株式会社アイテス

Cuワイヤボンディングの接合界面について

Cuワイヤボンディングの特長や断面作製法の選択などについてご紹介しています！

当資料は、半導体パッケージにおけるCuワイヤボンディングの 接合界面について解説しています。 目的とワイヤ接合をはじめ、Cuワイヤボンディングの特長や 接合中央部のCu-Al化合物と微小ボイ…

sMIMによる半導体拡散層の解析

濃度の変化をCの変化として検出！dC／dV信号も取得でき、拡散層の解析に有効です

株式会社アイテスでは、sMIMによる半導体拡散層の解析を行っております。 マイクロ波インピーダンス顕微鏡(sMIM)は、ドーパント濃度に 線形な相関を持つ信号が特長です。 sMIM(エス…

ウェハー加工

「評価用パターンウェハー」「シリコンウェハー販売」「化合物半導体」のご紹介！小ロットからカスタマイズオーダーまで対応可能

株式会社アイテスが取り扱っている「評価用パターンウェハー」「シリコンウェハー販売」「化合物半導体」をご紹介します。「評価用パターンウェハー」は、CMP/成膜装置/洗浄装置/各種素材の評価用として、様々…

【資料】太陽電池の不具合と解析事例

様々なアプローチにより不具合解析・分析を行った事例を掲載しています！

当資料は、太陽電池モジュールの不具合の紹介と、その解析に当たって 様々な断面加工を行い、観察・分析を行った事例を劣化要因とともに 掲載しています。 「太陽電池の基本構造」をはじめ「非破壊解析…

接合・接着・実装部の不良解析をはじめとした解析技術のあり方

分析・解析技術をどのような観点から進めるべきかをご紹介！

当社では、電子部品ばかりではなく無機・有機素材をはじめ、多くの製品、 部品、素材を故障・不良解析、構造解析、良品解析、信頼性評価といった面で お客様の課題・問題解決に向けてサポートしています。 …

【資料】イオンマイグレーション評価試験

イオンマイグレーション評価の概略及び試験実施内容を掲載しています！

信頼性評価手法の1つであるイオンマイグレーション評価試験は、製品の 軽短小への推移によって事前評価としてますます重要な試験となってきています。 当資料では、当社での評価試験の一例を使用してイオ…

【成分分析】GC-MS ガスクロマトグラフ質量分析計

新しく装置を導入！試料に含まれる成分の定性・定量を目的とした分析手法をご紹介

島津製作所社製の「GC-MS ガスクロマトグラフ質量分析計」を 導入しました。 試料に含まれる成分の定性・定量を目的とした分析手法の一つで、 部品・部材・残存溶媒や添加剤など、揮発性有機物の…

X線透視・CT検査装置『Cheetah EVO』

実装基板、電子部品を始め様々な部品、部材の初期観察に有効な検査装置

『Cheetah EVO』は、リフローシュミレータも搭載されているため、はんだ付け時のボイドの挙動などリアルタイムで観察することができるX線透視・CT検査装置です。リフローの条件出しやはんだの選定など…

【電子機器修理】産業用PC

代替機販売もご相談ください！FAN回転不良などの不具合に対応！

アイテスは、40年来のパソコン・システムボード修理実績を活かし、 メーカーサポート・保証・保守切れの電子機器製品を対象に故障箇所の 特定・修理を行っています。 "制御パソコンが故障…

【電子機器修理】サーボアンプ・サーボモーター

その他の産業機器もご相談ください！電解コンデンサ不良などの不具合に対応！

アイテスは、40年来のパソコン・システムボード修理実績を活かし、 メーカーサポート・保証・保守切れの電子機器製品を対象に故障箇所の 特定・修理を行っています。 "サーボモーターが動…

【電子機器修理】パネルコンピュータ

代替機販売もお任せください！液晶表示不良・破損などの不具合に対応！

アイテスは、40年来のパソコン・システムボード修理実績を活かし、 メーカーサポート・保証・保守切れの電子機器製品を対象に故障箇所の 特定・修理を行っています。 "パネコンが故障して…

信頼性のトータルサポートサービス

環境試験をはじめ、非破壊観察や電気特性測定などを行っております

アイテスでは、JIS・JEDEC・MIL等の標準規格に準じた環境試験装置を使用し、 様々なエレクトロニクス製品、部品および材料の信頼性評価受託試験を承ります。 電気試験をはじめ、非破壊観察やパ…

化学分析のトータルサポートサービス

表面分析・異物分析・有機組成分析を行っております

アイテスでは有機・無機物の分析、異物、表面分析等、目的・試料に適した 受託分析メニューをご提案・実施いたします。 この部門では、高度なサンプリング技術を用いて微小異物の成分分析を行う 微小異…

断面研磨・加工・観察・分析のトータルサポートサービス

さまざまな部品・材料の断面を受託加工作製します

アイテスでは電子部品、実装基板、半導体、化合物半導体、パワーデバイス、 フィルム、樹脂成形品、太陽パネル、液晶ガラスなど さまざまな部品・材料の断面を受託加工作製します。 また作製した断面の…

太陽光パネル保守・メンテナンスに　ソラメンテ　SC-200

CISアダプター SC-200は、ソラメンテ-iSのセンサー部を取り換えるだけでCIS薄膜パネルの高速点検が可能に。

CIS薄膜パネル点検で、PVケーブルを取り外してチェックする煩わしさが なくなりました。発電中にパネル表面から高速チェック、CIS点検の効率が飛躍的に向上します。 ソラメンテ-iS SI-20…

太陽光パネル保守・メンテナンスに　ソラメンテ　SR-200

ソラメンテ SR-200で、連系前のパネル点検が可能に

竣工検査や停電点検などの送電前・送電停止時に故障パネルを発見するソラメンテの新機能。SZ-200とSI-200が連携する新点検方式。 点検方法 ソラメンテ-Z（SZ-200）とソラメンテ-i…

太陽光パネル保守・メンテナンスに　ソラメンテ　SI-200

ソーラーパネルチェッカー SI-200は、発電中に故障パネルを簡単に発見できます。

ソーラーパネルチェッカー　ソラメンテ-iS SI-200は、発電中のパネル表面にセンサーをあて、クラスタ故障*が発見できる点検装置です。インターコネクタに流れる発電電流をセンサーで感知し音階とLEDレ…

太陽光パネル保守・メンテナンスに　ソラメンテ　SZ-200

ストリングチェッカー SZ-200は、太陽光パネル故障をストリング単位で特定できます。

ストリングチェッカー　ソラメンテ-Z SZ-200は、接続箱の各ストリングP/N端子をプローブし、故障パネルのあるストリングを検出する点検装置です。特殊な検出信号をストリング回路に印加し、開放電圧と直…

ウェハー加工サービス

成膜加工・再生加工等、半導体ウェハサービスで新しい価値を創造します！

株式会社アイテスでは、ベアウェハやその加工にかかわるお客様の さまざまな課題を解決するお手伝いをしています。 ますます多様化する半導体ニーズに、ウェハ、成膜加工、再生加工 など前工程の分野で…

顕微EL/PLイメージング装置　PVX1000+POPLI-μ

太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微PL観測

PVX1000+POPLI-μは、太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微鏡でフォトルミネセンス観測ができます。PERCであれば、PL強度で個々のLocal-BSFの評価、レーザーコンタク…

EL/PLイメージング装置　PVX1000+POPLI-Octa

太陽電池セル製造工程中のWaferをフォトルミネセンスで評価できます。

PVX1000+POPLI-Octaは、太陽電池セル製造工程中のWaferをフォトルミネセンスで評価できます。熱拡散後のPN接合層や、AR層成膜のパッシベーション効果や表面汚染、更には裏面絶縁層の保護…

太陽電池EL画像測定装置　PVX330

太陽電池の潜在欠陥を鮮明に写しだす業界実質標準、EL 画像 検査装置PVX330

2400万画素の高精細カメラ オートフォーカス 電源自動制御 大型モジュールの一括測定に対応 簡単しかも高性能な画像処理ソフト 従来機の1/3という低価格を実現 無料サンプル評価デモ受…

太陽電池　PL イメージングユニット　POPLI-3C

太陽電池6インチセル対応PL励起用光源。EL画像検査装置PVXシリーズと組み合わせることで、PL観察が可能になります。

無料サンプル評価デモ受付中。 POPLIは、EL画像検査装置PVXに、PLイメージングユニットをオプションとして加え、PVXの検出機能とソフトウェアを活用することにより、鮮明なPL撮像と経済性を…

【法人・企業向け】産業用パソコン修理サービス

メーカーのサポート期間が終了してしまいお困りのお客様へ！

弊社の長年のパソコン修理実績と独自の手法で生産設備用パソコンや産業装置用パソコン、パネルコンピュータ(パネコン)などの修理延命サービスを行っております。その他にも基板修理、電源修理、モニタ修理、タッチ…

液晶ディスプレイの信頼性トータル・ソリューション

海外製液晶ディスプレイの信頼性に問題を抱えるお客様のために、信頼性試験から故障解析、材料分析までトータルで支援します。

信頼性の低い液晶ディスプレイが市場で問題を起こしています。 アイテスでは豊富な経験と最新設備により、信頼性試験のデザインから 試験前後の目視検査を行い、お客様の抱える信頼性問題を解決します。 さ…

TOF-SIMSによる表面分析

TOF-SIMSは軽元素、無機物から分子量の大きい有機物まで分析可能です。

■TOF-SIMS　3つの分析モード ・高分解能質量スペクトル ・深さ方向分析 ・表面の面分析

微小異物分析のためのサンプリング技術

エレクトロニクス製品の歩留に大きな影響を与える異物について、各種サンプリング技術を駆使して迅速な分析結果をご報告します。

■多層膜中異物の特殊サンプリング技術 ・基板上金属膜に埋もれた異物 　金属膜エッチング⇒Siウエハに載せ替え⇒FT-IR分析 ・多層薄膜中の異物 　表面層の切り取り⇒Siウエハに載せ替…

イメージング顕微FT-IRによる微小異物の分析

最小5um以上あれば異物のIRデータが取得できます。

■サービス概要 １．顕微ATR法 　　約5um以上あれば異物のIRデータ取得可能 ２．面分布像 　　有機物の面内分布の観察が可能 ３．時間変化 　　秒単位で変化する有機物の状態…

海外製部品・製品 評価サービス

海外製部品・製品の中には品質上問題のあるものも含まれています。これらに対して信頼性試験・評価試験の品質評価サービスを提供します。

海外製部品・製品の中には、初期動作は問題なくても、 短期間に不具合を引き起こし、故障破壊に至るものもあります。 海外製品を採用・使用される前に、アイテスの 部品・製品 品質評価サービスをご検討下…

ESD（CDM）試験受託サービス

デバイス帯電モデル（Charged　Device　Model）のESDに対する耐性を評価する試験サービスを提供いたします。

■ 各規格波形　JEDEC、JEITA（EIAJ)、AEC　に対し 　ユニット交換で対応します。 ■ 直接チャージ法（Direct CDM）、電界誘導法（Field Induced CDM） …

ESD（HBM・MM）試験受託サービス

半導体製品およびそれを含む電子部品の信頼性として重要な、ESD（静電気破壊）に対する耐性を評価する試験サービスを提供いたします。

■ 512ピンまでのICモジュール、電子部品、サブシステムなどの製品に対応します。 ■ ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を提供します。 ■ お…

ラッチアップ試験受託サービス

CMOS ICおよびそれを含む半導体製品のラッチアップ破壊に対する耐性を評価する、ラッチアップ試験サービスをご提供いたします。

■ 512ピンまでのICモジュール、電子部品、サブシステムなどの製品に対応します。 ■ JEDEC、JEITA、AEC等の国内外の主要規格に対応した試験を提供します。 ■ お客様のご要望や目的…

信頼性保証サービスのご紹介

JIS・JEDEC・MIL等の標準規格に準じ、様々なエレクトロニクス製品、部品および材料の信頼性評価試験を承ります。

■高度加速寿命試験　5台 ■冷熱衝撃試験　24台 ■恒温恒湿試験　22台 ■液槽冷熱衝撃試験　3台 ■高温保存試験 ■耐ホットオイル評価試験 ■絶縁抵抗連続モニター評価 ■導通抵抗連続モ…

クロスビームFIBによる断面観察

FIB加工をリアルタイムで観察しながら断面観察が可能です。

半導体デバイス、MEMS、TFTなどナノスケールの精度で製造される エレクトロニクス製品の構造解析を行うための新たな手法： クロスビームFIBにより断面観察をご提案いたします。

実装部品接合部の解析

機械研磨法に化学エッチング、イオンミリング、FIB加工を施すことにより、鉛フリー半田を始め、各種金属接合部の解析を行います。

電子部品の接合部は基板全体の信頼性に大きな影響を及ぼします。 特にはんだ接合部においては、形状のみならず、 金属組織の観察が重要になります。

TEMによる電子部品・材料の解析

TEM（透過型電子顕微鏡）は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析、結晶構造の解析等や材料評価の幅広い要求にお応えします。

TEMは高倍観察のみならず、EDS、EELSによる元素分析、 あるいは電子線回折による結晶構造、面方位、格子定数等の 解析を行う事ができます。

パワーデバイスの故障解析

ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・観察を行います。

あらゆるサイズ・形状のダイオード・MOS FET・IGBT等の パワーデバイスに対し最適な前処理を行い 裏面IR-OBIRCH解析や裏面発光解析により不良箇所を特定し観察いたします。 ■解析…

アイテス　装置一覧

アイテスの解析・評価・試験サービスに使用する装置一覧です

アイテスは、最先端産業分野でお客様の課題に真摯に取り組む 解決提案型企業です。 各種保有装置を駆使し、最適なソリューションを提供します。 ■製品解析/不良解析/故障解析 　形態観察・電気特…

LEDのトータルサポートサービス

LEDをあらゆる角度から徹底評価、検証します

■総合力 　信頼性試験から電気特性測定、光学特性測定、さらに分析・解析までの一貫評価耐性 ■充実した解析手法 　・順方向バイアス解析/逆方向バイアス解析 　・可視～赤外まで検出 　・発光解析…

パワーデバイスのトータルソリューションサービス

パワーデバイスをあらゆる角度から徹底評価、検証します

■解決する力 　知識と技術でかいけつに導くコンサルティング 　スピード対応でお客様スケジュールを支援 ■つきとめる力 　故障個所をピンポイントし可視化する技能 　深い洞察力と高度かつ繊細な試…

ESD/ラッチアップ試験受託サービス

ESD/ラッチアップ試験受託サービス

半導体デバイスやそれを含む電子部品の信頼性として重要な、ESD破壊およびラッチアップによる破壊に対する耐性を評価する試験サービスを提供します。 ■ 512ピンまでのICモジュール、電子部品、サ…

半導体製品の信頼性トータル・ソリューション

半導体製品に関わる部品・装置・材料の開発評価の困難をサポート

【試験・評価・分析・解析】 　●信頼性試験 　　■温度サイクル試験 　　■冷熱衝撃試験 　　■高温保存試験 　　■高度加速寿命試験 　　■プリコンディショニング 　　■ホットオイル試験 …

In-Situ常時測定 信頼性評価試験サービス

In-Situ常時測定 信頼性評価試験サービス

In-Situ常時測定 信頼性評価試験では、特性を測定しながら、ストレスを印加し信頼性評価試験を行います。 ●正確な故障時間の把握が可能 　決まった時間にストレス環境より取り出して測定するリ…

品質技術トータルソリューション

製品企画段階から性能、信頼性、廃棄、リサイクルまで考慮した品質への取組に対し、技術と経験を基に迅速で的確な解決策を提供。

●製品ライフサイクル全般をカバーする総合的な技術サービス 　電子部品の品質向上のために必要な開発時の原材料評価、信頼性試験と結果解析、出荷後の故障解析と結果の開発・製造現場へのタイムリーなフィード…