特性・構造上の潜在的問題点がないかを評価！信頼性試験手法・条件をご提案
当社では、FPDを様々な角度から徹底評価、検証いたします。
構造解析では、FPD製品・先端技術が組み込まれた製品に対して、特性・構造上
の潜在的問題点がないかを評価し、ご報告。不良解析では、増え続ける
海外調達品の製品不良に対して最短ルートでアプローチ・原因究明いたします。
また、信頼性試験では、お客様の目的、必要性に応じて、豊富な
ノウハウにより好適な信頼性試験手法・条件のご提案を行います。
【当社の強み】
■解決する力
・液晶製造工程を熟知した解析手法のご提案
■つきとめる力
・技能深い洞察力と高度かつサブミクロンレベルの微細な試料加工技術
■特化した設備
・多様な分析機器を組み合わせた考察
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報FPD 評価・検証
【概要(一部)】
＜構造解析＞
■パネル解体
■液晶成分分析
■電気特性測定
＜不良解析＞
■微小異物分析
■発光/OBIRCH 解析
■TOF-SIMS 分析
＜信頼性試験＞
■高温高湿バイアス試験
■目視検査と特性評価
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| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 用途／実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
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