光学フィルムの解析

材料物性からその機能発現メカニズムまで一貫して評価・分析に対応いたしま…

株式会社アイテスでは「光学フィルムの解析」を行っております。 スマートフォン等に使用される光学フィルムはその構造と材質によって 様々な機能を有しています。 角度可変分光光度測定にてのぞき見防止フィルムの透過特性を調査し、断面 観察及びラマン分析によって機能発現の仕組みを解析することができます。 【特長】 ■光学特性の測定 ■機能発現のメカニズム解析 ※詳しくはPDF...

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LCDパネル良品解析

LCD部品、製品の品質状態を確認！液晶パネルの各構造を当社の持つ分析手…

アイテスでは、LCD部品/製品の良品解析を行っており、当社の持つLCDの 知見から製品の品質状態を確認いたします。 対象パネルは、SEG-LCD,AM-LCD（a-Si TFT／LTPS TFT）,OLED 車載,モニター,モバイルなど。 液晶パネルの各構造を当社の持つ分析手法を用いて良品解析を実施します。 【解析内容（抜粋）】 <信頼性/点灯試験> ■分類 ・信頼性試...

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パワー半導体の解析サービス

故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします…

株式会社アイテスでは、パワー半導体の解析サービスを承っております。 当社は日本IBM野洲事業所の品質保証部門から1993年に分離独立して以来、 独自の分析・解析技術を培ってきました。 Si半導体だけでなく、話題のワイドバンドギャップ半導体も対応可能です。 【特長】 ■OBIRCH解析ではSiだけでなく、SiCやGaNデバイスにも対応 ■表裏どちらからでもFIB加工可能 ■...

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パワーデバイスの故障解析

ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・…

あらゆるサイズ・形状のダイオード・MOS FET・IGBT等の パワーデバイスに対し最適な前処理を行い 裏面IR-OBIRCH解析や裏面発光解析により不良箇所を特定し観察いたします。 ■解析の前処理－裏面研磨－ 　各種サンプル形態に対応します。 　Siチップサイズ：200um～15mm角 ■不良箇所特定－裏面IR-OBIRCH解析・裏面エミッション解析－ 　IR-OBIRCH...

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【資料】MEMS部品の構造解析

MEMS部品の構造を非破壊・破壊的手法を組み合わせ、総合的に解析！

当資料では、MEMS部品の構造解析についてご紹介しています。 X線透視観察にて、パッケージ内部の構造を観察する“加速度センサーの 非破壊観察”をはじめ、“加速度センサーの機械研磨後、光学顕微鏡・ SEM観察”や“マイクロ...

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EBSD解析

結晶方位や結晶粒径の変化が解析可能！EBSD(電子線後方散乱回折)法を…

EBSD法とは、試料の持つ結晶構造の情報を基に連続的に取り込んだパターン の結晶方位を算出することにより、結晶粒の分布、集合組織や結晶相分布を 解析する手法です。 金属やセラミック等の結晶質のものは、立方体等の結晶格子が多数集まって 構成されていると考えられおり、当解析法では、それがどのような方向を 向いているのか(結晶方位)を解析。 IQマップ(イメージクオリティーマップ)を...

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SACはんだとNiパッド界⾯の化合物の解析例

各相の多種のマップを表示することも可能！試料の持つ結晶構造の情報を基に…

Sn-Ag-Cu系はんだとNiPパッド界⾯に形成される化合物の解析例をご紹介 いたします。 NiPパッドとSn-Ag-Cu系はんだの界面には(Ni,Cu)3Sn4や(Cu,Ni)6Sn5等 の化合物が成⻑しており、EDXによる面分析では化合物中にNiやCu、Snの 分布が⾒られます。 EBSD法は試料の持つ結晶構造の情報を基に解析する手法です。 EDXによる元素分析と合わせて解...

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TEMによる電子部品・材料の解析

TEM（透過型電子顕微鏡）は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析…

TEMは高倍観察のみならず、EDS、EELSによる元素分析、 あるいは電子線回折による結晶構造、面方位、格子定数等の 解析を行う事ができます。...■エミッション発光にて特定した故障部位は 　FIBにより薄片化しながら観察します。 ■電子の透過力の大きい加速電圧400kVのTEMにて 　故障部位を試料厚内に閉じ込めた状態での透過観察とFIB加工を繰り返し 　最適な像を得ることができ...

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FPD 評価・検証

特性・構造上の潜在的問題点がないかを評価！信頼性試験手法・条件をご提案

当社では、FPDを様々な角度から徹底評価、検証いたします。 構造解析では、FPD製品・先端技術が組み込まれた製品に対して、特性・構造上 の潜在的問題点がないかを評価し、ご報告。不良解析では、増え続ける 海外調達品の製品不良に対して最短ルートでアプローチ・原因究...

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ラマンUV硬化樹脂

ラマンスペクトルには有機化合物の官能基が反映！硬化反応がある程度推定可…

当社では、UV硬化性樹脂のUV照射前後のスペクトルを 解析しております。 UV硬化樹脂(アクリル系)に紫外線を照射し、照射前後の ラマンスペクトルを取得。 ラマンスペクトルの解析により硬化反応がある程度推定可能です。 より詳しい硬化モード硬化解析のためにはGCMS等の分析が必要ですが 当社ではスペクトル解析により、構造推定だけでなく、反応の推定まで 対応いたします。 【...

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液晶材料分析

豊富な装置と知見！化学機器分析で材料全般の分子構造を解明いたします！

のみならず、様々な素材の 信頼性試験、分析解析にご対応いたします。海外輸入品・素材の分子構造の 把握や不具合解明など、お気軽にご相談ください。 【事例内容】 ■FT-IR分析による分子構造解析 ■XPS（ESCA）分析による表面官能基（分子団）の把握 ■GC-MSによるLCD用液晶材料分析例 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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HDPE・LDPE比較分析

材料構造・材料特性の解析や、不具合、劣化現象なども様々な分析手法から考…

ポリエチレン樹脂には大きく分けて高密度ポリエチレン（HDPE）と 低密度ポリエチレン（LDPE）の種類があります。 それぞれ基本となる分子構造は同じですが、枝分かれ構造の多さなどの 違いにより、ポリマーとしての性質も異なります。 HDPEとLDPEを各種分析から比較した例をご紹介。 当社では、材料構造・材料特性の解析だけでなく、プロセス条件バラツキの 把握、不具合、そして劣化現...

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LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察

SiCパワーデバイスでも、特定箇所の断面作製、拡散層の形状観察、さらに…

当社では、LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察を 行っております。 FIBを用いた特定箇所の断面作製、LV-SEM/EBICによる拡散層の 形状観察、さらにTEMによる配線構造、結晶構造までのスルー解析が SiCパワーデバイスでも対応できます。 「LV-SEM拡散層観察」では、PN接合の内蔵電位に影響を受けた 二次電子（SE2）をInlens検出器で...

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有機物の分子構造を、もっとはっきりさせてみませんか？

NMR分析で類似分子構造の化合物を区別し、側鎖、置換基の結合位置や枝分…

構造物を得られたのかの確認には 必須の分析で、 医薬品、サプリメント、食品、繊維など、その特性効果・効能は 分子団の置換基の場所や分子構造により左右されます。 もう一歩踏み込んだ有機分子構造解析を当社技能集団がご対応いたします。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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GC-MSによる香り成分の分析

GC-MSは低分子有機物質の定性定量分析に利用！線香と白檀にてデータを…

香りをキーワードとして、身近な線香を分析し、その分子構造の特長を 他材料と比較考察しました。 樹木から採れる代表的な香木としては、白檀（びゃくだん）・沈香 （じんこう）・伽羅（きゃら）の3種があげられますが、今回は線香と 白檀にてデータを取得。 アルデヒド基と脂肪族環状構造を特長とし、ウッディーな香りは、 主に脂肪族環状構造が起因であると推測します。 【分析概要】 ■分...

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【資料】重合度、分子量の差をIR分析で検証

エチレン部に基準ピークを設け、エーテル結合に関与するピークに着目しまし…

当資料は、株式会社アイテスによる『重合度、分子量の差をIR分析で検証』 についてご紹介しています。 ポリエチレンオキサイド（PEO）は、その極性構造由来の特性により多くの 用途で使用されており、リチウムイオンポリマー二次電池の絶縁材や電解質、 界面活性剤、化粧品、合成洗剤原料など幅広いです。 今回、重合度、分子量の違うPEOをIR分析し、違いをスペクトルから読み取り データ解析...

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クロスビームFIBによる断面観察

FIB加工をリアルタイムで観察しながら断面観察が可能です。

半導体デバイス、MEMS、TFTなどナノスケールの精度で製造される エレクトロニクス製品の構造解析を行うための新たな手法： クロスビームFIBにより断面観察をご提案いたします。 ...

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透明素材の曇価（ヘーズ）測定、全光／拡散透過率測定サービス

ガラス、ITOなどの透明素材に！各透明樹脂・紫外線照射前後の測定評価も…

当社では、透明素材（透明フィルム／シート、ガラス、ITOなど）の 『曇価（ヘーズ）測定、全光／拡散透過率測定サービス』を行っております。 曇り度合いや光の拡散度合いを測定するヘーズメーター装置を使用。 平行成分P.Tと拡散成分全てを含めた全光線透過率T.Tと平行成分を除いた 拡散透過率DIFの比で表されます。 当サービスのご提供とともに、分子構造視点のデータ解析考察も ご対...

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モジュール試作と熱抵抗評価

ダイアタッチやTIM材などの評価に好適！試作から評価まで対応致します

株式会社アイテスでは、『モジュール試作と熱抵抗評価』を承っております。 パワーデバイス及びパワーデバイスで使用する材料の評価において、実際に デバイスを組み立てての熱抵抗測定は、実力の把握に有効な方法です。 試作から評価まで対応致します。 ご興味がございましたら、是非お気軽にご相談ください。 【特長】 ＜パワーモジュールの試作＞ ■チップの調達からモジュールの組立てまで、...

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WPAによる製品／素材の歪、複屈折評価

素材の配向、歪、複屈折を評価することで、内部応力、歪状態を把握できます…

製品を構成する材料は様々ですが、製造成形プロセスにおいて内部応力が 大きく、または偏って存在すると、使用中、使用環境により変形、割れ （クラック）、特性低下などの不具合を招きます。 『WPA（広範囲偏光分析）』により、素材の配向、歪、複屈折を 評価することで、内部応力、歪状態を把握することが可能となります。 お気軽に、ご相談ください。 【特長】 ■内部応力、歪状態を把握す...

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MALDI-TOFMSによる顔料、ポリマー分析

絶対値として質量数を検出！化合物の組成に関する情報を得る事が出来ます

OFMS」では、顔料など不溶性であったり分子量が大きい物質の 分子量情報、合成ポリマーなどの分子量情報、末端基情報などを得る事が可能。 合成化合物の質量確認や、他の分析手法と組み合わせての構造解析など、 お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■マトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析法（MALDI法）採用 ■化合物の組成に関する情報を得る事が出来る ■GPCに対して...

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ABS樹脂のFT-IR分析

知見とスペクトル解析力、そしてその他の分析手段など様々なアプローチで物…

共重合樹脂には多くの種類がありますが、中でもABSはその特異な 分子構造により多くの製品に使用されています。 エンジニアリングプラスチックとして、電子製品、自動車、電化製品、 IT関連製品など幅広い分野で活用されているABS樹脂を、FT-IR分析を使い 特長的なIRスペクトルを考察しました。 【形状】 ■Head to tail ■Head to head ■tail to...

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【資料】ビニルポリマー（樹脂材料）のIR分析

ポリスチレン、塩化ビニル（塩ビ）などのIR分析を行った結果をご紹介！

ビニルポリマーには多くの種類があり、その側鎖の分子構造によって さまざまな特性を発現。また、その側鎖の結合配置（立体異性体）により、 結晶性に差が生じます。 当資料では、ビニルポリマーの中でも代表的な、ポリエチレン、 ポリプロピレン､ポリスチレン、塩化ビニル（塩ビ）のIR分析を行った結果を ご紹介。 アイテスは、微妙な差異も見逃さず、化学理論による高度なデータ解析を 行います...

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【資料】GC-MS分析装置ガイド

試料導入装置と、それぞれの装置が得意とする分析試料や分析内容についてご…

GC-MS分析は有機成分分析や有機構造解析によく用いられる手法です。 付帯装置により溶剤などの低分子からプラスチックなどの高分子まで 幅広い分析対応が可能。 当資料ではアイテスで保有している試料導入装置と、それぞれの装置が ...

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【資料】高分子構造変化の解析

高次構造を分析的手法により評価！ラマン分析は高分子構造についての解析に…

『高分子構造変化の解析』についてご紹介します。 当資料では、「ラマン分光分析による高分子高次構造の評価」と 「高分子鎖の構造変化」を掲載。 高分子の分子構造はその特性に影響を与え、高分子製品の物性に影響し、 高分子鎖が集合してつくる高次構造を分析的手法により評価してみました。 是非、ご一読ください。 【掲載内容】 ■ラマン分光分析による高分子高次構造の評価 ■高分子...

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【EBSDによる解析例】高融点はんだ

EBSDにて結晶構造を観察！それぞれの金属で各データの取得ができます

高融点はんだ(Snを少量含むPb基はんだ)について、EBSDによる 解析例を紹介致します。 EBSD法により結晶粒分布や、残留応力を推測することが可能。 また、結晶構造が異なる金属については同時に解析できるものがあり、 それぞれの金属で各データの取得ができます。 【特長】 ■結晶粒分布や、残留応力を推測できる ■結晶構造が異なる金属については同時に解析できるものがあり、 ...

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【EBSDによる解析例】ネジ

ネジ(Cu2Zn)について、EBSDによる解析例をご紹介致します。

EBSD法により結晶サイズの分布や、結晶方位の配向性を確認する ことができます。 今回はネジの谷部分の方位差が大きいことがわかり、残留応力が 大きいことが推測されます。 また、ネジ表面には粒径の小さい結晶粒が分布している様子も 観察されました。 【概要】 ■解析方法 ・EBSDにて結晶構造を観察 ■結果 ・ネジの谷部分の方位差が大きいことがわかった ・残留応力が大...

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【EBSDによる解析例】鉄板

グラフに現れた特長を可視化！結晶サイズの分布や、結晶方位の配向性を確認…

鉄板(Fe)について、EBSDによる解析例を紹介致します。 ヒストグラムのグラデーションと対応する結晶粒分布 map、 IPF map、結晶粒分布などを用いて、EBSDにて結晶構造を観察。 EBSD法により結晶サイズの分布や、結晶方位の配向性を確認でき、 マップにHigh lightすることにより、グラフに現れた特長を 可視化できます。 【概要】 ■EBSDにて結晶構造を...

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【EBSDによる解析例】ビア

EBSD法により結晶サイズの分布や、残留応力を推測することができます

積層基板で形成されるビア(Cu)について、EBSDによる解析例を 紹介致します。 EBSD法により結晶サイズの分布や、残留応力を推測することが可能。 また、マップにHigh lightすることにより、グラフに現れた特長を 可視化できます。 【概要】 ■EBSDにて結晶構造を観察 ・IPFマップ ・GRODマップ ・結晶粒分布map ※詳しくはPDF資料をご覧いた...

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【資料】質量分析ガイド

官能基や骨格構造など、様々な分析手法から情報を得て解析！質量分析ガイド…

当資料では、質量分析ガイドをご紹介しております。 有機化合物の分析では化合物が有する官能基、骨格構造、質量など、 様々な分析手法から情報を得て解析を行います。 化合物の質量を知る為の分析として様々な手法があり、それぞれ得意な 分析内容や対象があります。また、用途に合わせて使い分けたり、 他の分析手法と組み合わせて使うことで必要な情報を得る事が出来ます。 【掲載内容】 ■質...

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