• CECソリューションフェア2024 製品画像

    CECソリューションフェア2024

    PRCECソリューションフェア2024~DXと生成AIで創るビジネスの未来…

    当社設立50周年を記念して、恒例のCECソリューションフェアを更にパワーアップして開催! 出展52社 150以上の製品・ソリューションを展示いたします。 *** リアルとオンラインでのダブル開催! <朱鷺メッセ>と<オンライン特設サイト>のご都合の良い会場でご参加いただけます。 今話題の生成AIを活用したチャットボットが、製品質問に応え、あなたにぴったりな製品をおすすめします! スキージャンプレジ...

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    メーカー・取り扱い企業: CEC新潟情報サービス株式会社

  • 【様々な施設で導入可能】安価で手軽に足湯を炭酸泉仕様にできます! 製品画像

    【様々な施設で導入可能】安価で手軽に足湯を炭酸泉仕様にできます!

    PR炭酸泉の足湯で差別化を!量産体制を採っている6機種の足湯をラインアップ

    スパテクノ株式会社では、『炭酸泉足湯』を取り扱っています。 標準タイプやミニタイプ、ミニ・ダブルタイプなど6機種の足湯をご用意。 いづれの足湯も簡単に高濃度炭酸泉仕様の足湯に変更可能です。 簡単で、安価に炭酸泉化できますので、ご用命の際は、当社へお気軽にご相談ください。 【ラインアップ】 ■標準タイプ ■ミニタイプ ■ミニ・ダブルタイプ ■リゾートタイプ ■いろり ...

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    メーカー・取り扱い企業: スパテクノ株式会社

  • ハイパワー恒温恒湿槽での環境試験 製品画像

    ハイパワー恒温恒湿槽での環境試験

    ハイパワー恒温恒湿槽を2台導入!車載用部品等の温度サイクル試験・温湿度…

    株式会社アイテスでは、『ハイパワー恒温恒湿槽での環境試験』を 承っております。 最大15℃/分(-45⇔±155℃)の定速温度変化が可能。 温度勾配をコントロールしての温度サイクル試験が実施できます。 また、温度制御範囲が一般的な恒温恒湿槽より広く、95℃にて制御可能です。 【特長】 ■ハイパワー恒温恒湿槽を2台導入 ■最大15℃/分(-45⇔±155℃)の定速温度変化が可能 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 透明素材の曇価(ヘーズ)測定、全光/拡散透過率測定サービス 製品画像

    透明素材の曇価(ヘーズ)測定、全光/拡散透過率測定サービス

    ガラス、ITOなどの透明素材に!各透明樹脂・紫外線照射前後の測定評価も…

    DIFの比で表されます。 当サービスのご提供とともに、分子構造視点のデータ解析考察も ご対応いたします。ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【装置仕様】 ■装置:日本電色工業株式会社製 ■対応規格:JIS K7136/JIS K7136-1/JIS K7105/ASTM D1003 ■サンプルサイズ:40×40~200×280mm ■取得データ ・全光線透過率/ヘー...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • パワー半導体の解析サービス 製品画像

    パワー半導体の解析サービス

    故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします…

    株式会社アイテスでは、パワー半導体の解析サービスを承っております。 当社は日本IBM野洲事業所の品質保証部門から1993年に分離独立して以来、 独自の分析・解析技術を培ってきました。 Si半導体だけでなく、話題のワイドバンドギャップ半導体も対応可能です。 【特長】 ■OBIRCH解析ではSiだけでなく、SiCやGaNデバイスにも対応 ■表裏どちらからでもFIB加工可能 ■PN接...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • モジュール試作と熱抵抗評価 製品画像

    モジュール試作と熱抵抗評価

    ダイアタッチやTIM材などの評価に好適!試作から評価まで対応致します

    株式会社アイテスでは、『モジュール試作と熱抵抗評価』を承っております。 パワーデバイス及びパワーデバイスで使用する材料の評価において、実際に デバイスを組み立てての熱抵抗測定は、実力の把握に有効な方法です。 試作から評価まで対応致します。 ご興味がございましたら、是非お気軽にご相談ください。 【特長】 <パワーモジュールの試作> ■チップの調達からモジュールの組立てまで、一貫し...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ウェハー加工サービス 製品画像

    ウェハー加工サービス

    成膜加工・再生加工等、半導体ウェハサービスで新しい価値を創造します!

    株式会社アイテスでは、ベアウェハやその加工にかかわるお客様の さまざまな課題を解決するお手伝いをしています。 ますます多様化する半導体ニーズに、ウェハ、成膜加工、再生加工 など前工程の分野で、専門性と優れた対応力でお応えいたします。 また、シリコン、微細電鋳のMEMS試作加工受託を開始しました。 【サービス内容(一部)】 ■ウェハ成膜加工 ■ウェハパターニング加工 ■ウェハ再...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ポリウレタンゴムの動的粘弾性測定 製品画像

    ポリウレタンゴムの動的粘弾性測定

    圧縮モード以外の引張、せん断、曲げモードにおいても!同様にマスターカー…

    株式会社アイテスの品質技術、ポリウレタンゴムの動的粘弾性測定 についてご紹介いたします。 DMAは高分子材料に周期的な振動荷重を与え、生じる応力と位相差から、 弾性や粘性を温度の関数として測定する分析です。今回は、円柱状の ゴム試料を用いて、圧縮モードで測定を行いました。 測定結果は、Tan δの温度分散曲線より、-15.7℃にガラス転移温度を 有していることを示し、 時間―温度換算...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • Φ8インチIC・MEMSファウンドリーサービス開始 製品画像

    Φ8インチIC・MEMSファウンドリーサービス開始

    最大8インチMEMSラインを有するオムロン野洲事業所にてウェハ工程の試…

    ラー、RF MEMS など)  各種半導体(IC、パワーデバイス など)  光学素子(アパーチャ、レンズ など)  機能構造(poly-Si TSV など) 加工場所: オムロン株式会社 野洲事業所(滋賀県野洲市) ~ 8インチ半導体ライン 及び 8インチMEMSライン ~ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • パワーサイクル試験と特性評価 製品画像

    パワーサイクル試験と特性評価

    パワーサイクル試験装置を使用したパワーサイクル試験の受託!故障解析・分…

    株式会社アイテスでは、シーメンス製(メンター製)のパワーサイクル 試験装置を使用した、パワーサイクル試験の受託を行っています。 試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能です。 また、パワーデバイスの各種観察・測定にも対応しています。 パワーサイクル試験などの試験前後の変化を捉えることができます。 【特長】 ■試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能 ■パワーデバイス...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】重合度、分子量の差をIR分析で検証 製品画像

    【資料】重合度、分子量の差をIR分析で検証

    エチレン部に基準ピークを設け、エーテル結合に関与するピークに着目しまし…

    当資料は、株式会社アイテスによる『重合度、分子量の差をIR分析で検証』 についてご紹介しています。 ポリエチレンオキサイド(PEO)は、その極性構造由来の特性により多くの 用途で使用されており、リチウム...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • In-Situ常時測定 信頼性評価試験サービス 製品画像

    In-Situ常時測定 信頼性評価試験サービス

    In-Situ常時測定 信頼性評価試験サービス

    In-Situ常時測定 信頼性評価試験では、特性を測定しながら、ストレスを印加し信頼性評価試験を行います。 ●正確な故障時間の把握が可能  決まった時間にストレス環境より取り出して測定するリードアウト方式では、リードアウトのタイミングでしか故障の把握ができず、正確な故障発生時間を知ることはできません。  In-Situ測定では、正確な故障時間の把握ができます。 ●回復性故障の検出が...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • パワーデバイスの故障解析 製品画像

    パワーデバイスの故障解析

    ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・…

    あらゆるサイズ・形状のダイオード・MOS FET・IGBT等の パワーデバイスに対し最適な前処理を行い 裏面IR-OBIRCH解析や裏面発光解析により不良箇所を特定し観察いたします。 ■解析の前処理-裏面研磨-  各種サンプル形態に対応します。  Siチップサイズ:200um~15mm角 ■不良箇所特定-裏面IR-OBIRCH解析・裏面エミッション解析-  IR-OBIRCH...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 半導体製品の信頼性トータル・ソリューション 製品画像

    半導体製品の信頼性トータル・ソリューション

    半導体製品に関わる部品・装置・材料の開発評価の困難をサポート

    【試験・評価・分析・解析】  ●信頼性試験   ■温度サイクル試験   ■冷熱衝撃試験   ■高温保存試験   ■高度加速寿命試験   ■プリコンディショニング   ■ホットオイル試験   ■In-situ常時測定   ■イオンマイグレーション試験   ■エレクトロマイグレーション試験   ■テストコンサルティンング  ●評価試験   ■接合強度試験:プル/ シェア試験 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 促進耐候性試験<キセノンウェザーメーター> 製品画像

    促進耐候性試験<キセノンウェザーメーター>

    自動車、塗料、建築、プラスチック、印刷物、繊維など!様々な分野で試験と…

    「キセノンウェザーメーター」は、光源にキセノンアークランプを用いた 促進耐候性試験機で、照射、温湿度、降雨などの暴露条件を組み合わせることで 屋外や屋内の環境を人工的に再現し、自然暴露試験よりも短い時間で 試験体の劣化を促進させて耐候性・耐光性を評価します。 光源のキセノンランプは、太陽光の紫外・可視部に極めて近似した分光分布を 持ち、適切なフィルタの使用と放射照度を正確に制御。屋外...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 高温ラッチアップ試験 製品画像

    高温ラッチアップ試験

    高温状態での動作が要求されるデバイスに!高温でのラッチアップ試験をご紹…

    当社が行っている『高温ラッチアップ試験』についてご紹介します。 近年、デバイスの最大使用周囲温度条件下でのラッチアップ試験の需要が増加。 特に、車載部品用のAEC規格では、ClassII(最大使用周囲温度)の試験条件のみ となっており、高温状態での動作が要求されるデバイスでは、高温での ラッチアップ試験が推奨されています。 【ラッチアップ試験の主要規格(抜粋)】 ■JEDE...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【成分分析】GC-MS ガスクロマトグラフ質量分析計 製品画像

    【成分分析】GC-MS ガスクロマトグラフ質量分析計

    新しく装置を導入!試料に含まれる成分の定性・定量を目的とした分析手法を…

    島津製作所社製の「GC-MS ガスクロマトグラフ質量分析計」を 導入しました。 試料に含まれる成分の定性・定量を目的とした分析手法の一つで、 部品・部材・残存溶媒や添加剤など、揮発性有機物の定性・定量に 用いられる分析装置です。 測定対象がガス化することが必要条件(沸点300℃未満)となりますが、IRや RAMANに比べ感度が高い点、GC部での成分分離が可能な点から、混合物の ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • パワーデバイスのトータルソリューションサービス 製品画像

    パワーデバイスのトータルソリューションサービス

    パワーデバイスをあらゆる角度から徹底評価、検証します

    ■解決する力  知識と技術でかいけつに導くコンサルティング  スピード対応でお客様スケジュールを支援 ■つきとめる力  故障個所をピンポイントし可視化する技能  深い洞察力と高度かつ繊細な試料加工技術 ■特化した設備  最高180℃での液槽熱衝撃試験  パワー半導体に必須のパワーサイクル試験...■パワーデバイスの信頼性試験 ・パワーサイクル試験  定電流600A max.(V...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ESD(CDM)試験受託サービス 製品画像

    ESD(CDM)試験受託サービス

    印加ピンの接触確認機能により確実に印加!直接チャージ法と電界誘導法にも…

    『ESD(CDM)試験受託サービス』は、半導体製品およびそれを含む 電子部品の信頼性として重要なデバイス帯電モデルのESDによる 破壊に対する耐性を評価します。 直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Induced CDM)の両方に対応。 また、ダイオード特性判定法、その他の特性評価による、破壊判定も 可能です。(別装置を使用) 【特長】 ■各種...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EBSD解析 製品画像

    EBSD解析

    結晶方位や結晶粒径の変化が解析可能!EBSD(電子線後方散乱回折)法を…

    EBSD法とは、試料の持つ結晶構造の情報を基に連続的に取り込んだパターン の結晶方位を算出することにより、結晶粒の分布、集合組織や結晶相分布を 解析する手法です。 金属やセラミック等の結晶質のものは、立方体等の結晶格子が多数集まって 構成されていると考えられおり、当解析法では、それがどのような方向を 向いているのか(結晶方位)を解析。 IQマップ(イメージクオリティーマップ)を...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 海外製部品・製品 評価サービス 製品画像

    海外製部品・製品 評価サービス

    海外製部品・製品の中には品質上問題のあるものも含まれています。これらに…

    海外製部品・製品の中には、初期動作は問題なくても、 短期間に不具合を引き起こし、故障破壊に至るものもあります。 海外製品を採用・使用される前に、アイテスの 部品・製品 品質評価サービスをご検討下さい。 ■海外製部品評価例 ・部品調達・選定段階での信頼性評価 ・部品・製品メーカー間比較評価 ・現行部品⇒変更部品(コスト削減)の置き換え時の信頼性評価 ■対応部品の例 ・能動部...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 有機溶剤中の不純物分析 製品画像

    有機溶剤中の不純物分析

    温度、湿度、光の影響でアルドール反応が進行!エタノール・アセトン中の不…

    高純度品の溶媒を不適切な環境下にて保管した場合に、溶媒から確認された 不純物を液打ちGC-MSにて分析した例をご紹介します。 冷暗所に遮光性試薬瓶で保管しているエタノールを、使用済みのプラスチック 製洗瓶に入れ室温環境下で約一か月間放置。結果、ホウ酸トリエチル及び アルキルベンゼン類などの不純物が検出されました。 また、冷暗所に遮光性試薬瓶で保管しているアセトンを、遮光性の無い透...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • HDPE・LDPE比較分析 製品画像

    HDPE・LDPE比較分析

    材料構造・材料特性の解析や、不具合、劣化現象なども様々な分析手法から考…

    ポリエチレン樹脂には大きく分けて高密度ポリエチレン(HDPE)と 低密度ポリエチレン(LDPE)の種類があります。 それぞれ基本となる分子構造は同じですが、枝分かれ構造の多さなどの 違いにより、ポリマーとしての性質も異なります。 HDPEとLDPEを各種分析から比較した例をご紹介。 当社では、材料構造・材料特性の解析だけでなく、プロセス条件バラツキの 把握、不具合、そして劣化現...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • GC-MSによる香り成分の分析 製品画像

    GC-MSによる香り成分の分析

    GC-MSは低分子有機物質の定性定量分析に利用!線香と白檀にてデータを…

    香りをキーワードとして、身近な線香を分析し、その分子構造の特長を 他材料と比較考察しました。 樹木から採れる代表的な香木としては、白檀(びゃくだん)・沈香 (じんこう)・伽羅(きゃら)の3種があげられますが、今回は線香と 白檀にてデータを取得。 アルデヒド基と脂肪族環状構造を特長とし、ウッディーな香りは、 主に脂肪族環状構造が起因であると推測します。 【分析概要】 ■分...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 液晶パネルの不良解析 製品画像

    液晶パネルの不良解析

    点灯確認、パネル解体、光学顕微鏡観察により、不良発生箇所を絞り込みます…

    不良現象の確認から原因の解明、詳細な不良解析まで 液晶パネルの不良診断メニューをご提供いたします。 初期解析では、現状確認(点灯試験)、パネル解体、光学顕微鏡観察、 不良症状に合わせて実施。 詳細解析では、初期解析での診断結果をもとに表面分析、断面解析、成分分析 など好適な手法をご提案いたします。 原因となった生産工程の絞り込みなど不良発生メカニズムの推測も可能です。 【...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • フタル酸エステル類のスクリーニング分析 製品画像

    フタル酸エステル類のスクリーニング分析

    規制値は1000ppm!簡易的に規制対象化合物含有の有無を調べる事が出…

    フタル酸エステル類は、可塑剤などの添加剤成分として多くの プラスチック製品に使用されていますが、改正RoHS指令により 新たに4種のフタル酸エステル類が規制対象となりました。 当社の「スクリーニング分析」では、簡易的に規制対象化合物含有の 有無を調べる事ができ、500~1500ppm含有が推定された場合には より詳細な定量分析にて判定。 RoHS指令4種以外にも、JIGや食品衛...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 表面分析ガイド 製品画像

    表面分析ガイド

    様々な表面分析手法!異物、変色、汚染などのお困りごとの解決に向けてお役…

    当社は、様々な表面分析手法を用いて、異物、変色、汚染などのお困り ごとの解決に向けてお役立て致します。 微小領域からバルク試料まで幅広い分析が可能な「EDX」、電子線を照射し オージェ電子を検出する「AES」、絶縁物の分析や化学結合状態の分析が 可能な「XPS」など、様々な表面分析を行っております。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【分析手法】 ■EDX(E...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • LCDパネル良品解析 製品画像

    LCDパネル良品解析

    LCD部品、製品の品質状態を確認!液晶パネルの各構造を当社の持つ分析手…

    アイテスでは、LCD部品/製品の良品解析を行っており、当社の持つLCDの 知見から製品の品質状態を確認いたします。 対象パネルは、SEG-LCD,AM-LCD(a-Si TFT/LTPS TFT),OLED 車載,モニター,モバイルなど。 液晶パネルの各構造を当社の持つ分析手法を用いて良品解析を実施します。 【解析内容(抜粋)】 <信頼性/点灯試験> ■分類 ・信頼性試...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 静電破壊した橙色LEDの不良解析 製品画像

    静電破壊した橙色LEDの不良解析

    良品と静電気(ESD)破壊品の輝度・特性の比較、EMS顕微鏡による発光…

    当社では、静電破壊した橙色LEDの不良解析を行っております。 ESD試験にて破壊され、発光強度の低下したLEDはエミッション発光と IR-OBIRCH法を用いて解析し、不良現象を明らかにすることが可能です。 「良品と静電気(ESD)破壊品の輝度と特性比較」や「エミッション 顕微鏡による発光解析」などの事例がございます。 【解析例】 ■良品と静電気(ESD)破壊品の輝度と特性...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ESD/ラッチアップ試験受託サービス 製品画像

    ESD/ラッチアップ試験受託サービス

    ESD/ラッチアップ試験受託サービス

    半導体デバイスやそれを含む電子部品の信頼性として重要な、ESD破壊およびラッチアップによる破壊に対する耐性を評価する試験サービスを提供します。 ■ 512ピンまでのICモジュール、電子部品、サブシステムなどの製品に対応します。 ■ JEDEC、EIAJ、ESDAなどの規格に準拠した試験を提供します。 ■ お客様のご要望や目的にあった試験をご提案、実施します。 ■ 万一耐性に問題...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 低分子シロキサン定量分析 製品画像

    低分子シロキサン定量分析

    低分子シロキサンの確認手法!どの程度の発生量であるかなども分析可能

    シリコーン製品から発生する低分子シロキサンが電子部品の接点周囲に 存在すると、電気火花の熱により絶縁物である二酸化ケイ素を生じ、 接点障害を引き起こす事が知られています。 こちらでは、低分子シロキサンの確認手法としてHS-GCMSによる アウトガス定量分析をご紹介。 HS-GCMS分析は、使用している電子部品の周辺に低分子シロキサンを 発生させるような部材が無いか、またどの程度...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 液晶中の微量金属元素分析 製品画像

    液晶中の微量金属元素分析

    パネルサイズにより、ICP-AES/MS装置を使い分けて分析する事が可…

    信頼性試験前後のパネルを用いてICP測定を行い、定量化を行った事例を ご紹介します。 LCDの液晶分子はパネル内で配向しており、電圧により液晶の配向状態が 変わる事で表示が制御されます。金属元素のようなイオン性物質がパネル 内部に存在すると液晶が正しく駆動せず表示不良が発生。 イオン性物質は、製造時の混入や長期使用で増加することが知られており、 定量化して把握する事がパネル品質...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 液晶材料分析 製品画像

    液晶材料分析

    豊富な装置と知見!化学機器分析で材料全般の分子構造を解明いたします!

    液晶材料には様々な種類があり、LCDパネルに使用する低分子もあれば、 プリント基板や電装部品などに使用される高分子もあります。 それら低分子液晶、高分子液晶(LCP)の分子構造を解析した事例をご紹介。 当社では、豊富な装置と知見で、液晶材料のみならず、様々な素材の 信頼性試験、分析解析にご対応いたします。海外輸入品・素材の分子構造の 把握や不具合解明など、お気軽にご相談ください。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ESD(CDM)試験受託サービス 製品画像

    ESD(CDM)試験受託サービス

    デバイス帯電モデル(Charged Device Model)のESD…

    ■ 各規格波形 JEDEC、JEITA(EIAJ)、AEC に対し  ユニット交換で対応します。 ■ 直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Induced CDM)  の両方に対応します。 ■印加ピンの接触状態の確認機能により確実に印加します。 ■ダイオード特性判定法による破壊判定対応も可能です。(要相談)...■印加電圧0Vから±4000Vまで、5Vステッ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【SEMによる断面観察】コネクタめっき 製品画像

    【SEMによる断面観察】コネクタめっき

    真実を探求!通信が悪くなった場合はコネクタ端子の不具合を疑ってみてもい…

    コネクタめっきの断面観察事例をご紹介いたします。 コネクタ端子のめっき状態が使用により、どのようになっているのか断面を 観察。今回、スジなし箇所とスジの程度が異なる2箇所で断面試料を作製し、 めっきの状態を確認しました。 結果、スジなしと比べるとスジAとスジBは、めっきの厚みが不均一であることが わかりました。これはコネクタの抜き差しによりめっきが引きずられ、厚みが 変化したた...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EBSD法によるCu結晶解析 製品画像

    EBSD法によるCu結晶解析

    Cu板における圧縮前後での変化を観察!圧縮前後の結晶粒径の半化を比較で…

    EBSD(電子線後方散乱回折)法は、電子線照射により得られた反射電子回折 パターンから個々の結晶の方位情報を取得しマップ化したもので、さらに 定量的、統計的なデータとして結晶方位(配向性)のみならず結晶粒分布や 応力ひずみ等の材料組織状態を調べる手法です。 Cu板における圧縮前後での変化観察では、IQマップ、GRODマップ、 IPFマップ(Axis3方向)を使用し、圧縮前後の結晶粒径...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 分析と化学反応機構で研究開発をアシストします! 製品画像

    分析と化学反応機構で研究開発をアシストします!

    開発の方向性の決定とスピードアップに繋がる!豊富な技術、知見、装置でご…

    研究開発において、分析や評価はチェックポイントとして欠かせない プロセスであり、その注目すべき対象には製品の構成材料が候補となる ことが多々あります。 アイテスは、保有する多種多様な機器分析装置、観察装置、信頼性試験装置、 そして蓄積された知見と化学反応機構でメーカー様の研究開発をアシストします。 豊富な技術、知見、装置でご対応いたしますので、お気軽にお問合せください。 【...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • WPAによる製品/素材の歪、複屈折評価 製品画像

    WPAによる製品/素材の歪、複屈折評価

    素材の配向、歪、複屈折を評価することで、内部応力、歪状態を把握できます…

    製品を構成する材料は様々ですが、製造成形プロセスにおいて内部応力が 大きく、または偏って存在すると、使用中、使用環境により変形、割れ (クラック)、特性低下などの不具合を招きます。 『WPA(広範囲偏光分析)』により、素材の配向、歪、複屈折を 評価することで、内部応力、歪状態を把握することが可能となります。 お気軽に、ご相談ください。 【特長】 ■内部応力、歪状態を把握す...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • プラスチック成形品の歪、複屈折評価 製品画像

    プラスチック成形品の歪、複屈折評価

    複屈折位相差(歪)や流れ方向・応力方向(主軸方位)の視覚化が可能です!

    射出成形法によるプラスチック成形品は樹脂の溶融、金型への充填、 冷却・保圧といった工程を経ていますが、これらの条件が適切でない場合、 内部に応力が残り(残留応力)、成形不良の原因となります。 二次元複屈折測定システムは、その応力の指標である複屈折位相差(歪)や 流れ方向・応力方向(主軸方位)の視覚化が可能です。 例として、ポリスチレン(PS)成形品を加熱条件で比較した複屈折評価を...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • クロスセクションポリッシャー(CP)法による断面観察サービス 製品画像

    クロスセクションポリッシャー(CP)法による断面観察サービス

    高い加工精度と広い加工領域を実現!冷却機能でダメージを軽減しながらの加…

    CP法は、機械研磨法に比べ、研磨によるダメージがない状態で断面を 観察することが可能です。 当社の冷却機能付トリプルイオンミリング装置は、3方向から照射する イオンビームにより、高い加工精度と広い加工領域を実現。 熱に弱い材料の場合には冷却機能でダメージを軽減しながらの加工も可能です。 【特長】 ■加工幅約4mm/加工深さ約1mmと広範囲での加工が可能 ■硬軟材において平...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • フレキシブル基板(FPC)のEBSD解析 製品画像

    フレキシブル基板(FPC)のEBSD解析

    屈曲部の配線に歪みが蓄積している個所などが分かる、EBSD解析をご紹介…

    フレキシブル基板(FPC)のEBSD解析をご紹介します。 可動部や折り曲げ機構がある製品に使用されるフレキシブル基板について、 屈曲部と固定部でCu配線に違いがあるかEBSDによる確認を実施。 その結果、光学像では屈曲部と固定部の配線に顕著な異常や差異は 確認できないが、EBSD解析では、屈曲部の配線に歪みが蓄積している個所や、 小傾角粒界が集中している個所が存在していることが分...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 品質技術トータルソリューション 製品画像

    品質技術トータルソリューション

    製品企画段階から性能、信頼性、廃棄、リサイクルまで考慮した品質への取組…

    ●製品ライフサイクル全般をカバーする総合的な技術サービス  電子部品の品質向上のために必要な開発時の原材料評価、信頼性試験と結果解析、出荷後の故障解析と結果の開発・製造現場へのタイムリーなフィードバック、さらには品質問題解決のコンサルティングまで、製品ライフサイクル全体にわたりご支援します。 ●信頼性試験の結果を速やかに解析、速報  信頼性試験での不良に対し、豊富で効率的な解析メニュー...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 断面観察によるはんだのクラック率測定 製品画像

    断面観察によるはんだのクラック率測定

    ボールジョイントのクラック率算出など、お客様のご要望に合わせた仕様で実…

    はんだ耐久性試験後の基板において、はんだ接合部にクラックが 発生した場合、クラックが許容基準内であるかを確認するため クラック率を算出します。 はんだ耐久性試験後の評価標準は、製品環境仕様に応じて評価項目や 判定基準などを個別に定めることができるため、お客様ごとに規格を お持ちの場合がほとんどです。 測定方法も部品の形状にあわせて様々ですが、ご依頼いただいた際は、 お客様のご...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • UV照射によるフィルム物性変化の解析 製品画像

    UV照射によるフィルム物性変化の解析

    ブルーライトカットフィルムの光透過性がどのように変化するか、分光光度計…

    ブルーライトカットフィルムは、通常のPETフィルムに比べ、可視光、 特に波長500nm以下の光の透過を抑える効果を有しております。 UV照射によって、ブルーライトカットフィルムの光透過性が どのように変化するか、分光光度計を用いて検証。 波長350~400nmの光の透過性が、UV照射によって、さらに低下しました。 また、フィルム内部で起こっている反応に関して、GC-MSを用いて分...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • SDGsへ貢献 材料/リサイクル原料比較分析 製品画像

    SDGsへ貢献 材料/リサイクル原料比較分析

    複数の手法で再⽣素材、原料の⽐較分析評価を⾏い、SDGsを視野に入れた…

    環境に配慮、そして無駄のない開発製造という姿勢が、技術分野に 求められ、世界全体で地球規模の視点で技術貢献する必要があります。 本資料では、廃棄され浮遊するマイクロプラスチックの物質特定と ともに、リサイクル原料の劣化程度を⽐較分析した事例をご紹介し、 使⽤可否判断をアシストします。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■マイクロプラスチック物質の特定分析事例 ■未使...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 発光解析のための半導体の裏面研磨 製品画像

    発光解析のための半導体の裏面研磨

    様々な形態の半導体で裏面研磨が可能!素子、不具合の様子の観察が出来ます

    裏面OBIRCH/発光解析や裏面発光解析の前処理として各種形態のサンプルの 裏面研磨を行います。 これは、裏面から解析を行うため不可欠な前処理です。 裏面から解析することで、不良を保持したまま発光を検出できるだけでなく、 形状異常の有無も観察できます。 また、パッケージ、開封済みチップ、ウエハー等様々な形態の半導体で 裏面研磨ができ、さらにリード端子を生かした状態の裏面研磨も可...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • SiCデバイスの裏面発光解析 製品画像

    SiCデバイスの裏面発光解析

    SiCデバイスの前加工→リーク箇所特定→物理解析/成分分析までスルー対…

    当社では、『SiCデバイスの裏⾯発光解析』を行っております。 SiCは従来のSi半導体と比べ、エネルギーロスの少ない パワーデバイスであり注目を集めていますが、Si半導体とは 物性が異なるため、故障解析も新たな手法が必要となります。 SiC MOSFET裏面発光解析事例では、海外製SiC MOSFETをESDにより、 G-(D,S)間リークを作製、発光解析にて、リーク箇所を示す多...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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