• 露出型弾性固定柱脚工法『フリーベース工法』※設計ハンドブック進呈 製品画像

    露出型弾性固定柱脚工法『フリーベース工法』※設計ハンドブック進呈

    PR煩雑な設計作業を省力化。部材・施工品質の安定化も実現。SASST技術評…

    『フリーベース工法』は、一般的な工法と同等の強度を確保しつつ 設計時の作業性や施工品質を高めた、中・小規模物件向けの柱脚工法です。 規定の仕様から主要部材を選択するため、選定作業の簡略化が可能。 一貫構造計算プログラムに組み込まれた型番の選択で、許容応力度の検討も容易です。 当社提供の部材を使って指定業者が施工することで、安定した施工品質を実現。 また、実大実験で構造安全性を確認...

    メーカー・取り扱い企業: フルサト工業株式会社 建材開発部

  • ドローンハウス『DAIKA HOUSE』 製品画像

    ドローンハウス『DAIKA HOUSE』

    PRドローン教習の室内練習場にも適した、最短2ヶ月の短工期・高強度のテント…

    『DAIKA HOUSE』は、一級建築士により構造計算されたトラス構造のスチール製フレームと、 耐久性に優れた特殊膜材による高強度のテント倉庫です。 合理的な構造と当社が長年培った技術によって施工を行うため、低価格・短工期で設置ができます。 近年ニーズの高まるドローン教習所の室内練習場としても使え、最大離陸重量25kg未満の ドローンの講習修了審査で求められる、縦13m×横21m×高さ5mの空...

    • s1.jpg
    • s2.jpeg
    • s3.jpeg
    • s4.jpeg

    メーカー・取り扱い企業: 大嘉産業株式会社 産業資材事業部 産業施設部

  • 異物分析のための試料加工技術 製品画像

    異物分析のための試料加工技術

    各種の試料加工技術を駆使して迅速な分析結果をご報告!当社の試料加⼯技術…

    エレクトロニクス製品の歩留に大きな影響を与える異物は、いち早く 分析することが要求されます。 当社は、各種の試料加工技術を駆使して迅速な分析結果をご報告します。 資料では、多層膜中に埋もれた異物の掘り出しやマイクロ切削ツールの 概要についてご紹介しております。 【マイクロ切削ツール 仕様】 ■刃先の幅:50μm又は100μm ■切削可能深さ:2~300μm 程度 ■切削...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】液晶材料とその分析技術 製品画像

    【資料】液晶材料とその分析技術

    分子構造から解析する、アイテスの技術力を図や表とともにわかりやすく解説…

    当資料では、分子構造解析のための分析手法として一例をご紹介しています。 液晶高分子(LCP)をはじめ、IRによる構造解析やラマンによる構造解析、 GC-MS分析による低分子液晶(for LCD)のTICデータ、および検出物質などを 図や表とともに掲載。 量子レベルでの分析解析には、層の厚い技術集団「アイテス」へ、 是非ご相談ください。 【掲載内容(抜粋)】 ■液晶高分子(...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • FT-IR分析のための液体異物サンプリング技術 製品画像

    FT-IR分析のための液体異物サンプリング技術

    キャピラリーを用いて表面張力によってサンプリング!FT-IR分析が可能…

    従来、液状異物のサンプリングは非常に困難とされて来ました。 FT-IR分析のための液体異物サンプリング技術では、キャピラリーを ⽤いて表⾯張⼒によってサンプリングし、FT-IR分析が可能です。 【サンプリング手順】 ■基板上の液体異物 ■キャピラリーによるサンプリング ■Siウェハ上に液体を載せ替えFT-IR分析 ■キャピラリーにてサンプリング中 ■Siウェハに載せ替え ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • CCDカメラモジュールの断面加工観察 製品画像

    CCDカメラモジュールの断面加工観察

    当社の高い技術で、難易度の高い試料の断面も作製できます!

    CCDカメラモジュールは、小さな筐体の中にセンサや制御素子、AF駆動機構など 電子技術と機械技術を融合した複雑な構造で構成されています。 また材料も金属、ガラス、樹脂など多数使用されており、断面作製は困難な 部類となります。 当社では、高い技術で、このような難易度の高い試料の断面も作製できます。 【CCDカメラモジュール断面】 ■小さな筐体の中に複数のレンズやフィルターが内...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • LEDの故障解析 製品画像

    LEDの故障解析

    高度な試料作製技術と半導体用の故障解析装置を応用!不点灯や輝度劣化の原…

    当社の「LEDの故障解析」では、高度な試料作製技術と半導体用の 故障解析装置を応用し、LEDの故障解析を行い不点灯や輝度劣化の 原因を調査します。 「LED不良モードの切り分け」では、レンズ研磨後の点灯試験、 観察LEDの樹脂をそれぞれ、a, b, c まで研磨し、(a),(b)点灯観察、 (c)樹脂越しのチップの光学観察を行いました。 この他にも「電気的正常」、「オープン、高...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】機械研磨法による加工ダメージ 製品画像

    【資料】機械研磨法による加工ダメージ

    研磨の仕上がりにご不満、疑問をお持ちの際は、アイテスにご相談ください!

    当資料は、機械研磨法による加工ダメージについてのご紹介をしています。 機械研磨は歴史の長い断面作製手法であり、断面作製領域が最大で数cmから 10cm程度と広範囲で断面を作製することが出来ます。 しかし、加工に伴う変質層や段差、延び(ダレ)、刺さりなどのダメージが 生じ「有るはずのものが無い」、「無いはずのものが有る」といった問題が 発生することがあります。 アイテスでは、...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料集】LCDパネル解析資料集 製品画像

    【資料集】LCDパネル解析資料集

    LCD解析でお困りのあなたに、 私たちアイテスが解決のお手伝いをしま…

    LCD解析でお困りのあなたに、 私たちアイテスが解決のお手伝いをします! 構造解析:  刻々と進化するFPD製品・先端技術が組み込まれた製品に対して、  特性・構造上の潜在的問題点がないかを評価しご報告します。 不良解析:  増え続ける海外製造品の製造不良に対して、  最短ルートでアプローチ・原因究明いたします。 信頼性試験:  お客様の目的・必要性に応じて、豊富なノウハウに...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【X線透視・CT検査装置】透過観察と画像処理技術の併用事例 製品画像

    【X線透視・CT検査装置】透過観察と画像処理技術の併用事例

    画像処理により正常品画像と不良品画像の差分を検出!透過観察と画像処理技…

    X線透視・CT検査装置による透過観察と画像処理技術の併用事例をご紹介します。 正常基板の透過X線像や不良基板の透過X線像では、配線が複雑に張り巡らされ 一見しても異常部は見つかりませんでしたが、画像処理により正常品画像と 不良品画像の差分を検出できました。 基板配線のパターン異常などでは広範囲の視野から不良個所の特定は困難ですが、 画像処理ソフトと併用する事で異常部の発見が可能と...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

1〜8 件 / 全 8 件
表示件数
15件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

PR