• アスファルト用ネジアンカー(PAT.P) 製品画像

    アスファルト用ネジアンカー(PAT.P)

    PR柔らかいアスファルトにしっかり固定!ねじ式で施工も取り外しも簡単!

    コンクリートに比べて非常に柔らかいアスファルトには、コンクリートアンカーを打ち込んでも抜けてしまいます。 弊社の『アスファルト用ネジアンカー』なら、柔らかいアスファルトにしっかり固定が可能です! 道路、駐車場、駐輪場、その他アスファルトに物を固定することが出来ます。 ねじ込み式で施工も、取り外しも簡単に行えます。 材質にはステンレスを使用。焼入れを行い強度をあげたほか、 ジオメット処理を施しサ...

    メーカー・取り扱い企業: 杉元産業株式会社

  • 指静脈認証スキャナー『CB-LBS(FV)A』<指1本で入退室> 製品画像

    指静脈認証スキャナー『CB-LBS(FV)A』<指1本で入退室>

    PR指静脈の生体情報を用いてセキュリティを強化しつつ、通行時の省力化も実現…

    『CB-LBS(FV)A』は、ICカードや暗証番号の入力がいらず、 指静脈の生体情報を用いて入退室が行える指静脈認証スキャナーです。 ICカードを紛失する心配がなく、再発行の手間やコストを削減し、運用の効率化に貢献。 最大5,000名(10,000指)の生体情報を登録でき、約1秒での高速認証が可能なほか、 電気錠制御機能を内蔵し、ほとんどの電気錠を直接制御できます。 指を置く認証...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社JEI(旧社名:日本電子工業株式会社)

  • 冷熱衝撃試験 製品画像

    冷熱衝撃試験

    電子部品の接合部だけではなく、ネジ等による固定部位の評価にも!

    株式会社アイテスでは、『冷熱衝撃試験』を行っております。 試料に高温と低温を繰り返し晒す事により、高温・低温の熱による ストレスだけではなく、各部位の伸縮により応力が発生。 繰り返し応力によってもストレスが加えられます。 電子部品の接合部だけではなく、ネジ等による固定部位の評価としても 当試験が行われます。 【冷熱衝撃試験装置の主なスペック】 ■内法:W650×H460×D37...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ハイパワー恒温恒湿槽での環境試験 製品画像

    ハイパワー恒温恒湿槽での環境試験

    ハイパワー恒温恒湿槽を2台導入!車載用部品等の温度サイクル試験・温湿度…

    株式会社アイテスでは、『ハイパワー恒温恒湿槽での環境試験』を 承っております。 最大15℃/分(-45⇔±155℃)の定速温度変化が可能。 温度勾配をコントロールしての温度サイクル試験が実施できます。 また、温度制御範囲が一般的な恒温恒湿槽より広く、95℃にて制御可能です。 【特長】 ■ハイパワー恒温恒湿槽を2台導入 ■最大15℃/分(-45⇔±155℃)の定速温度変化が可能 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • パワーデバイスのHAST試験 製品画像

    パワーデバイスのHAST試験

    パワーデバイスに対して高温・高湿度環境下で最大1000Vの印加が可能!…

    株式会社アイテスでは、『パワーデバイスのHAST試験』を承っております。 【特長】 ■最大1000V印加での不飽和蒸気加圧試験が可能 ■高温高湿下での通電により、金属配線の腐食やマイグレーション等の評価を実施 ■試験中のモニタリングにより、リアルタイムでの試料劣化を把握...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ワンショット3D形状測定機『VR-6200』 製品画像

    ワンショット3D形状測定機『VR-6200』

    この1台で、いろいろ測れる!切断せずに断面形状を再現、光沢面も測定可能…

    株式会社アイテスは、KEYENCE社製のワンショット3D形状測定機 『VR-6200』を導入しました。 電動回転ユニットを付属しており、切断せずに断面形状を再現。 HDRスキャンアルゴリズムにより、光沢面も測れます。 プロファイル計測をはじめ、平面計測、体積面積、比較計測など この1台で、様々な測定を行うことができます。 【測定可能項目】 ■プロファイル計測 ■平面計測 ■...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ICの不良解析 製品画像

    ICの不良解析

    不良モードに適した様々な手法を組み合わせることで、不良ノードの特定から…

    株式会社アイテスの『ICの不良解析』についてご紹介します。 当社では、ICに対して、不良モードに適した手法を組み合わせることで、 不良ノードの特定から物理解析までを一貫して対応致します。 Layout Viewerによるレイアウト確認が可能な「発光解析/OBIRCH解析」を はじめ、「層剥離/サンプル加工」や「PVC解析」、「拡散層エッチング」、 「sMIM解析」等、様々な解析手法があ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 透明素材の曇価(ヘーズ)測定、全光/拡散透過率測定サービス 製品画像

    透明素材の曇価(ヘーズ)測定、全光/拡散透過率測定サービス

    ガラス、ITOなどの透明素材に!各透明樹脂・紫外線照射前後の測定評価も…

    DIFの比で表されます。 当サービスのご提供とともに、分子構造視点のデータ解析考察も ご対応いたします。ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【装置仕様】 ■装置:日本電色工業株式会社製 ■対応規格:JIS K7136/JIS K7136-1/JIS K7105/ASTM D1003 ■サンプルサイズ:40×40~200×280mm ■取得データ ・全光線透過率/ヘー...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 液槽冷熱衝撃試験 製品画像

    液槽冷熱衝撃試験

    高温180℃対応!車載用・高温対応の電子部品等、高耐熱部品の試験・評価…

    株式会社アイテスでは、『液槽冷熱衝撃試験』を行っております。 液体を媒体として温度変化によるストレスを与え、気槽式熱衝撃試験よりも 温度変化が急峻なため、短期間で実施するのに有効な試験方法です。 当装置では、高温の最高温度が180℃まで対応可能なため、高耐熱部品・材料 などの加速試験に対応することができます。 【特長】 ■最高温度が180℃まで対応可能 ■高耐熱部品の試験・評価...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 海外製 液晶ディスプレイの良品解析 製品画像

    海外製 液晶ディスプレイの良品解析

    不具合が出れば詳細解析も!海外製LCD導入ご検討のお客様向け簡易版解析

    株式会社アイテスの液晶ディスプレイの良品解析についてご紹介します。 まず、外観観察としてセルパネル状態で、FPC、FOG、COG、 シール材に着目して光学顕微鏡観察を行い、次にセルパネルを解体して、 シール材やPI膜、TFT形状を確認。 良品解析で不具合が見つかった場合は、配線の断面観察、異物分析など 原因究明のための追加解析を御提案させていただきます。 ご用命の際は、当社へお気軽に...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • パワー半導体の解析サービス 製品画像

    パワー半導体の解析サービス

    故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします…

    株式会社アイテスでは、パワー半導体の解析サービスを承っております。 当社は日本IBM野洲事業所の品質保証部門から1993年に分離独立して以来、 独自の分析・解析技術を培ってきました。 Si半導体だけでなく、話題のワイドバンドギャップ半導体も対応可能です。 【特長】 ■OBIRCH解析ではSiだけでなく、SiCやGaNデバイスにも対応 ■表裏どちらからでもFIB加工可能 ■PN接...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 顕微ラマンによる樹脂材料結晶化度分析 製品画像

    顕微ラマンによる樹脂材料結晶化度分析

    顕微ラマンを用いることにより微細な範囲(1μm~)の結晶化度評価が可能…

    株式会社アイテスでは、分析解析・信頼性評価サービス「顕微ラマンによる 樹脂材料結晶化度分析」を行っております。 顕微ラマン分光光度計によって得られるスペクトルから、ピークの半値幅の 違いにより、微細な範囲で樹脂材料の結晶化度を求めることが可能。 PETボトル飲み口からボトル本体にかけての結晶化度変化を調べた 分析事例もございます。分析解析・信頼性評価は当社におまかせください。 【...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • モジュール試作と熱抵抗評価 製品画像

    モジュール試作と熱抵抗評価

    ダイアタッチやTIM材などの評価に好適!試作から評価まで対応致します

    株式会社アイテスでは、『モジュール試作と熱抵抗評価』を承っております。 パワーデバイス及びパワーデバイスで使用する材料の評価において、実際に デバイスを組み立てての熱抵抗測定は、実力の把握に有効な方法です。 試作から評価まで対応致します。 ご興味がございましたら、是非お気軽にご相談ください。 【特長】 <パワーモジュールの試作> ■チップの調達からモジュールの組立てまで、一貫し...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ウェハー加工サービス 製品画像

    ウェハー加工サービス

    成膜加工・再生加工等、半導体ウェハサービスで新しい価値を創造します!

    株式会社アイテスでは、ベアウェハやその加工にかかわるお客様の さまざまな課題を解決するお手伝いをしています。 ますます多様化する半導体ニーズに、ウェハ、成膜加工、再生加工 など前工程の分野で、専門性と優れた対応力でお応えいたします。 また、シリコン、微細電鋳のMEMS試作加工受託を開始しました。 【サービス内容(一部)】 ■ウェハ成膜加工 ■ウェハパターニング加工 ■ウェハ再...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 樹脂材料(半導体 LED用途)の分析 製品画像

    樹脂材料(半導体 LED用途)の分析

    樹脂材料を分析し、製品性能に与える特性を評価することが可能!

    株式会社アイテスでは、樹脂材料(半導体 LED用途)の分析を行っております。 MOSFET、ICといった半導体製品、LEDパッケージには、エポキシ樹脂や シリコーン樹脂といった 樹脂材料が多く使用されています。 これらの特性は製品の性能に大きく寄与します。当社ではこれらの 樹脂材料を分析し、製品性能に与える特性を評価することが可能です。 【分析・評価方法】 ■DSC ■TMA ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ポリウレタンゴムの動的粘弾性測定 製品画像

    ポリウレタンゴムの動的粘弾性測定

    圧縮モード以外の引張、せん断、曲げモードにおいても!同様にマスターカー…

    株式会社アイテスの品質技術、ポリウレタンゴムの動的粘弾性測定 についてご紹介いたします。 DMAは高分子材料に周期的な振動荷重を与え、生じる応力と位相差から、 弾性や粘性を温度の関数として測定する分析です。今回は、円柱状の ゴム試料を用いて、圧縮モードで測定を行いました。 測定結果は、Tan δの温度分散曲線より、-15.7℃にガラス転移温度を 有していることを示し、 時間―温度換算...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 断面観察前処理(試料切断・樹脂包埋) 製品画像

    断面観察前処理(試料切断・樹脂包埋)

    バンドソーなどの試料切断用の装置を使用した断面観察前処理についてご紹介…

    株式会社アイテスが行う、断面観察前処理(試料切断・樹脂包埋)について ご紹介します。 大型の基板や厚みのある部品を切断するのに適したバンドソー 「HOZAN K-100」をはじめ、アイソメット「ビューラーLow speed saw」 などの試料切断用の装置を使用。 「HOZAN K-100」では、X150mm、Y230mm、Z70mm程度までの大きさの 試料を切断できます。 ま...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • アイソメットによるスライス加工 製品画像

    アイソメットによるスライス加工

    作製した断面をそのまま残しておくことが可能なスライス加工をご紹介します…

    株式会社アイテスは、アイソメットによるスライス加工を行っています。 複数列あるコネクタピンの全てを断面観察したい場合、削り進めて次の列へ… という手順が通常ですが、スライス加工を行えば、作製した断面をそのまま 残しておくことが可能です。 また、複数列あるコネクタピンのスライス加工の事例もございます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 化学反応機構研究所材料劣化解析(PETの分解・劣化) 製品画像

    化学反応機構研究所材料劣化解析(PETの分解・劣化)

    ポリマー材料やサンプルの状態などに応じて適切な分析方法をご提案!

    株式会社アイテスでは、材料劣化解析を行っております。 ポリマー材料やサンプルの状態などに応じて適切な分析方法をご提案。 材料がどのような劣化過程を辿ったかを解析し、ポリマー材料や使用環境を 適切にすることで製品の寿命を延ばす事が可能です。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 太陽光発電設備の不具合調査 製品画像

    太陽光発電設備の不具合調査

    太陽電池モジュールや太陽光発電設備でのお困りごとの解決策を、故障検出の…

    )にて欠陥構造や原因物質を明らかにします。 ※調査分析は、基本的に弊社へ対象パネルを送っていただいての作業となります。 ※第1段階の調査のみ、ご希望に応じて、現地作業でも対応いたします。 株式会社アイテスは、EL/PL検査装置のメーカーでもあります。アイテスの検査装置を使えば、肉眼では問題のない外観でも、パネルの欠陥がはっきりと写し出されます。また、断面観察や分析の技術も持ち合わせており...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【評価用パターンウェハー】小ロット~カスタマイズオーダーまで対応 製品画像

    【評価用パターンウェハー】小ロット~カスタマイズオーダーまで対応

    数枚の試作加工でも問題無く受け付けており、マスクの設計から断面の寸法測…

    株式会社アイテスが取り扱っている「評価用パターンウェハー」「シリコンウェハー販売」「化合物半導体」をご紹介します。「評価用パターンウェハー」は、CMP/成膜装置/洗浄装置/各種素材の評価用として、様々な構造のテスト用パターンウェハーを作成。 数枚の試作評価でも問題無く受け付けており、マスクの設計から断面の 寸法測定に至るまで、非常に柔軟な対応に定評があります。 【特長】 <評価用パターン...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • Φ8インチIC・MEMSファウンドリーサービス開始 製品画像

    Φ8インチIC・MEMSファウンドリーサービス開始

    最大8インチMEMSラインを有するオムロン野洲事業所にてウェハ工程の試…

    ラー、RF MEMS など)  各種半導体(IC、パワーデバイス など)  光学素子(アパーチャ、レンズ など)  機能構造(poly-Si TSV など) 加工場所: オムロン株式会社 野洲事業所(滋賀県野洲市) ~ 8インチ半導体ライン 及び 8インチMEMSライン ~ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • パワーデバイスの逆バイアス試験(最大2000V) 製品画像

    パワーデバイスの逆バイアス試験(最大2000V)

    不良基準(電流値)の設定が可能!高温及び高電圧通電によりデバイス劣化及…

    株式会社アイテスでは、パワーデバイスの酸化膜及び接合部評価の 高温逆バイアス試験(HTRB)が最大2000Vまで印加できます。 試験中のリーク電流のモニタリングにより、リアルタイムでデバイスの 劣化状況が把握可能。電源が独立しているために試験中に一つのデバイスが 故障した場合でも他のデバイスに影響を及ぼしません。 また、不良基準(電流値)の設定が可能で不良判定デバイスの電源を 不良判...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • パワーサイクル試験と特性評価 製品画像

    パワーサイクル試験と特性評価

    パワーサイクル試験装置を使用したパワーサイクル試験の受託!故障解析・分…

    株式会社アイテスでは、シーメンス製(メンター製)のパワーサイクル 試験装置を使用した、パワーサイクル試験の受託を行っています。 試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能です。 また、パワーデバイスの各種観察・測定にも対応しています。 パワーサイクル試験などの試験前後の変化を捉えることができます。 【特長】 ■試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能 ■パワーデバイス...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【保有設備】FIB(Focused Ion Beam) 製品画像

    【保有設備】FIB(Focused Ion Beam)

    半導体、MEMS、液晶ガラスなど!微小領域の断面加工やTEM試料の作製…

    株式会社アイテスが保有する設備、集束イオンビーム「FIB」をご紹介します。 「FIB(集束イオンビーム)」は、Gaイオンを数μm以下に絞り、ビームを 走査させて試料表面の原子を弾き飛ばしながら微小領域を加工する装置です。 半導体、MEMS、液晶ガラス、ビルドアップ基板など、微小領域の断面加工や TEM試料の作製が可能です。 【保有設備】 ■クロスビームFIB「Carl Zeiss...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ミクロトームによる断面作製 製品画像

    ミクロトームによる断面作製

    液晶偏光板やアルミ缶など!フィルムなど、柔らかい材料の断⾯作製に適して…

    株式会社アイテスでは、ミクロトームによる断面作製を行っています。 「ミクロトーム」は、ガラスやダイヤモンドのナイフで試料を薄くスライスして TEMやSEM、OMやLM用の断面観察試料を作製する装置です。 硬い材料は苦手ですが、フィルムなど、柔らかい材料の断面作製に適しています。 【断面観察事例】 ■液晶偏光板 ■アルミ缶 ■テレフォンカード ■携帯電話のケース ■フレキシブ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】超微小硬度計による負荷除荷モード&カラーフィルター測定例 製品画像

    【資料】超微小硬度計による負荷除荷モード&カラーフィルター測定例

    カラーフィルターの硬度測定例や、グラフを用いて硬度測定で得られる結果を…

    当資料は、株式会社アイテスによる『超微小硬度計による負荷除荷モード& カラーフィルター測定例』についてのご紹介しています。 硬度測定で得られる結果をグラフを用いて解説。そのほかにも、不要になった ディス...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 有機物の分子構造を、もっとはっきりさせてみませんか? 製品画像

    有機物の分子構造を、もっとはっきりさせてみませんか?

    NMR分析で類似分子構造の化合物を区別し、側鎖、置換基の結合位置や枝分…

    株式会社アイテスでは、フタル酸エステル類の1H NMR分析を行っております。 類似分子構造の化合物を区別し、側鎖、置換基の結合位置や 枝分かれ構造などの構造解明にNMR分析は有効な手法です。 有機合成、高分子合成において、狙った分子構造物を得られたのかの確認には 必須の分析で、 医薬品、サプリメント、食品、繊維など、その特性効果・効能は 分子団の置換基の場所や分子構造により左右されます...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】重合度、分子量の差をIR分析で検証 製品画像

    【資料】重合度、分子量の差をIR分析で検証

    エチレン部に基準ピークを設け、エーテル結合に関与するピークに着目しまし…

    当資料は、株式会社アイテスによる『重合度、分子量の差をIR分析で検証』 についてご紹介しています。 ポリエチレンオキサイド(PEO)は、その極性構造由来の特性により多くの 用途で使用されており、リチウム...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 異物分析・成分分析 顕微ラマンとFTIR比較 製品画像

    異物分析・成分分析 顕微ラマンとFTIR比較

    異物などの成分分析、定性分析には分光分析が適しています

    株式会社アイテスのラマン分光分析とFTIRとの比較についてご紹介します。 異物などの成分分析、定性分析には分光分析が適しています。 ラマンとFT-IRはどちらも分析対象の構造に基づいたスペクトルを 取得する事ができます。 しかし、得手不得手があるため、分析対象に応じて 両者を使い分ける事が必要です。 【特長】 ■IRでは分析困難な数μmオーダーの測定が可能 ■サンプリングが不...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 化学反応機構研究所 フタル酸エステル1HNMR 製品画像

    化学反応機構研究所 フタル酸エステル1HNMR

    似通った構造の化合物を区別して同定!プロトンの個数、構造の特長などの情…

    株式会社アイテスでは、フタル酸エステル類の1H NMR分析を行っております。 似通った構造の化合物を区別して同定するにはNMR分析やGCMS分析が有効です。 当分析では、積分値からプロトンの個数、ケミカルシフトから官能基など 構造の特長、またカップリングパターンやカップリング定数から周りの プロトンとの位置関係などの情報を得る事ができます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 樹脂の変質劣化をFT-IR分析で確認してみませんか? 製品画像

    樹脂の変質劣化をFT-IR分析で確認してみませんか?

    有機分子団(官能基)の吸収波長を検出し分析します!

    株式会社アイテスでは、樹脂の変質劣化を確認する「FT-IR分析」を 行っております。 樹脂の劣化は、目に見える変色もあれば、見えない変質もあります。 変色では外観変化で把握できますが、見えない変質は強度低下に繋がり、 様々な不具合の起点となります。 IRによる分析は、その変質による分子構造変化を把握する事が可能です。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 太陽光パネル保守・メンテナンスに eソラメンテ 製品画像

    太陽光パネル保守・メンテナンスに eソラメンテ

    太陽光パネルをもっと点検してほしいから

    「eソラメンテ」シリーズは、住宅・小規模太陽光発電設備向けの750V対応機です。eソラメンテ-Z eZ-10と電流センサーeA-10があります。 eZ-10は、接続箱の各ストリングP/N端子をプローブし、故障パネルのあるストリングを検出する点検装置です。特殊な検出信号をストリング回路に印加し、開放電圧と直列抵抗(インピーダンス)を測定、異常のあるストリングを判別します。 eZ-10のス...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 太陽光パネル保守・メンテナンスに ソラメンテ SZ-1000 製品画像

    太陽光パネル保守・メンテナンスに ソラメンテ SZ-1000

    華麗なる変身。1500V対応 ソラメンテ-Z誕生。

    ストリングチェッカー ソラメンテ-Z SZ-1000は、太陽光パネル故障をストリング単位で特定できます。 SZ-1000は、接続箱の各ストリングP/N端子をプローブし、故障パネルのあるストリングを検出する点検装置です。特殊な検出信号をストリング回路に印加し、開放電圧と直列抵抗(インピーダンス)を測定、異常のあるストリングを判別します。 SZ-1000は、高圧・特高向けに直流電圧150...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • In-Situ常時測定 信頼性評価試験サービス 製品画像

    In-Situ常時測定 信頼性評価試験サービス

    In-Situ常時測定 信頼性評価試験サービス

    In-Situ常時測定 信頼性評価試験では、特性を測定しながら、ストレスを印加し信頼性評価試験を行います。 ●正確な故障時間の把握が可能  決まった時間にストレス環境より取り出して測定するリードアウト方式では、リードアウトのタイミングでしか故障の把握ができず、正確な故障発生時間を知ることはできません。  In-Situ測定では、正確な故障時間の把握ができます。 ●回復性故障の検出が...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • パワーデバイスの故障解析 製品画像

    パワーデバイスの故障解析

    ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・…

    あらゆるサイズ・形状のダイオード・MOS FET・IGBT等の パワーデバイスに対し最適な前処理を行い 裏面IR-OBIRCH解析や裏面発光解析により不良箇所を特定し観察いたします。 ■解析の前処理-裏面研磨-  各種サンプル形態に対応します。  Siチップサイズ:200um~15mm角 ■不良箇所特定-裏面IR-OBIRCH解析・裏面エミッション解析-  IR-OBIRCH...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 半導体製品の信頼性トータル・ソリューション 製品画像

    半導体製品の信頼性トータル・ソリューション

    半導体製品に関わる部品・装置・材料の開発評価の困難をサポート

    【試験・評価・分析・解析】  ●信頼性試験   ■温度サイクル試験   ■冷熱衝撃試験   ■高温保存試験   ■高度加速寿命試験   ■プリコンディショニング   ■ホットオイル試験   ■In-situ常時測定   ■イオンマイグレーション試験   ■エレクトロマイグレーション試験   ■テストコンサルティンング  ●評価試験   ■接合強度試験:プル/ シェア試験 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ESD(HBM・MM)試験受託サービス 製品画像

    ESD(HBM・MM)試験受託サービス

    DUTボード作製から試験まで!ご要望や目的に応じた試験をご提案、実施致…

    『ESD(HBM・MM)試験サービス』は、半導体製品およびそれを含む 電子部品の信頼性として重要なHuman Body ModelとMachine Modelの ESDによる破壊に対する耐性を評価します。 512ピンまでのICモジュール、半導体製品、サブシステム等の製品に対応。 ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を 実施します。また...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 形状記憶合金の変態温度測定 製品画像

    形状記憶合金の変態温度測定

    物質が温度変化にともない相変態を起こすとき、熱エネルギー変化が起こりま…

    形状記憶合金は、変形させても固有の温度以上にすると元の形状に戻る という特性を持つ合金であり、形状記憶性の発現は、 相変態(マルテンサイト変態)によるものです。 変態時の熱エネルギー変化をDSCにて捉える事で、3種類の形状記憶合金 製品の変態温度を測定し、元素分析によって組成との関係を調べました。 変形した針金をお湯に漬けると一瞬で元の形状に戻ります。 【DSCによる変態温...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 促進耐候性試験<キセノンウェザーメーター> 製品画像

    促進耐候性試験<キセノンウェザーメーター>

    自動車、塗料、建築、プラスチック、印刷物、繊維など!様々な分野で試験と…

    「キセノンウェザーメーター」は、光源にキセノンアークランプを用いた 促進耐候性試験機で、照射、温湿度、降雨などの暴露条件を組み合わせることで 屋外や屋内の環境を人工的に再現し、自然暴露試験よりも短い時間で 試験体の劣化を促進させて耐候性・耐光性を評価します。 光源のキセノンランプは、太陽光の紫外・可視部に極めて近似した分光分布を 持ち、適切なフィルタの使用と放射照度を正確に制御。屋外...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 機械研磨による3D構築 製品画像

    機械研磨による3D構築

    X線CTとFIBスライス断面による3D構築のメリット・デメリットや機械…

    機械研磨による3D構築手法を事例にてご紹介致します。 セラミックコンデンサは内部に薄膜の電極が積層された構造をしており、X線CT では内部の電極は透けてしまって確認する事ができません。また、FIBスライス 断面による3D構築は試料が数mmである為、局所的な確認に留まります。 機械研磨による3D構築手法は、X線CTとFIBスライス断面の不得意とする領域を 補う形で3D構築が可能とな...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【成分分析】GC-MS ガスクロマトグラフ質量分析計 製品画像

    【成分分析】GC-MS ガスクロマトグラフ質量分析計

    新しく装置を導入!試料に含まれる成分の定性・定量を目的とした分析手法を…

    島津製作所社製の「GC-MS ガスクロマトグラフ質量分析計」を 導入しました。 試料に含まれる成分の定性・定量を目的とした分析手法の一つで、 部品・部材・残存溶媒や添加剤など、揮発性有機物の定性・定量に 用いられる分析装置です。 測定対象がガス化することが必要条件(沸点300℃未満)となりますが、IRや RAMANに比べ感度が高い点、GC部での成分分離が可能な点から、混合物の ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 卓上型SEM(電子顕微鏡)『TM3030Plus』 製品画像

    卓上型SEM(電子顕微鏡)『TM3030Plus』

    試料の観察や元素分析が可能!半導体、電子部品分野のみならず、ライフサイ…

    当社では、日立ハイテク社製の卓上型SEM(電子顕微鏡)『TM3030Plus』を 取り扱っています。 SEM観察が一般化されて半世紀。様々な分野にてSEM観察は重要な観察手段と なっています。 卓上型SEMの"帯電軽減モード"なら、FE-SEMでは観察できない試料も観察、 分析が可能。半導体、電子部品分野のみならず、ライフサイエンス、 生物分野でも活用できます。 【特長】...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • LEDのトータルサポートサービス 製品画像

    LEDのトータルサポートサービス

    LEDをあらゆる角度から徹底評価、検証します

    ■総合力  信頼性試験から電気特性測定、光学特性測定、さらに分析・解析までの一貫評価耐性 ■充実した解析手法  ・順方向バイアス解析/逆方向バイアス解析  ・可視~赤外まで検出  ・発光解析/OBIRCH解析 ■特殊技術  可視光領域をフィルタリングすることにより、異常部位からの微弱発光を逃さず検出...■LEDの信頼性試験  ・光学特性評価 -紫外光域/可視光域 対応-   L...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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    高温ラッチアップ試験

    高温状態での動作が要求されるデバイスに!高温でのラッチアップ試験をご紹…

    当社が行っている『高温ラッチアップ試験』についてご紹介します。 近年、デバイスの最大使用周囲温度条件下でのラッチアップ試験の需要が増加。 特に、車載部品用のAEC規格では、ClassII(最大使用周囲温度)の試験条件のみ となっており、高温状態での動作が要求されるデバイスでは、高温での ラッチアップ試験が推奨されています。 【ラッチアップ試験の主要規格(抜粋)】 ■JEDE...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • パワーデバイスのトータルソリューションサービス 製品画像

    パワーデバイスのトータルソリューションサービス

    パワーデバイスをあらゆる角度から徹底評価、検証します

    ■解決する力  知識と技術でかいけつに導くコンサルティング  スピード対応でお客様スケジュールを支援 ■つきとめる力  故障個所をピンポイントし可視化する技能  深い洞察力と高度かつ繊細な試料加工技術 ■特化した設備  最高180℃での液槽熱衝撃試験  パワー半導体に必須のパワーサイクル試験...■パワーデバイスの信頼性試験 ・パワーサイクル試験  定電流600A max.(V...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EBSD解析 製品画像

    EBSD解析

    結晶方位や結晶粒径の変化が解析可能!EBSD(電子線後方散乱回折)法を…

    EBSD法とは、試料の持つ結晶構造の情報を基に連続的に取り込んだパターン の結晶方位を算出することにより、結晶粒の分布、集合組織や結晶相分布を 解析する手法です。 金属やセラミック等の結晶質のものは、立方体等の結晶格子が多数集まって 構成されていると考えられおり、当解析法では、それがどのような方向を 向いているのか(結晶方位)を解析。 IQマップ(イメージクオリティーマップ)を...

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