「SEM像」や「吸収電流像(電流センス)」など!配線のオープン不良、高抵抗不良箇所を特定します
当社では、分析解析・信頼性評価サービスなどを行っております。
『EBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞込み』では、
ナノプローバと高感度アンプを用いたEBAC法により配線の
オープン不良、高抵抗不良箇所を特定します。
吸収電流を電圧センスすることで、配線内の抵抗分圧に基づいた
コントラストが得られるため、ビアチェーンなどのTEGで⾼抵抗
不良箇所を検出することもできます。
【EBAC法による解析事例】
■SEM像
■重ね合わせ画像
■吸収電流像(電流センス)
■吸収電流像(電圧センス)
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報EBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞込み
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯 | お問い合わせください |
---|---|
納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログEBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞込み
取扱企業EBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞込み
EBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞込みへのお問い合わせ
お問い合わせ内容をご記入ください。