• 高層物件から戸建住宅までデザインとクオリティを追求した手すり 製品画像

    高層物件から戸建住宅までデザインとクオリティを追求した手すり

    PR高度な技術で実現した機能性と安全性!高強度支柱補強で、水滞留なし!【大…

    いつでも安心で、ずっと快適に過ごせるように。さりげなく街になじみ、やさしく人とふれあう。 ビニフレームの「アルミ手すりシリーズ」は、長年の高い技術力と先進の感性で暮らしを彩り、 笑顔あふれる未来を創造するお手伝いをします。 弊社手すりは、施工性にも配慮し、豊富なバリエーションからお好みの意匠をお選びいただけます。 【掲載内容】 ■製品体系/製品紹介/製品詳細 ■取付方法 ■手すり強度区分別適応...

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    メーカー・取り扱い企業: ビニフレーム工業株式会社

  • 【技術資料】点検支援技術で高度化・効率化へ 製品画像

    【技術資料】点検支援技術で高度化・効率化へ

    PR人手不足を解決する点検支援技術を掲載した技術資料を進呈!高解像度画像の…

    技術資料『点検支援技術で高度化・効率化へ』では、高解像度画像を活用 した100m先でも一定の品質を担保する画像点検技術や、通行規制なしで トンネルを撮影する走行型システム、ドローンを使用しない鋼橋及び鋼橋 コンクリート撮影技術、波の揺れを瞬時に制御し撮り漏れのない撮影可能な 揺動制御型撮影システム等を掲載しています。 【掲載技術】 ■遠方自動撮影システム 100m先でも一定の品...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東設土木コンサルタント

  • 異物分析のための試料加工技術 製品画像

    異物分析のための試料加工技術

    各種の試料加工技術を駆使して迅速な分析結果をご報告!当社の試料加⼯技術…

    エレクトロニクス製品の歩留に大きな影響を与える異物は、いち早く 分析することが要求されます。 当社は、各種の試料加工技術を駆使して迅速な分析結果をご報告します。 資料では、多層膜中に埋もれた異物の掘り出しやマイクロ切削ツールの 概要についてご紹介しております。 【マイクロ切削ツール 仕様】 ■刃先の幅:50μm又は100μm ■切削可能深さ:2~300μm 程度 ■切削...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】液晶材料とその分析技術 製品画像

    【資料】液晶材料とその分析技術

    分子構造から解析する、アイテスの技術力を図や表とともにわかりやすく解説…

    当資料では、分子構造解析のための分析手法として一例をご紹介しています。 液晶高分子(LCP)をはじめ、IRによる構造解析やラマンによる構造解析、 GC-MS分析による低分子液晶(for LCD)のTICデータ、および検出物質などを 図や表とともに掲載。 量子レベルでの分析解析には、層の厚い技術集団「アイテス」へ、 是非ご相談ください。 【掲載内容(抜粋)】 ■液晶高分子(...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • FT-IR分析のための液体異物サンプリング技術 製品画像

    FT-IR分析のための液体異物サンプリング技術

    キャピラリーを用いて表面張力によってサンプリング!FT-IR分析が可能…

    従来、液状異物のサンプリングは非常に困難とされて来ました。 FT-IR分析のための液体異物サンプリング技術では、キャピラリーを ⽤いて表⾯張⼒によってサンプリングし、FT-IR分析が可能です。 【サンプリング手順】 ■基板上の液体異物 ■キャピラリーによるサンプリング ■Siウェハ上に液体を載せ替えFT-IR分析 ■キャピラリーにてサンプリング中 ■Siウェハに載せ替え ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • CCDカメラモジュールの断面加工観察 製品画像

    CCDカメラモジュールの断面加工観察

    当社の高い技術で、難易度の高い試料の断面も作製できます!

    CCDカメラモジュールは、小さな筐体の中にセンサや制御素子、AF駆動機構など 電子技術と機械技術を融合した複雑な構造で構成されています。 また材料も金属、ガラス、樹脂など多数使用されており、断面作製は困難な 部類となります。 当社では、高い技術で、このような難易度の高い試料の断面も作製できます。 【CCDカメラモジュール断面】 ■小さな筐体の中に複数のレンズやフィルターが内...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • LEDの故障解析 製品画像

    LEDの故障解析

    高度な試料作製技術と半導体用の故障解析装置を応用!不点灯や輝度劣化の原…

    当社の「LEDの故障解析」では、高度な試料作製技術と半導体用の 故障解析装置を応用し、LEDの故障解析を行い不点灯や輝度劣化の 原因を調査します。 「LED不良モードの切り分け」では、レンズ研磨後の点灯試験、 観察LEDの樹脂をそれぞれ、a, b, c まで研磨し、(a),(b)点灯観察、 (c)樹脂越しのチップの光学観察を行いました。 この他にも「電気的正常」、「オープン、高...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】機械研磨法による加工ダメージ 製品画像

    【資料】機械研磨法による加工ダメージ

    研磨の仕上がりにご不満、疑問をお持ちの際は、アイテスにご相談ください!

    当資料は、機械研磨法による加工ダメージについてのご紹介をしています。 機械研磨は歴史の長い断面作製手法であり、断面作製領域が最大で数cmから 10cm程度と広範囲で断面を作製することが出来ます。 しかし、加工に伴う変質層や段差、延び(ダレ)、刺さりなどのダメージが 生じ「有るはずのものが無い」、「無いはずのものが有る」といった問題が 発生することがあります。 アイテスでは、...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料集】LCDパネル解析資料集 製品画像

    【資料集】LCDパネル解析資料集

    LCD解析でお困りのあなたに、 私たちアイテスが解決のお手伝いをしま…

    LCD解析でお困りのあなたに、 私たちアイテスが解決のお手伝いをします! 構造解析:  刻々と進化するFPD製品・先端技術が組み込まれた製品に対して、  特性・構造上の潜在的問題点がないかを評価しご報告します。 不良解析:  増え続ける海外製造品の製造不良に対して、  最短ルートでアプローチ・原因究明いたします。 信頼性試験:  お客様の目的・必要性に応じて、豊富なノウハウに...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【X線透視・CT検査装置】透過観察と画像処理技術の併用事例 製品画像

    【X線透視・CT検査装置】透過観察と画像処理技術の併用事例

    画像処理により正常品画像と不良品画像の差分を検出!透過観察と画像処理技…

    X線透視・CT検査装置による透過観察と画像処理技術の併用事例をご紹介します。 正常基板の透過X線像や不良基板の透過X線像では、配線が複雑に張り巡らされ 一見しても異常部は見つかりませんでしたが、画像処理により正常品画像と 不良品画像の差分を検出できました。 基板配線のパターン異常などでは広範囲の視野から不良個所の特定は困難ですが、 画像処理ソフトと併用する事で異常部の発見が可能と...

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