株式会社アイテス EBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞込み

「SEM像」や「吸収電流像(電流センス)」など!配線のオープン不良、高抵抗不良箇所を特定します

当社では、分析解析・信頼性評価サービスなどを行っております。

『EBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞込み』では、
ナノプローバと高感度アンプを用いたEBAC法により配線の
オープン不良、高抵抗不良箇所を特定します。

吸収電流を電圧センスすることで、配線内の抵抗分圧に基づいた
コントラストが得られるため、ビアチェーンなどのTEGで⾼抵抗
不良箇所を検出することもできます。

【EBAC法による解析事例】
■SEM像
■重ね合わせ画像
■吸収電流像(電流センス)
■吸収電流像(電圧センス)

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基本情報EBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞込み

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カタログEBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞込み

取扱企業EBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞込み

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株式会社アイテス

【解析・信頼性評価事業】  ■電子部品各種データ収集から故障解析までの解析・評価  ■研究開発・製造における原材料評価および特性評価 【検査装置開発事業】  ■太陽光パネル検査・測定器の開発・販売 【電子機器修理事業】  ■産業用機器およびパソコンの修理 【ウェハー加工事業】  ■ウェハー加工サービスおよび販売

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