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59件 - メーカー・取り扱い企業
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PR大型台風・ゲリラ豪雨の浸水対策にKTXの止水板！工事も設置も簡単！なの…
『スーパー止水番2』は止水・速攻・強靭の各性能を備えた業界トップクラスの浸水対策用の止水板です。 NETIS取得のマグネット式止水板は誰でも簡単5秒設置！ シンプルな構造で新設・既設を問わず工事コストを抑えることができ、高性能なコンピューターで水圧を解析、軽さと丈夫さを兼ね備えています。 【KTX止水板の特長】 ■止水性能が高い 4L（h・m2）以下 JIS漏水量による等級Ws-5相当 ■止水...
メーカー・取り扱い企業： KTX株式会社 テクニカルセンター
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豪雨対策に！強化型プラスチック製 雨水貯留槽『ニュープラくん』
PR高強度化・軽量化を実現した雨水貯留構造体！組立後の実質空隙率は95％以…
『ニュープラくん』は、軽量かつ耐久性や強度にも優れた強化型プラスチック採用の 雨水貯留槽です。構造解析技術に基づいた独自設計・組立構造により、 一般的な再生PP樹脂製に比べて長期クリープ強度を向上させています。 組立後の実質空隙率は95％以上を確保し、高い貯留効果を発揮。 公共施設・商業施設・福祉施設・マンションなど幅広く活躍します。 【特長】 ■長期クリープ性能は（公社）雨水貯留浸透技術協会...
メーカー・取り扱い企業： 秩父ケミカル株式会社 本社
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ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・…
あらゆるサイズ・形状のダイオード・MOS FET・IGBT等の パワーデバイスに対し最適な前処理を行い 裏面IR-OBIRCH解析や裏面発光解析により不良箇所を特定し観察いたします。 ■解析の前処理－裏面研磨－ 各種サンプル形態に対応します。 Siチップサイズ：200um～15mm角 ■不良箇所特定－裏面I...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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点灯確認、パネル解体、光学顕微鏡観察により、不良発生箇所を絞り込みます…
不良現象の確認から原因の解明、詳細な不良解析まで 液晶パネルの不良診断メニューをご提供いたします。 初期解析では、現状確認(点灯試験)、パネル解体、光学顕微鏡観察、 不良症状に合わせて実施。 詳細解析では、初期解析での診断結果...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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良品と静電気（ESD）破壊品の輝度・特性の比較、EMS顕微鏡による発光…
当社では、静電破壊した橙色LEDの不良解析を行っております。 ESD試験にて破壊され、発光強度の低下したLEDはエミッション発光と IR-OBIRCH法を用いて解析し、不良現象を明らかにすることが可能です。 「良品と静電気（E...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします…
株式会社アイテスでは、パワー半導体の解析サービスを承っております。 当社は日本IBM野洲事業所の品質保証部門から1993年に分離独立して以来、 独自の分析・解析技術を培ってきました。 Si半導体だけでなく、話題のワイドバンド...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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LCD部品、製品の品質状態を確認！液晶パネルの各構造を当社の持つ分析手…
アイテスでは、LCD部品/製品の良品解析を行っており、当社の持つLCDの 知見から製品の品質状態を確認いたします。 対象パネルは、SEG-LCD,AM-LCD（a-Si TFT／LTPS TFT）,OLED 車載,モニター,モバ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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SiCデバイスの前加工→リーク箇所特定→物理解析/成分分析までスルー対…
当社では、『SiCデバイスの裏⾯発光解析』を行っております。 SiCは従来のSi半導体と比べ、エネルギーロスの少ない パワーデバイスであり注目を集めていますが、Si半導体とは 物性が異なるため、故障解析も新たな手法が必要となりま...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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屈曲部の配線に歪みが蓄積している個所などが分かる、EBSD解析をご紹介…
フレキシブル基板（FPC）のEBSD解析をご紹介します。 可動部や折り曲げ機構がある製品に使用されるフレキシブル基板について、 屈曲部と固定部でCu配線に違いがあるかEBSDによる確認を実施。 その結果、光学像では屈曲部と固...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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様々な形態の半導体で裏面研磨が可能！素子、不具合の様子の観察が出来ます
裏面OBIRCH/発光解析や裏面発光解析の前処理として各種形態のサンプルの 裏面研磨を行います。 これは、裏面から解析を行うため不可欠な前処理です。 裏面から解析することで、不良を保持したまま発光を検出できるだけで...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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パネル偏光板の劣化解析例を掲載！信頼性試験やHS-GCMS分析によるア…
ス、ポリビニルアルコール、 ポリエチレンテレフタレートなどを貼り合わせた多層フィルムで出来ています。 当資料では、信頼性試験後のパネル偏光板をHS-GCMS分析、熱脱着GCMS分析により劣化解析した事例をご紹介しています。 目に見えない劣化でも、この分析なら見つかるかも？！ 是非、ご一読ください。 【掲載内容】 ■信頼性試験 ■HS-GCMS分析によるアウトガス分析 ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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TEM（透過型電子顕微鏡）は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析…
TEMは高倍観察のみならず、EDS、EELSによる元素分析、 あるいは電子線回折による結晶構造、面方位、格子定数等の 解析を行う事ができます。...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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ブルーライトカットフィルムの光透過性がどのように変化するか、分光光度計…
を用いて検証。 波長350～400nmの光の透過性が、UV照射によって、さらに低下しました。 また、フィルム内部で起こっている反応に関して、GC-MSを用いて分析を 行いました。 【解析内容】 ■通常PETフィルムとブルーライトカットフィルムの光透過特性 ■ブルーライトカットフィルムへのUV照射 ■フィルム内成分のGC-MS分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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機械研磨法に化学エッチング、イオンミリング、FIB加工を施すことにより…
電子部品の接合部は基板全体の信頼性に大きな影響を及ぼします。 特にはんだ接合部においては、形状のみならず、 金属組織の観察が重要になります。...■基板接合部機械研磨 ＋化学エッチング ＋イオンミリング 光学顕微鏡、SEMによる観察 ■FIBによる断面作成 SEMによる観察...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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EBSDパターン(菊池パターン)、金ワイヤーボンド接合部の解析例をご紹…
【金ワイヤーボンド接合部 解析例】 ■逆極点図方位マップ(Inverse Pole Figure:IPFマップ) ■逆極点図を基にした結晶方位マップ ■Grain Reference Orientation Deviati...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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製品企画段階から性能、信頼性、廃棄、リサイクルまで考慮した品質への取組…
●製品ライフサイクル全般をカバーする総合的な技術サービス 電子部品の品質向上のために必要な開発時の原材料評価、信頼性試験と結果解析、出荷後の故障解析と結果の開発・製造現場へのタイムリーなフィードバック、さらには品質問題解決のコンサルティングまで、製品ライフサイクル全体にわたりご支援します。 ●信頼性試験の結果を速やかに解析...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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半導体製品に関わる部品・装置・材料の開発評価の困難をサポート
【試験・評価・分析・解析】 ●信頼性試験 ■温度サイクル試験 ■冷熱衝撃試験 ■高温保存試験 ■高度加速寿命試験 ■プリコンディショニング ■ホットオイル試験 ■In-situ...
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Cu板における圧縮前後での変化を観察！圧縮前後の結晶粒径の半化を比較で…
EBSD(電子線後方散乱回折)法は、電子線照射により得られた反射電子回折 パターンから個々の結晶の方位情報を取得しマップ化したもので、さらに 定量的、統計的なデータとして結晶方位(配向性)のみならず結晶粒分布や 応力ひずみ等の材料組織状態を調べる手法です。 Cu板における圧縮前後での変化観察では、IQマップ、GRODマップ、 IPFマップ(Axis3方向)を使用し、圧縮前後の結晶粒径...
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材料評価や不良品解析に！分解生成物の違いから、かかった負荷や劣化機構に…
す。 しかし優れた性質を持つポリマーであっても、使用環境や経時変化により 化学変化、いわゆる劣化が生じます。 当資料では、UV照射及び恒温恒湿試験を行ったポリカーボネート材料の 劣化解析例を紹介します。 【掲載内容】 ■ポリカーボネートの反応熱分解GC-MS分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
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海外製液晶ディスプレイの信頼性に問題を抱えるお客様のために、信頼性試験…
場で問題を起こしています。 アイテスでは豊富な経験と最新設備により、信頼性試験のデザインから 試験前後の目視検査を行い、お客様の抱える信頼性問題を解決します。 さらに、故障モードの分類から故障解析、材料分析まで御支援します。...
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測定したシリコンウエハは単結晶！IPFマップ、極点図、逆極点図は比較的…
EBSDで解析したシリコンウエハの事例をご紹介いたします。 ウエハから小片を切り出し、中央50×50μmの領域にてIPFマップを取得。 測定範囲内は、{001}面を表す赤色を示し、また、粒界が見られないこ...
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パワーデバイスをあらゆる角度から徹底評価、検証します
囲内でマイグレーションが発生しないことを確認する試験 ・高温逆バイアス/ゲートバイアス試験 高温高湿環境下の絶縁抵抗値の連続モニター チャネル数 120チャネル ■パワーデバイスの分析・解析 ・パワーチップの故障解析 ・はんだ接合部の解析 ・極低加速特殊SEMによるAlワイヤーのグレイン観察 ・半導体・パッケージ剥離部の非破壊観察...
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LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察
SiCパワーデバイスでも、特定箇所の断面作製、拡散層の形状観察、さらに…
るSiC MOSFETの拡散層の観察を 行っております。 FIBを用いた特定箇所の断面作製、LV-SEM/EBICによる拡散層の 形状観察、さらにTEMによる配線構造、結晶構造までのスルー解析が SiCパワーデバイスでも対応できます。 「LV-SEM拡散層観察」では、PN接合の内蔵電位に影響を受けた 二次電子（SE2）をInlens検出器で検出。 FIB断面でのSEM観察...
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X線透視観察や斜めCT観察の「BGAはんだクラック解析事例」「表面実装…
当資料では、当社で行ったX線透視やCT検査装置のさまざまな解析事例をご紹介しております。X線透視観察や斜めCT観察の「BGAはんだクラック解析事例」をはじめ、「表面実装LED」や「チップ抵抗の観察事例」などを掲載。 【掲載内容（抜粋）】 ■BGAはんだ...
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エチレン部に基準ピークを設け、エーテル結合に関与するピークに着目しまし…
おり、リチウムイオンポリマー二次電池の絶縁材や電解質、 界面活性剤、化粧品、合成洗剤原料など幅広いです。 今回、重合度、分子量の違うPEOをIR分析し、違いをスペクトルから読み取り データ解析を試みました。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■ポリエチレンオキサイド ■取得した各サンプルのIRスペクトル重ね合わせによるデータ解析 ■その他の分析解析手法によるアプロー...
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材料構造・材料特性の解析や、不具合、劣化現象なども様々な分析手法から考…
本となる分子構造は同じですが、枝分かれ構造の多さなどの 違いにより、ポリマーとしての性質も異なります。 HDPEとLDPEを各種分析から比較した例をご紹介。 当社では、材料構造・材料特性の解析だけでなく、プロセス条件バラツキの 把握、不具合、そして劣化現象などを様々な分析手法から考察致します。 【事例内容】 ■FT-IRによる主骨格の比較分析 ■EGA-MSによる熱分解温度の...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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ESD/ラッチアップ試験受託サービス
対応します。 ■ JEDEC、EIAJ、ESDAなどの規格に準拠した試験を提供します。 ■ お客様のご要望や目的にあった試験をご提案、実施します。 ■ 万一耐性に問題があった場合は、故障解析/原因究明から問題解決までのお手伝いをします。 ...
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さまざまな部品・材料の断面を受託加工作製します
装基板、半導体、化合物半導体、パワーデバイス、 フィルム、樹脂成形品、太陽パネル、液晶ガラスなど さまざまな部品・材料の断面を受託加工作製します。 また作製した断面の観察や分析を行い、不良解析や出来栄え評価などを 受託分析いたします。 【サービス一覧】 ■機械研磨 ■CP加工 ■ミクロトーム ■FIB加工 ■半導体拡散層の解析 など ※詳しくはPDF資料をご覧いた...
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進呈中【導入企業の声・口コミ集】太陽光パネル取付金具なら屋根技研
【口コミ・事例集付】太陽光架台のエキスパート屋根技研！大型屋根…
株式会社屋根技術研究所