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18件 - メーカー・取り扱い企業
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PR【地下/二重壁 】セメント板・ブロック塀と代替可能な地下二重壁。下地不…
『スタイロガルバ』は、地下空間の湧水対策用二重壁として意匠性、施工性、断熱性を兼ね備えたパネルです。 セメント板・コンクリートブロックの二重壁と代替でき、上下レールだけで自立し、 1枚で6mまで製作・設置が可能です。下地不要・パネルビス留め不要の施工方法の為、 工期短縮と省人施工を実現できます。 簡単かつスピーディな施工が実現するのに加えて、 芯材には高性能の断熱材を使用しており...
メーカー・取り扱い企業: スタイロ加工株式会社 東京営業部
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PR0.9~3mm厚の天然木エンドレステープ。家具・建具の木口用(無垢材の…
【特 長】 1)50m/100m巻のエンドレステープ(大量生産向き)なので基材の長さを選ばない。 2)突板積層品なので反り・ネジレが少なく、加工時の欠けも少ない。 3)突板グレードなので色・杢のバラツキが少ない。 4)最大150mm幅まで対応。巾木など木口材以外の用途にも活用可能です。(樹種により最大幅は異なります。) 5)特殊加工なしで曲げ半径300Rまで対応可能。(TR1:75R、T...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ニチモクファンシーマテリアル
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成膜加工・再生加工等、半導体ウェハサービスで新しい価値を創造します!
株式会社アイテスでは、ベアウェハやその加工にかかわるお客様の さまざまな課題を解決するお手伝いをしています。 ますます多様化する半導体ニーズに、ウェハ、成膜加工、再生加工 など前工程の分野で、専門性と優れた対応力でお応えいたします...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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さまざまな部品・材料の断面を受託加工作製します
アイテスでは電子部品、実装基板、半導体、化合物半導体、パワーデバイス、 フィルム、樹脂成形品、太陽パネル、液晶ガラスなど さまざまな部品・材料の断面を受託加工作製します。 また作製した断面の観察や分析を行い、不良解析や出来栄え評価などを 受託分析いたします。 【サービス一覧】 ■機械研磨 ■CP加工 ■ミクロトーム ■FIB加工 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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クロスセクションポリッシャー(CP)法による断面観察サービス
高い加工精度と広い加工領域を実現!冷却機能でダメージを軽減しながらの加…
CP法は、機械研磨法に比べ、研磨によるダメージがない状態で断面を 観察することが可能です。 当社の冷却機能付トリプルイオンミリング装置は、3方向から照射する イオンビームにより、高い加工精度と広い加工領域を実現。 熱に弱い材料の場合には冷却機能でダメージを軽減しながらの加工も可能です。 【特長】 ■加工幅約4mm/加工深さ約1mmと広範囲での加工が可能 ■硬軟材にお...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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ソフトマテリアルの断面作製も実現!Auto Slice&Viewで3D…
光素子といった半導体デバイスや MLCCなどの電子部品からソフトマテリアルといった多岐にわたる硬軟材料の 断面観察・分析を高スループットで実現。 最大100nAの質の良いビームにより、大面積を高速加工できるほか、 FIBを低加速で仕上げることによりダメージ層の少ない高品質の試料作製が 可能です。 【Helios 5 UCの主な特長】 ■高速・大面積FIB加工 ■低加速仕上げによるダメージ層低減...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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FIB加工をリアルタイムで観察しながら断面観察が可能です。
半導体デバイス、MEMS、TFTトランジスタなど ナノスケールで製造されるエレクトロニクス製品の構造解析を クロスビームFIBによる断面観察で行います。 1)FIB加工をリアルタイムで観察できるため目的の箇所を確実に捉えます。 2)2つの二次電子検出器(In-Lens/チャンバーSE)により試料から様々な情報が得られます。 3)加工用FIBと観察用低加速SEM...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします…
。 Si半導体だけでなく、話題のワイドバンドギャップ半導体も対応可能です。 【特長】 ■OBIRCH解析ではSiだけでなく、SiCやGaNデバイスにも対応 ■表裏どちらからでもFIB加工可能 ■PN接合部に形成された空乏層を可視化 ■EDS、EELS分析といった元素分析も対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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最大8インチMEMSラインを有するオムロン野洲事業所にてウェハ工程の試…
こののたび当社では、MEMS加工サービス/MEMS ファウンドリサービスを開始いたしました。国内最大規模の8インチMEMSラインを有するオムロン 野洲事業所(滋賀県野洲市)にてウェハ工程の試作から量産までお客様の様々なご要望にお応...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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PETとEVAを複合させることによる効果を解説!ラミネートフィルムを用…
『ラミネートフィルム』は透明性の高い材料を用いることで、印刷物の 視認性を保持しつつ、その表示面を保護する目的で様々な業界で使用されます。 加工の際は、熱圧着を行うので、分子の状態は加工前に比べて 変化していることが想定されます。 今回は、ラミネートフィルムに対して、熱を加えた条件と加えていない条件を 比較して、製品に残留する応力...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・…
低倍最大視野:6.5mm角 ・特定位置精度: ±0.3um、試料厚1.5um~0.1um ・機械研磨SEM観察: 大きな破壊箇所・異物・広範囲の観察 ・拡散層観察: TEM試料加工前に不良箇所近傍にて観察可能 構造により前処理が必要な場合あり ・FIB-SEM観察: クラック・形状異常・拡散層観察(~×50k) ・断面TEM観察: ゲート酸化膜の破...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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パワーデバイスをあらゆる角度から徹底評価、検証します
決する力 知識と技術でかいけつに導くコンサルティング スピード対応でお客様スケジュールを支援 ■つきとめる力 故障個所をピンポイントし可視化する技能 深い洞察力と高度かつ繊細な試料加工技術 ■特化した設備 最高180℃での液槽熱衝撃試験 パワー半導体に必須のパワーサイクル試験...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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材料構造・材料特性の解析や、不具合、劣化現象なども様々な分析手法から考…
晶化度が高い ・透明度は低い ・機械強度、耐熱性、耐薬品性に優れている ■低密度ポリエチレン(LDPE) ・枝分かれ構造が多い ・結晶化度が低い ・透明度が高い ・柔らかく加工性に優れている ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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SiCデバイスの前加工→リーク箇所特定→物理解析/成分分析までスルー対…
当社では、『SiCデバイスの裏⾯発光解析』を行っております。 SiCは従来のSi半導体と比べ、エネルギーロスの少ない パワーデバイスであり注目を集めていますが、Si半導体とは 物性が異なるため、故障解析も新たな手法が必要となります。 SiC MOSFET裏面発光解析事例では、海外製SiC MOSFETをESDにより、 G-(D,S)間リークを作製、発光解析にて、リーク箇所を示す多...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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TEM(透過型電子顕微鏡)は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析…
ッション発光にて特定した故障部位は FIBにより薄片化しながら観察します。 ■電子の透過力の大きい加速電圧400kVのTEMにて 故障部位を試料厚内に閉じ込めた状態での透過観察とFIB加工を繰り返し 最適な像を得ることができます。 ■TEM像倍率をあらかじめ校正しておき 2%以下の誤差で測長することもできます。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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機械研磨法に化学エッチング、イオンミリング、FIB加工を施すことにより…
電子部品の接合部は基板全体の信頼性に大きな影響を及ぼします。 特にはんだ接合部においては、形状のみならず、 金属組織の観察が重要になります。...■基板接合部機械研磨 +化学エッチング +イオンミリング 光学顕微鏡、SEMによる観察 ■FIBによる断面作成 SEMによる観察...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察
SiCパワーデバイスでも、特定箇所の断面作製、拡散層の形状観察、さらに…
電子(SE2)をInlens検出器で検出。 FIB断面でのSEM観察で拡散層の形状が可視化できます。 【EBICを用いた解析手法】 ■PEM/OBIRCH 不良箇所特定 ■FIB断面加工 ■低加速SEM ■EBIC解析 ■TEM ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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熱間成形角形鋼管『スーパーホットコラム』
SN材と同等な材料特性を有すSHCスタンダード
ナカジマ鋼管株式会社