結晶！IPFマップ、極点図、逆極点図は比較的…

EBSDで解析したシリコンウエハの事例をご紹介いたします。ウエハから小片を切り出し、中央50×50μmの領域にてIPFマップを取得。測定範囲内は、{001}面を表す赤色を示し、また、粒界が見られないこ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

パワーデバイスのトータルソリューションサービス

パワーデバイスをあらゆる角度から徹底評価、検証します

囲内でマイグレーションが発生しないことを確認する試験・高温逆バイアス/ゲートバイアス試験　高温高湿環境下の絶縁抵抗値の連続モニター　チャネル数　120チャネル ■パワーデバイスの分析・解析・パワーチップの故障解析・はんだ接合部の解析・極低加速特殊SEMによるAlワイヤーのグレイン観察・半導体・パッケージ剥離部の非破壊観察...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

金属・高分子・プラスチック等の『超微小硬度計による材料評価』

ヤング率・塑性硬さ・塑性変形量・弾性割合・クリープなど多くの物性の解析…

ルとして得られます。圧子を材料中に押し込む侵入深さと、除荷後回復する荷重／侵入深さ曲線より硬さ値を求めるため、硬度以外にヤング率・塑性硬さ・塑性変形量・弾性割合・クリープなどの多くの物性を解析することが可能です。材料の特性評価をお考えの際にはお気軽にお問い合わせください。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

液晶材料分析

豊富な装置と知見！化学機器分析で材料全般の分子構造を解明いたします！

液晶材料には様々な種類があり、LCDパネルに使用する低分子もあれば、プリント基板や電装部品などに使用される高分子もあります。それら低分子液晶、高分子液晶（LCP）の分子構造を解析した事例をご紹介。当社では、豊富な装置と知見で、液晶材料のみならず、様々な素材の信頼性試験、分析解析にご対応いたします。海外輸入品・素材の分子構造の把握や不具合解明など、お気軽にご相...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察

SiCパワーデバイスでも、特定箇所の断面作製、拡散層の形状観察、さらに…

るSiC MOSFETの拡散層の観察を行っております。 FIBを用いた特定箇所の断面作製、LV-SEM/EBICによる拡散層の形状観察、さらにTEMによる配線構造、結晶構造までのスルー解析が SiCパワーデバイスでも対応できます。「LV-SEM拡散層観察」では、PN接合の内蔵電位に影響を受けた二次電子（SE2）をInlens検出器で検出。 FIB断面でのSEM観察...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【事例集】X線透視・CT検査装置

X線透視観察や斜めCT観察の「BGAはんだクラック解析事例」「表面実装…

当資料では、当社で行ったX線透視やCT検査装置のさまざまな解析事例をご紹介しております。X線透視観察や斜めCT観察の「BGAはんだクラック解析事例」をはじめ、「表面実装LED」や「チップ抵抗の観察事例」などを掲載。【掲載内容（抜粋）】 ■BGAはんだ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【資料】重合度、分子量の差をIR分析で検証

エチレン部に基準ピークを設け、エーテル結合に関与するピークに着目しまし…

おり、リチウムイオンポリマー二次電池の絶縁材や電解質、界面活性剤、化粧品、合成洗剤原料など幅広いです。今回、重合度、分子量の違うPEOをIR分析し、違いをスペクトルから読み取りデータ解析を試みました。ぜひ、ご一読ください。【掲載内容】 ■ポリエチレンオキサイド ■取得した各サンプルのIRスペクトル重ね合わせによるデータ解析 ■その他の分析解析手法によるアプロー...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

ESD(HBM・MM)試験受託サービス

DUTボード作製から試験まで！ご要望や目的に応じた試験をご提案、実施致…

ICモジュール、半導体製品、サブシステム等の製品に対応。 ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を実施します。また、耐性に問題があった場合、故障解析/原因究明等の問題解決のお手伝いをします。【特長】 ■512ピンまでのICモジュール、半導体製品、サブシステム等の製品に対応 ■512ピン以上の製品についても一部対応(要相談) ■...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

HDPE・LDPE比較分析

材料構造・材料特性の解析や、不具合、劣化現象なども様々な分析手法から考…

本となる分子構造は同じですが、枝分かれ構造の多さなどの違いにより、ポリマーとしての性質も異なります。 HDPEとLDPEを各種分析から比較した例をご紹介。当社では、材料構造・材料特性の解析だけでなく、プロセス条件バラツキの把握、不具合、そして劣化現象などを様々な分析手法から考察致します。【事例内容】 ■FT-IRによる主骨格の比較分析 ■EGA-MSによる熱分解温度の...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

ESD/ラッチアップ試験受託サービス

対応します。 ■ JEDEC、EIAJ、ESDAなどの規格に準拠した試験を提供します。 ■ お客様のご要望や目的にあった試験をご提案、実施します。 ■ 万一耐性に問題があった場合は、故障解析/原因究明から問題解決までのお手伝いをします。 ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

X線透視・CT検査装置『Cheetah EVO』

実装基板、電子部品を始め様々な部品、部材の初期観察に有効な検査装置

の挙動などリアルタイムで観察することができるX線透視・CT検査装置です。リフローの条件出しやはんだの選定などに活用可能。当社は、当製品による「インダクタコイルの観察」をはじめ、「BGAはんだクラック解析」や「IC型コイルの観察」などの事例があります。【装置スペック(抜粋)】 ■X線発生器：マルチフォーカス透過型 ■管電圧：25－160kV ■管電流：0.01－1.0mA ■管電力：...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

断面研磨・加工・観察・分析のトータルサポートサービス

さまざまな部品・材料の断面を受託加工作製します

装基板、半導体、化合物半導体、パワーデバイス、フィルム、樹脂成形品、太陽パネル、液晶ガラスなどさまざまな部品・材料の断面を受託加工作製します。また作製した断面の観察や分析を行い、不良解析や出来栄え評価などを受託分析いたします。【サービス一覧】 ■機械研磨 ■CP加工 ■ミクロトーム ■FIB加工 ■半導体拡散層の解析　など ※詳しくはPDF資料をご覧いた...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

クロスビームFIBによる断面観察

FIB加工をリアルタイムで観察しながら断面観察が可能です。

半導体デバイス、MEMS、TFTなどナノスケールの精度で製造されるエレクトロニクス製品の構造解析を行うための新たな手法：クロスビームFIBにより断面観察をご提案いたします。 ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み

「SEM像」や「吸収電流像（電流センス）」など！配線のオープン不良、高…

当社では、分析解析・信頼性評価サービスなどを行っております。『EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み』では、ナノプローバと高感度アンプを用いたEBAC法により配線のオープン不良、高抵抗不良箇所を...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

信頼性試験に伴う経時変化観察

変化観察に応用でき、追加解析も対応！時系列かつ非破壊で対象物を評価いた…

察、耐圧観察、はんだ評価、　薬品侵蝕試験、市場での経年劣化品などの変化観察に応用可能 ■環境試験、観察頻度はお客様のご要望の条件にて実施 ■電気特性、SEM観察、元素分析、断面観察などの追加解析も対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

形状記憶合金の変態温度測定

物質が温度変化にともない相変態を起こすとき、熱エネルギー変化が起こりま…

【元素分析による組成解析】 ■元素分析を行うと、変態温度が氷点下であった形状記憶合金Cでは、　A,Bに比べTi/Niの比が異なる事が分かった ■一方、形状記憶合金AとBではTi/Ni比に大きな差異は見られなかった ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

GC-MSによる香り成分の分析

GC-MSは低分子有機物質の定性定量分析に利用！線香と白檀にてデータを…

【データ解析、および他材料との比較考察】 ■線香/白檀・アルデヒド基と脂肪族環状構造を特長とする・ウッディーな香りは、主に脂肪族環状構造が起因であると推測する ■全般的に水酸基（OH）および二重結合...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

透明素材の曇価（ヘーズ）測定、全光／拡散透過率測定サービス

ガラス、ITOなどの透明素材に！各透明樹脂・紫外線照射前後の測定評価も…

ーズメーター装置を使用。平行成分P.Tと拡散成分全てを含めた全光線透過率T.Tと平行成分を除いた拡散透過率DIFの比で表されます。当サービスのご提供とともに、分子構造視点のデータ解析考察もご対応いたします。ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。【装置仕様】 ■装置：日本電色工業株式会社製 ■対応規格：JIS K7136／JIS K7136-1／JIS K71...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス