顕微鏡 | イプロス都市まちづくり

【資料】光学顕微鏡とSEMの使い分け

光学顕微鏡とSEMを同じサンプルで比較！メリット、デメリットを挙げて解…

試料の観察には光学顕微鏡とSEM（走査電子顕微鏡）がよく用いられますが、それぞれ特長があるので目的に応じた装置を選択する事が大切です。当資料では、光学顕微鏡とSEMを同じサンプルで比較し一般的に言われている ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

超音波顕微鏡『SAM』

非破壊にて観察が可能！内部状態、密着性状態の不具合検出に威力を発揮！

当社が取り扱う、超音波顕微鏡『SAM(Scanning Acoustic Microscope)』をご紹介いたします。半導体パッケージ、基板、電子部品等の内部状態、密着性状態の不具合検出に大変威力を発揮します。非...

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卓上型SEM(電子顕微鏡)『TM3030Plus』

試料の観察や元素分析が可能！半導体、電子部品分野のみならず、ライフサイ…

当社では、日立ハイテク社製の卓上型SEM(電子顕微鏡)『TM3030Plus』を取り扱っています。 SEM観察が一般化されて半世紀。様々な分野にてSEM観察は重要な観察手段となっています。卓上型SEMの"帯電軽減モード"なら、...

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卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察

微細なクラックが見やすい！導電処理が不要で、すばやく詳細な観察が出来ま…

『卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察』についてご紹介です。製品の信頼性評価において、クラックの断面観察は欠かせません。光学顕微鏡観察では見落とす可能性がある微小なクラックもSEM観察では明確に確認...

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半導体製品の信頼性トータル・ソリューション

半導体製品に関わる部品・装置・材料の開発評価の困難をサポート

：振動・衝撃／落下試験／圧縮強度・ズレ強度　　■ESD / Latch Up / CDM試験　　■電気特性計測　　■塩水噴霧試験　●分析・解析　　■X線透過観察　　■超音波顕微鏡観察　　■発光解析（EMS/IR-OBIRCH）　　■走査型電子顕微鏡（SEM）　　■透過型電子顕微鏡(TEM) 　　■表面汚染分析(TOF-SIMS）　　■異物分析（FT-IR...

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【受託分析】レーザー顕微鏡（観察＆測定）

広範囲での観察、計測も可能！レーザー顕微鏡を用いた受託分析のご紹介です

当社では、形状測定レーザマイクロスコープ「VK-X200」を用いた受託分析を行っております。平面計測、幅測定、高さ測定、膜厚測定等の各種、測定ができ、対象のサイズや求める精度により、適した対物レンズを選択し、観察や測定を実施。範囲はレンズに応じて異なりますが、連結機能を有しているため、広範囲での観察、計測も可能です。【特長】 ■平面計測、幅測定、高さ測定、膜厚...

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【受託分析】レーザー顕微鏡（高精度3D測定＆カラー観察）

試料表面の凹凸形状の3D測定や透明体越しの表面形状測定などが可能です！

析を行っております。 408nmレーザーを用いて観察、計測を実施。測定結果は国家基準につながるトレーザビリティ体系に基づいており、測定機器として非破壊測定に活用できます。レーザー顕微鏡では、試料表面の凹凸形状の3D測定ができ、透明体の膜厚形状や透明体越しの表面形状測定が可能です。【特長】 ■試料表面の凹凸形状の3D測定が可能 ■透明体の膜厚形状や透明体越しの表面...

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液晶パネルの不良解析

点灯確認、パネル解体、光学顕微鏡観察により、不良発生箇所を絞り込みます…

不良現象の確認から原因の解明、詳細な不良解析まで液晶パネルの不良診断メニューをご提供いたします。初期解析では、現状確認(点灯試験)、パネル解体、光学顕微鏡観察、不良症状に合わせて実施。詳細解析では、初期解析での診断結果をもとに表面分析、断面解析、成分分析など好適な手法をご提案いたします。原因となった生産工程の絞り込みなど不良発生...

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静電破壊した橙色LEDの不良解析

良品と静電気（ESD）破壊品の輝度・特性の比較、EMS顕微鏡による発光…

光強度の低下したLEDはエミッション発光と IR-OBIRCH法を用いて解析し、不良現象を明らかにすることが可能です。「良品と静電気（ESD）破壊品の輝度と特性比較」や「エミッション 顕微鏡による発光解析」などの事例がございます。【解析例】 ■良品と静電気（ESD）破壊品の輝度と特性⽐較・砲弾型LEDのレンズ部を研磨にて平坦化し、輝度比較を行ったところ、　ダークエリ...

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基板実装部品の断面観察(1)～(6)

チップコンデンサ(MLCC)で、顕微鏡の「観察モード」をご紹介！

当社で行った基板実装部品の断面観察例をご紹介いたします。市販のパソコン基板を用いて、実装部品のはんだ接合部や部品内部の構造を金属顕微鏡で観察。金属顕微鏡の観察モードには、明視野観察、暗明視野観察、偏光観察等があります。その他、透過光による観察等もあり、試料に合わせて観察モードを選択します。信頼性試験前後に断面観察...

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似て非なる物の解析基本手法

応用範囲が広い光学顕微鏡観察からSEM観察、EDX元素分析までの流れを…

解析手法の基本的で応用範囲が広い光学顕微鏡観察からSEM観察、 EDX元素分析までの流れをご紹介致します。光学顕微鏡による観察は基本的な観察手法の一つであり、大まかな形状観察等を素早く行えます。また、特長は色情報が得られる事...

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塗膜の観察

平面傾斜切削も可能な“ミクロトーム”など！様々な製品で使用されている塗…

ミクロトーム」は、断面作製のみならず、平面傾斜切削も可能。この他、「卓上斜め切削機」は、表面情報として元の厚みの6～300倍のサンプル面を取り出すことが可能で、「卓上型SEM(電子顕微鏡)」は、低真空下での観察が可能なモード(帯電軽減)があり、揮発成分が出る試料の観察や元素分析ができます。【プラスチック皮膜(携帯電話のケース)の観察】 ■トリプルイオンポリッシャ...

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AFM（原子間力顕微鏡）

微小プローブによる高分解能でのイメージング！ナノレベルの構造解析を実現…

当社では、試料表面を微小プローブで走査し、ナノレベルの構造解析を実現いたします。「形状測定（タッピングモード）」では、周期的に振動させたプローブで試料表面を軽くタッピングし、表面形状を計測。また、「位相イメージング」は、カンチレバーを動かす周期信号とカンチレバーの振動との間の位相遅れをマッピングし、形状には現れない物性の違いを可視化します。【特長】 ■微小...

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【資料】MEMS部品の構造解析

MEMS部品の構造を非破壊・破壊的手法を組み合わせ、総合的に解析！

当資料では、MEMS部品の構造解析についてご紹介しています。 X線透視観察にて、パッケージ内部の構造を観察する“加速度センサーの非破壊観察”をはじめ、“加速度センサーの機械研磨後、光学顕微鏡・ SEM観察”や“マイクロフォンの断面観察（CROSS BEAM FIB/SEM）” を掲載。是非、ダウンロードしてご覧ください。【掲載内容】 ■加速度センサーの非破壊観察...

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大型試料の断面観察(膨張弁)

大型試料（65mm×28mm）の断面作製と内部構造の観察事例をご紹介！

65mm×28mmの大型試料（膨張弁）の観察事例をご紹介します。本試料は磁性材料が用いられており、SEM観察は像が歪んでしまうため、光学顕微鏡による観察を主としました。外観とX線透視観察で、X線では一部、透視されない箇所があることがわかりました。【概要】 ■外観とX線透視観察 ■光学顕微鏡による断面観察 ※...

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海外製部品・製品評価サービス

海外製部品・製品の中には品質上問題のあるものも含まれています。これらに…

強度試験　振動・衝撃試験、落下試験、圧縮強度・ズレ強度・ESD/Latch Up/CDM試験・はんだ濡れ性試験・電気特性計測・塩水噴霧試験・X線透過観察・SAT（超音波顕微鏡）観察...

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顕微ラマンによる多層材料分析

ラマン分光法による深さ方向への測定！多層膜の表面から各層の材料分析が可…

当社の「顕微ラマン分光光度計」は共焦点光学系が採用されており、 顕微鏡のように深さ方向に焦点位置を変化させることで、多層膜の表面から各層の材料分析が可能です。顕微ラマン分光光度系の共焦点機能を用いて、ラマンレーザー光の焦点を深さ方向に変化させることが...

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EPMAによる状態分析

標準スペクトルと比較することで結合状態を推定！EPMAによる状態分析を…

フトや波形）が生じることを利用し、標準スペクトルと比較することで結合状態を推定します。 2種類の銅酸化物の識別において、黒色CuOと赤色Cu2Oの色彩による識別が困難な場合、特に電子顕微鏡が必要なミクロな対象物に対して、EPMAによる酸化状態の把握が可能です。また、Al表面の薄い酸化層の測定には最表面分析手法のXPSが有効ですが、異物等の微小物や塊状物、バルク、複合...

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実装部品のインク浸漬試験(dye and pry)

着色液や蛍光液を浸透させることにより、破断・剥離層の観察を行うことがで…

より、破断・剥離層の観察を行うことができます。ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。【インク浸漬試験の流れ】 ■インク浸漬(dye) ■引き剥がし(pry) ■光学顕微鏡やSEMによる観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ...

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海外製ディスプレイの不良解析

不良解析の実績多数！現象の確認から不良発生メカニズムの推測など、詳細な…

「海外製ディスプレイの不良解析」を行っております。現象の確認から、不良発生メカニズムの推測、原因となった生産工程の絞り込みなど、詳細な解析が可能です。点灯観察、パネル解体、光学顕微鏡観察を不良症状に合わせて実施。不具合箇所を絞り込み、詳細解析が必要な場合は適切な手法を提案させていただきます。【詳細解析例(一部)】 ■配線の断面観察 ■異物分析 ■液晶成分分析...

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海外製液晶ディスプレイの良品解析

不具合が出れば詳細解析も！海外製LCD導入ご検討のお客様向け簡易版解析

株式会社アイテスの液晶ディスプレイの良品解析についてご紹介します。まず、外観観察としてセルパネル状態で、FPC、FOG、COG、シール材に着目して光学顕微鏡観察を行い、次にセルパネルを解体して、シール材やPI膜、TFT形状を確認。良品解析で不具合が見つかった場合は、配線の断面観察、異物分析など原因究明のための追加解析を御提案させていた...

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顕微EL/PLイメージング装置　PVX1000+POPLI-μ

太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微PL観測

PVX1000+POPLI-μは、太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微鏡でフォトルミネセンス観測ができます。PERCであれば、PL強度で個々のLocal-BSFの評価、レーザーコンタクトホール周辺のパッシベーション層のダメージが評価可能です。また、直流電源を用...

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TEMによる電子部品・材料の解析

TEM（透過型電子顕微鏡）は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析…

TEMは高倍観察のみならず、EDS、EELSによる元素分析、あるいは電子線回折による結晶構造、面方位、格子定数等の解析を行う事ができます。...■エミッション発光にて特定した故障部位は　FIBにより薄片化しながら観察します。 ■電子の透過力の大きい加速電圧400kVのTEMにて　故障部位を試料厚内に閉じ込めた状態での透過観察とFIB加工を繰り返し　最適な像を得ることができ...

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微小異物分析のためのサンプリング技術

エレクトロニクス製品の歩留に大きな影響を与える異物について、各種サンプ…

■さらに強化されたマイクロサンプリングツール　新規導入されたマイクロサンプリングツールは　顕微鏡下でマニュピレータを用い　正確に狙った異物を捕らえます ■5umに満たない微小異物でも　多数集めてFT-IRにて測定することが可能です...

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実装部品接合部の解析

機械研磨法に化学エッチング、イオンミリング、FIB加工を施すことにより…

■基板接合部機械研磨　＋化学エッチング　＋イオンミリング　光学顕微鏡、SEMによる観察 ■FIBによる断面作成　SEMによる観察...

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アイテス　装置一覧

アイテスの解析・評価・試験サービスに使用する装置一覧です

■形態観察　・レーザー顕微鏡 　・SAM/SAT 　・X線透視装置　・SEM/FE-SEM ■電気特性測定　・カーブトレーサ　・パワーデバイスアナライザ ■不良解析・故障解析　・EMS/IR-OBIR...

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エネルギー分散X線分光法(EDS)

特性X線を検出！微小領域や微小異物等の元素情報を得たいときに有効な分析…

『エネルギー分散X線分光法(EDSまたはEDX)』は、電子顕微鏡(SEMやTEM)に取り付けられた検出器で電子線照射により発生する特性X線を検出し、試料や異物の元素情報を得る手法です。物質に電子線を照射することにより発生する特性X線が検出器に入...

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信頼性保証サービスのご紹介

JIS・JEDEC・MIL等の標準規格に準じ、様々なエレクトロニクス製…

高温保存試験 ■耐ホットオイル評価試験 ■絶縁抵抗連続モニター評価 ■導通抵抗連続モニター評価 ■エレクトロマイグレーション連続モニター評価 ■マイクロフォーカスX線透過観察 ■超音波顕微鏡観察 ■ESD評価試験 ■CDM評価試験 ■万能引張評価試験 ■断面（研磨）観察サービス（環境試験前後の評価も可能です） ■太陽電池（結晶シリコン/アモルファスシリコン/化合物/有機薄膜...

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ミクロトームによる眼鏡レンズコート層の観察

『ミクロトームにて断面作製！レンズのコート層、多層膜の観察事例をご紹介…

いる様子が伺えます。【概要】 ■断面作製方法・ミクロトームで作製・フレームから取り外したレンズを小さくカットし埋め込み樹脂に包埋・その後、ミクロトームにて断面を作製し光学顕微鏡観察、SEM観察、　EDX分析を実施 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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アルミ溶接部の観察

アルミ溶接部の観察事例をご紹介。X線透視・CT検査による内部観察から、…

非破壊検査・X線透視観察を実施・溶接部の内部にボイドが観察された ■X線CTによる内部観察・非破壊検査・X線CT観察を実施・ボイドは、溶接中央部付近に位置していることを確認 ■光学顕微鏡・卓上SEMによる断面観察・機械研磨・薬液エッチング試料に合った断面作製で、より鮮明に観察が可能です。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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