株式会社アイテス

EBSD法によるCu結晶解析

Cu板における圧縮前後での変化を観察！圧縮前後の結晶粒径の半化を比較できます

EBSD(電子線後方散乱回折)法は、電子線照射により得られた反射電子回折 パターンから個々の結晶の方位情報を取得しマップ化したもので、さらに 定量的、統計的なデータとして結晶方位(配向性)のみなら…

EBSD解析

結晶方位や結晶粒径の変化が解析可能！EBSD(電子線後方散乱回折)法をご紹介いたします

EBSD法とは、試料の持つ結晶構造の情報を基に連続的に取り込んだパターン の結晶方位を算出することにより、結晶粒の分布、集合組織や結晶相分布を 解析する手法です。 金属やセラミック等の結晶質…

【EBSDによる結晶解析】はんだ接合部における金属間化合物

はんだ接合部における金属間化合物の結晶解析例をご紹介いたします

SEM像、Phaseマップ、結晶粒ごとにHigh lightするCu6Sn5のIQマップ、 粒界の回転角をHigh lightするCu6Sn5のIQマップを用いて、 EBSD法による結晶を解析しま…

【EBSDによる結晶解析】BGA

EBSD法により、結晶状態や残留応力の推測が可能！BGAの解析例をご紹介します

BGA(Ball Grid Array)の解析例をご紹介いたします。 顕微鏡による観察では、光学顕微鏡とSEMを使用。 EBSD法による結晶解析では、Phaseマップ、SnのGrainマッ…

【EBSDによる解析例】鉄板

グラフに現れた特長を可視化！結晶サイズの分布や、結晶方位の配向性を確認できます

鉄板(Fe)について、EBSDによる解析例を紹介致します。 ヒストグラムのグラデーションと対応する結晶粒分布 map、 IPF map、結晶粒分布などを用いて、EBSDにて結晶構造を観察。 …

【EBSDによる解析例】高融点はんだ

EBSDにて結晶構造を観察！それぞれの金属で各データの取得ができます

高融点はんだ(Snを少量含むPb基はんだ)について、EBSDによる 解析例を紹介致します。 EBSD法により結晶粒分布や、残留応力を推測することが可能。 また、結晶構造が異なる金属につい…

【EBSDによる解析例】ビア

EBSD法により結晶サイズの分布や、残留応力を推測することができます

積層基板で形成されるビア(Cu)について、EBSDによる解析例を 紹介致します。 EBSD法により結晶サイズの分布や、残留応力を推測することが可能。 また、マップにHigh lightす…

【EBSDによる解析例】パイプ

パイプ(オーステナイト)について、EBSDによる解析例を紹介致します

株式会社アイテスは、パイプのEBSDによる解析を実施しています。 EBSD法により結晶サイズの分布を確認することや、配向性を 確認することが可能。 また、マップにHigh lightする…

【EBSDによる解析例】ネジ

ネジ(Cu2Zn)について、EBSDによる解析例をご紹介致します。

EBSD法により結晶サイズの分布や、結晶方位の配向性を確認する ことができます。 今回はネジの谷部分の方位差が大きいことがわかり、残留応力が 大きいことが推測されます。 また、ネジ表面…

【EBSDによる解析例】Chip

Al配線に配向性が見られた、EBSDによる解析例を紹介いたします

Chip表面の配線(Al)について、EBSDによる解析例を紹介いたします。 パッケージ樹脂を薬液/RIEにより開封し、EBSDによるチップ表面の Alパターンの解析を実施。 その結果、A…

信頼性試験に伴う経時変化観察

変化観察に応用でき、追加解析も対応！時系列かつ非破壊で対象物を評価いたします

信頼性試験の間、試料は刻々と変化します。 「どの時点でクラックが入ったのか」「劣化の進行はどのように 進んでいくのか」「初期状態とどれくらい変化したか確認したい」 ということはございませんか…

XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析

非破壊でnmオーダーの薄膜の深さ方向分析が可能！分析事例もご紹介いたします

株式会社アイテスでは、XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析を 行っております。 サンプルとXPSの光電子検出器との角度を変えることにより、光電子の 検出深さを変えることが可能。 これ…

【化学反応機構研究所】製造過程の材料特性に悩んでいる方必見！

表面のこの変色の理由は？なぜこんな所にヒビが入っているの？等の課題は、電子、原子、分子、化学反応メカニズムの視点で解決します！

製品の製造過程、および使⽤時において、たくさんの不具合が発⽣します。その中でも材料特性に関わるような課題で、「おそらく材料が原因なんだろうけど、何をどうすればよいのかなあ」、とお悩みの方々には、電子、…

断面観察前処理(試料切断・樹脂包埋)

バンドソーなどの試料切断用の装置を使用した断面観察前処理についてご紹介します！

株式会社アイテスが行う、断面観察前処理(試料切断・樹脂包埋)について ご紹介します。 大型の基板や厚みのある部品を切断するのに適したバンドソー 「HOZAN K-100」をはじめ、アイソメッ…

ワイヤーソーによる切断加工

断面の保存が可能！ワイヤーソーによる精密カットで試料を分割する事で個別に断面作製が行えます

株式会社アイテスの、ワイヤーソーによる切断加工についてご紹介します。 単体試料で行う複数回の断面作製もワイヤーソーなら切り分け分割が可能。 削り進めないので観察や分析なども再度行うことができま…

アイソメットによるスライス加工

作製した断面をそのまま残しておくことが可能なスライス加工をご紹介します！

株式会社アイテスは、アイソメットによるスライス加工を行っています。 複数列あるコネクタピンの全てを断面観察したい場合、削り進めて次の列へ… という手順が通常ですが、スライス加工を行えば、作製し…

顕微ラマンによる多層材料分析

ラマン分光法による深さ方向への測定！多層膜の表面から各層の材料分析が可能です

当社の「顕微ラマン分光光度計」は共焦点光学系が採用されており、 顕微鏡のように深さ方向に焦点位置を変化させることで、多層膜の表面から 各層の材料分析が可能です。 顕微ラマン分光光度系の共焦点…

サービス『ブラウン管モニターから液晶ディスプレイへの置き換え』

工作機械や装置のブラウン管モニターの表示トラブルに困っている企業様必見、装置更新より低コスト&短納期。

当社では、工作機械などのブラウン管（CRT）モニターを 液晶ディスプレイ（LCD）へと置き換えるサービスを提供しています。 「ブラウン管モニターが点かない」「モニター部分だけを修理したい」 …

液晶成分のGCMS分析

ガスクロマトグラフィー質量分析法「GC-MS」による液晶パネルの成分比較を掲載！

当資料は、ガスクロマトグラフィー質量分析法「GC-MS」によるPCモニター& デジタル時計の成分比較をご紹介しています。 液晶ディスプレイには、小さな有機物(液晶分子)が入っています。…

顕微ラマンによる樹脂材料結晶化度分析

顕微ラマンを用いることにより微細な範囲(1μm～)の結晶化度評価が可能！

株式会社アイテスでは、分析解析・信頼性評価サービス「顕微ラマンによる 樹脂材料結晶化度分析」を行っております。 顕微ラマン分光光度計によって得られるスペクトルから、ピークの半値幅の 違いによ…

AFM（原子間力顕微鏡）

微小プローブによる高分解能でのイメージング！ナノレベルの構造解析を実現いたします

当社では、試料表面を微小プローブで走査し、ナノレベルの 構造解析を実現いたします。 「形状測定（タッピングモード）」では、周期的に振動させた プローブで試料表面を軽くタッピングし、表面形状を…

微量汚染物のTOF-SIMS分析

TOF-SIMSの分析感度はppmオーダーと高感度であるため、微量汚染の分析に有効です！

再現実験により、Siウエハ上に水玉状の汚染物を作成した事例のご紹介です。 同じ位置でSEM-EDXとTOFSIMSによる測定を行い、イメージマップの比較を 行いました。 TOF-SIMS…

有機物のTOF-SIMS分析

有機物分析の例としてポリエチレングリコールを分析した事例をご紹介いたします

TOF-SIMSは元素及び有機物の分子、フラグメントイオンの検出が 可能であり、有機物の分析にも有効です。有機物分析の例として ポリエチレングリコールを分析した事例をご紹介します。 二次イオ…

TMA（熱機械測定）

複数の測定モードで熱膨張、熱収縮、ガラス転移温度の情報が得られます！

『TMA（熱機械測定）』は、試料に一定の荷重をかけた状態で試料温度を 変化させ、試料の寸法変化を測定する手法です。 材料の熱膨張、熱収縮、ガラス転移温度などの情報が得られます。 また、温…

TG-DTA（熱重量示差熱分析）

試料と基準物質の温度差をDTA信号として出力！温度を一定のプログラムによって変化させる

『TG-DTA（熱重量示差熱分析）』は、試料の温度を一定のプログラムによって 変化させながら、試料の重量測定（TG）と試料と基準物質の温度差の測定 （示差熱測定）（DTA）を温度の関数として同時に…

DSC（示差走査熱量分析）

試料の吸熱/発熱の度合いを観察！温度範囲は-90℃～550℃まで可能です

『DSC（示差走査熱量分析）』は、試料の温度変化によって発生した 基準物質との温度差から、熱量差を求め、試料の吸熱/発熱の度合いを 観察する分析手法です。 温度範囲は-90℃～550℃、必要…

DMA（動的粘弾性測定）

両持ち梁曲げ、自由支持3点曲げなど多様な測定モードをご用意しております！

『DMA（動的粘弾性測定）』は、高分子材料に周期的な振動荷重を与え、 生じる応力と位相差から、弾性や粘性を温度の関数として測定する分析です。 ガラス転移、緩和など高分子の分子運動や分子構造に関…

【事例集】X線透視・CT検査装置

X線透視観察や斜めCT観察の「BGAはんだクラック解析事例」「表面実装LED」「チップ抵抗の観察事例」等を多数掲載！

当資料では、当社で行ったX線透視やCT検査装置のさまざまな解析事例をご紹介しております。X線透視観察や斜めCT観察の「BGAはんだクラック解析事例」をはじめ、「表面実装LED」や「チップ抵抗の観察事例…

【資料】液晶材料とその分析技術

分子構造から解析する、アイテスの技術力を図や表とともにわかりやすく解説！

当資料では、分子構造解析のための分析手法として一例をご紹介しています。 液晶高分子（LCP）をはじめ、IRによる構造解析やラマンによる構造解析、 GC-MS分析による低分子液晶（for LCD…

【X線透視・CT検査装置】装置外観と主なスペック

YXLON製マルチフォーカスCheetah EVO導入！電子部品など、様々な用途に活用できます

X線観察は、非破壊検査の1手法であり、解析・分析を行う上で始めに行う検査で、 実装基板、電子部品を始め、様々な部品、部材の初期観察に有効です。 またCT検査では、3次元的に構造を捉えることがで…

【X線透視・CT検査装置】透過観察と画像処理技術の併用事例

画像処理により正常品画像と不良品画像の差分を検出！透過観察と画像処理技術の併用事例をご紹介

X線透視・CT検査装置による透過観察と画像処理技術の併用事例をご紹介します。 正常基板の透過X線像や不良基板の透過X線像では、配線が複雑に張り巡らされ 一見しても異常部は見つかりませんでしたが…

【X線透視・CT検査装置】親知らずの観察事例

【動画あり】親知らず(第三大臼歯)のX線CT像(直交CT)をご紹介します

親知らず(第三大臼歯)をX線CTで観察した事例をご紹介します。 10年以上前、撮影者の抜歯した親知らずをX線CTで観察。 X線透視像に比べ、歯の最表面にあるエナメル質とその下の象牙質が …

【Cheetah EVO附属機能】リフローシュミレータ

【動画あり】加温の様子をリアルタイムで観察可能！Cheetah EVOの附属機能をご紹介します

当社が導入したYXLON製「Cheetah EVO」の付属機能をご紹介します。 「リフローシュミレータ」では、はんだ付け時のボイドの挙動など、 リアルタイムで観察が可能です。 リフローの…

【X線透視・CT検査装置】マイクロフォンの観察事例

【動画あり】X線透視観察＆直交CT観察！マイクロフォンの観察事例をご紹介します

マイクロフォン部品をX線透視観察＆直交X線CTで観察した事例をご紹介します。 MEMSチップやSiチップは透けてしまうので、微かにしか観察できません。 しかし、X線透視像では、ワイヤーボンディ…

【X線透視・CT検査装置】チップ抵抗の観察事例

立体的に観察ができるため解析に有効なCT観察！チップ抵抗の観察事例をご紹介します

X線透視・CT検査装置によるチップ抵抗の観察事例をご紹介します。 チップ抵抗は、セラミックスの表面に薄膜状の金属膜(抵抗体)が形成された構造で、 X線像で見られるL字状の線は抵抗値を調整するた…

【X線透視・CT検査装置】LED不良観察事例(X線透視観察)

【動画あり】不良発生の瞬間を捉えました！LEDのX線観察事例をご紹介します

表面実装型のLEDが過負荷で損傷する瞬間をX線透視観察で捉えた事例を ご紹介します。 表面実装型のLEDを通電した状態で、電圧、電流を定格値から徐々に 上昇させ、過負荷により不点灯となった過…

【X線透視・CT検査装置】BGAはんだクラック解析事例

X線透視観察・斜めCT観察・直交CT観察など！BGAはんだクラック解析事例のご紹介

X線透視・CT検査装置によるBGAはんだクラック解析事例をご紹介します。 電気的にオープンとなった基板のBGA接続部をX線透視で観察したところ、 BGAの接続部にクラックが発生している様子が確…

X線透視・CT検査装置『インダクタコイルの観察事例』

【比較画像あり】内部の形状異常も非破壊観察可能！X線CTと断面SEMを比較しました

インダクタコイルの観察（直交CT観察＋断面観察）事例をご紹介します。 動作不良が発⽣したインダクタコイルの中をX線CTで観察。 螺旋状に形成された配線の所々に異常形状が発⽣している様⼦が …

X線透視・CT検査装置『IC型コイルの観察事例』

X線CT観察によりコイル配線の巻具合なども判断可能！ X線透過観察とは異なったIC型コイルの観察事例をご紹介

IC型コイルの観察事例をご紹介します。 X線による観察では、目的に応じた手法を用いる事で内部の構造を明確に 捉える事ができます。 透過観察では金属異物などを素早く捉える事ができ、CT観察…

【評価用パターンウェハー】小ロット～カスタマイズオーダーまで対応

数枚の試作加工でも問題無く受け付けており、マスクの設計から断面の寸法測定に至るまで、非常に柔軟な対応に定評があります。

株式会社アイテスが取り扱っている「評価用パターンウェハー」「シリコンウェハー販売」「化合物半導体」をご紹介します。「評価用パターンウェハー」は、CMP/成膜装置/洗浄装置/各種素材の評価用として、様々…

電子部品の信頼性試験・分析・解析を一気通貫で対応します！

過渡熱測定可能パワーサイクル試験、カスタマイズ発光/OBIRCH解析装置で、熟練の技術集団がパワーデバイスを徹底評価・解析！

アイテスでは信頼性試験、分析・解析などパワーデバイスのトータルソリューションサービスを行っております。過渡熱測定を同時に行える「パワーサイクル試験機」をはじめ、「化合物半導体の故障解析」「拡散層の濃度…

モジュール試作と熱抵抗評価

ダイアタッチやTIM材などの評価に好適！試作から評価まで対応致します

株式会社アイテスでは、『モジュール試作と熱抵抗評価』を承っております。 パワーデバイス及びパワーデバイスで使用する材料の評価において、実際に デバイスを組み立てての熱抵抗測定は、実力の把握に有…

パワーサイクル試験と特性評価

パワーサイクル試験装置を使用したパワーサイクル試験の受託！故障解析・分析と合わせ品質向上に協力致します

株式会社アイテスでは、シーメンス製（メンター製）のパワーサイクル 試験装置を使用した、パワーサイクル試験の受託を行っています。 試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能です。 また…

ハイパワー恒温恒湿槽での環境試験

ハイパワー恒温恒湿槽を2台導入！車載用部品等の温度サイクル試験・温湿度サイクル試験に好適

株式会社アイテスでは、『ハイパワー恒温恒湿槽での環境試験』を 承っております。 最大15℃/分（-45⇔±155℃）の定速温度変化が可能。 温度勾配をコントロールしての温度サイクル試験が実施…

【資料】Cuワイヤボンディングの接合界面について

各種ワイヤボンディングや結果及び考察などを詳しく解説しています！

当資料は、半導体パッケージにおけるCuワイヤボンディングの 接合界面について掲載しています。 試料及び方法をはじめ、各種ワイヤボンディングや結果及び考察などを 図や写真と共に詳しく解説してい…