株式 | イプロス都市まちづくり

PR侵食防止と防草効果の2刀流

主に斜面（法面）に施工する製品となります。「侵食防止(法面保護)はしたいけど、植物は生やしたくない」そんな要望に応える製品を法面保護資材メーカーの多機能フィルター株式会社が考案しました。防草層、遮光層、侵食防止層の異なる不織布の3層構造。※特許取得済 3層が一体化したマット状の製品です。やわらかくしなやかな質感で、多少の凹凸でも馴染む仕様となっています。【新規性】防草シート＋侵食...

メーカー・取り扱い企業：多機能フィルター株式会社

失敗しないプールの作り方第2弾『知っておきたい管理とコスト』

PRプールを設置する時に課題となる、管理方法と維持コストについて押さえるべ…

プールカンパニーは「自宅にプールは夢じゃない！」と確信しこの感動を届けられるように日本でのプール文化の普及を目指しています。今回、プールを設置する上で考慮が必要になるメンテナンス管理や維持コストについて、分かりやすく解説した資料を制作しました。「失敗しないプールの作り方」シリーズの第2弾となります！【知っておきたい管理とコスト：掲載内容】 ■循環ろ過 ■メンテナンスの基本6 ■メンテ...

メーカー・取り扱い企業：マジラインプールカンパニー

【受託分析】レーザー顕微鏡（観察＆測定）

広範囲での観察、計測も可能！レーザー顕微鏡を用いた受託分析のご紹介です

当社では、形状測定レーザマイクロスコープ「VK-X200」を用いた受託分析を行っております。平面計測、幅測定、高さ測定、膜厚測定等の各種、測定ができ、対象のサイズや求める精度により、適した対物レンズを選択し、観察や測定を実施。範囲はレンズに応じて異なりますが、連結機能を有しているため、広範囲での観察、計測も可能です。【特長】 ■平面計測、幅測定、高さ測定、膜厚...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

ラミネートフィルム異物分析事例

異物の位置と異物の成分に着目！異物部の断面作製を行い、元素分析を実施し…

当社が行った、ラミネートフィルムの異物分析事例についてご紹介します。ラミネートフィルムを裏面側より確認すると黒い異物が確認されたため、この黒色異物について発生層の特定や成分分析を行いました。最初に解析の目的に応じて手法を検討致します。今回は異物の位置と異物の成分に着目し、異物部の断面作製を行い元素分析を実施する方針となりました。【事例概要】 ■ラミネートフィル...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【受託分析】レーザー顕微鏡（高精度3D測定＆カラー観察）

試料表面の凹凸形状の3D測定や透明体越しの表面形状測定などが可能です！

当社では、形状測定レーザマイクロスコープ「VK-X200」を用いた受託分析を行っております。 408nmレーザーを用いて観察、計測を実施。測定結果は国家基準につながるトレーザビリティ体系に基づいており、測定機器として非破壊測定に活用できます。レーザー顕微鏡では、試料表面の凹凸形状の3D測定ができ、透明体の膜厚形状や透明体越しの表面形状測定が可能です。【特長】 ■...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

FE-SEM観察（Alワイヤボンディング部結晶粒観察）

⾼輝度電⼦銃による緻密なSEM画像！表⾯情報に敏感なインレンズSE検出…

ZEISS製の「FE-SEM ULTRA55」は、GEMINIカラムを搭載しており、極低加速電圧で高分解能観察が可能な装置です。検出器も複数搭載されており、さまざまなサンプルの観察が可能。 2種類の反射電⼦検出器による組成情報の把握ができ、低加速電圧でも⾼分解能なEDX分析ができます。【特長】 ■⾼輝度電⼦銃による緻密なSEM画像 ■極低加速電圧による極表⾯分析 ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

積層セラミックコンデンサ連続通電試験

試験基板の設計や作製から対応！複数の製品の実力を比較する有効な手法

当社の『積層セラミックコンデンサ連続通電試験』をご紹介します。故障モードをショート(短絡)と仮定して高温・高湿の環境下で直流電圧を連続通電しながら漏れ電流の変化を常時測定で把握する高温・高湿連続通電試験が可能。メーカー別、ロット別等の複数の製品の実力を比較する有効な手法の一つと考えます。また、試験基板の設計や作製から対応いたします。【特長】 ■必要に応じて、デ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

クロスビームFIBによる断面観察

FIB加工をリアルタイムで観察しながら断面観察が可能です。

半導体デバイス、MEMS、TFTなどナノスケールの精度で製造されるエレクトロニクス製品の構造解析を行うための新たな手法：クロスビームFIBにより断面観察をご提案いたします。 ...半導体デバイス、MEMS、TFTトランジスタなどナノスケールで製造されるエレクトロニクス製品の構造解析をクロスビームFIBによる断面観察で行います。１）FIB加工をリアルタイムで観察できるため目...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【資料】EGA-MS／GC-MS分析によるPTP梱包シート分析

錠剤の梱包に使われるPTP梱包シートのポリマー成分と添加剤成分を分析し…

当資料は、『EGA-MS分析、熱脱着・熱分解GC-MS分析による PTP梱包シート分析』についてご紹介しております。工業製品には様々な材料が使われており、例えばポリマーには、添加剤などの低分子成分とポリマーそのものである高分子成分が含まれます。 GCMS分析では、低分子成分は比較的低い温度で揮発する一方、高分子成分は高温で分解させてから分析する必要があります。ここで...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

加圧繰り返し試験

規定圧力の圧縮エアーを送り込み定時間保持！漏れが発生していないかを確認

『加圧繰り返し試験』は、気密性を要求される製品に対して、圧縮エアーを既定圧力で送り込み、漏れが発生しないか確認します。加圧⇔解放状態を繰り返す耐久試験を行うこともでき、環境試験槽との組み合わせで加温状態で実施することも可能。また、圧力データのログから漏れが発生したタイミングを確認することができます。【装置仕様】 ■加圧圧力：Max0.7MPa(ゲージ圧) ■...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

化学分析　おまかせサービス

1試料、Refとの比較込み！候補となる分析手法をまとめて実施

当社で取り扱う『化学分析　おまかせサービス』をご紹介いたします。製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、目的に合った手法を選ぶ必要があります。 ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【資料】MEMS部品の構造解析

MEMS部品の構造を非破壊・破壊的手法を組み合わせ、総合的に解析！

当資料では、MEMS部品の構造解析についてご紹介しています。 X線透視観察にて、パッケージ内部の構造を観察する“加速度センサーの非破壊観察”をはじめ、“加速度センサーの機械研磨後、光学顕微鏡・ SEM観察”や“マイクロフォンの断面観察（CROSS BEAM FIB/SEM）” を掲載。是非、ダウンロードしてご覧ください。【掲載内容】 ■加速度センサーの非破壊観察 ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【資料】XPS（ESCA）による変色変質素材の表面分析

問題の対策や回避が可能！元素および結合状態分析で比較検証した事例をご紹…

素材は、使用環境により変質変色することが多いです。変質変色により製品の性能や意匠性に問題が生じますが、化学分析によりその分子構造の変化を把握解明することで、問題の対策や回避が可能となります。当資料では、表面分析による元素および結合状態分析で比較検証した事例をご紹介しています。【掲載内容】 ■分析サンプル ■XPS（ESCA）による元素分析結果 ■XPS（E...

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信頼性試験に伴う経時変化観察

変化観察に応用でき、追加解析も対応！時系列かつ非破壊で対象物を評価いた…

信頼性試験の間、試料は刻々と変化します。「どの時点でクラックが入ったのか」「劣化の進行はどのように進んでいくのか」「初期状態とどれくらい変化したか確認したい」ということはございませんか？信頼性試験と組み合わせることで、時系列かつ非破壊で対象物を評価いたします。【特長】 ■ウィスカ観察、マイグレーション観察、耐圧観察、はんだ評価、　薬品侵蝕試験、市場での経年...

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【事例集】X線透視・CT検査装置

X線透視観察や斜めCT観察の「BGAはんだクラック解析事例」「表面実装…

当資料では、当社で行ったX線透視やCT検査装置のさまざまな解析事例をご紹介しております。X線透視観察や斜めCT観察の「BGAはんだクラック解析事例」をはじめ、「表面実装LED」や「チップ抵抗の観察事例」などを掲載。【掲載内容（抜粋）】 ■BGAはんだクラック解析事例（X線透視観察） ■表面実装LED ■チップ抵抗の観察事例 ■リフローシュミレータ ■マイクロフォンの観察事例（X線...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【資料】材料の信頼性試験から化学分析までご対応します

保有する知⾒と豊富な装置で不具合、お困りごとを解決いたします！

製品を構成する素材は多種多様ですが、製品性能は素材の特性が鍵を握ることも少なくありません。アイテスでは、素材の信頼性試験から観察、物理/化学分析まで一貫対応いたします。本資料では、プラスチック材料の紫外線/恒温恒湿負荷前後の分子構造、および熱特性変化の⽐較評価を⾏った事例をご紹介します。【掲載内容】 ■恒温恒湿試験、および紫外線照射　（サンプル：ポリエチレ...

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【資料】EPMA分析例その2

EPMAによる分析は、PET、PETH分光結晶で検出することができ、1…

EPMAはEDXと比較すると検出分解能が優れています。 EDXでは元素の検出位置が近く、ピーク分離が困難な場合であっても、 EPMAであればピーク分離が可能な場合があります。当資料は、47Agと17Clのピーク分離についてご紹介。チップ抵抗器の断面観察や、47AgのX線スペクトル、マッピング比較などを掲載しております。【掲載内容】 ■47Agと17Clのピーク分離...

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【資料】ウィスカ観察～平面ウィスカ観察のコツ～

装置による見え方の違いやサンプル角度による見え方の違いや光源などをご紹…

ウィスカは、はんだ付け部や部品リード部に発生するものと思われがちですが、平面部品のめっき表面からもウィスカは発生します。観察するにはちょっとしたコツが必要なのです。当資料では、装置による見え方の違いをはじめ、サンプル角度による見え方の違いや光源やレンズ角度による見え方の違いについて掲載しています。【掲載内容】 ■装置による見え方の違い ■サンプル角度による見え方...

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基板実装部品の断面観察

信頼性試験前後の観察や断面観察に！実装された各種部品の観察例をご紹介

当社で取り扱う『基板実装部品の各種断面観察』をご紹介いたします。身の回りにある様々な電子機器の内部には、電子部品が搭載された基板があります。実装基板を観察すると、多数の部品が所狭しとはんだ接合されているのが分かり、部品が正しく接合されていないと正常に動作しないため確認が必要です。信頼性試験前後の観察や断面観察をご検討の際はお問い合わせください。【観察例(一部)】...

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【資料】ICP発光分光分析（ICP-AES）

原子が励起状態から基底状態に戻るときに生じる原子発光を検出し分析を行い…

ICP発光分光分析では、試料中に含まれる金属元素などを複数同時に検出することが出来ます。当資料では、液晶中に含まれる微量な金属元素の分析例をご紹介。 ICP-AES分析の原理・概要や測定事例を掲載しています。サンプルの状態や分析対象の元素など、お気軽にお問い合わせください。【掲載内容】 ■ICP-AES分析の原理・概要 ■測定事例︓液晶パネル内金属元素のICP-A...

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X線透視・CT検査装置『インダクタコイルの観察事例』

【比較画像あり】内部の形状異常も非破壊観察可能！X線CTと断面SEMを…

インダクタコイルの観察（直交CT観察＋断面観察）事例をご紹介します。動作不良が発⽣したインダクタコイルの中をX線CTで観察。螺旋状に形成された配線の所々に異常形状が発⽣している様⼦が確認されました。 X線CT観察では、3次元的に観察できるため、異常個所の状態がよく分かります。また、異常個所を含む断⾯を機械研磨によって作製し、SEMによる観察を実施しました。 ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【資料】不具合の原因を化学の視点で解決します

不具合の原因を化学の視点で解決！化学、および反応機構でアプローチする方…

クラック、変色、剥離、変形、物性強度低下など、製品、部材などに発生する不具合は様々です。その多くは、製品を構成する材料に原因がある場合が多く、その材料を分析調査することで解決することがあります。当資料では、何が起きているのかを化学、および反応機構でアプローチする方法をご紹介します。【掲載内容】 ■クラック（割れ）、剥離 ■変色、変形 ■化学反応機構（エポキ...

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sMIMによる半導体拡散層の解析

濃度の変化をCの変化として検出！dC／dV信号も取得でき、拡散層の解析…

株式会社アイテスでは、sMIMによる半導体拡散層の解析を行っております。マイクロ波インピーダンス顕微鏡(sMIM)は、ドーパント濃度に線形な相関を持つ信号が特長です。 sMIM(エスミム) は、SPMに装着した金属探針の先端からマイクロ波を照射してサンプルを走査し、その反射波を測定し拡散層の濃度に線形な相関を持つsMIM-C像を得ることができます。反射率から得られるZs...

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【資料】SEG-LCDパネル表示不良解析

GC-MS分析やICP-AES分析など！化学分析により比較解析した事例…

液晶パネルに表示不良が発生した場合、再発防止のためその原因を解明する必要があります。本資料では、温度負荷によって表示ムラが発生したパネルAと表示不良が確認されていないパネルBについて、化学分析により比較解析した事例をご紹介。アイテスは、観察などの初期解析にて原因が見当たらない場合、液晶内部の化学分析から原因を探る事ができ、ここで挙げた手法以外にも試料や目的に応じ...

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【資料】ヘッドスペースGC-MS分析法によるアウトガス分析

ヘッドスペースGC-MS分析法と、液晶パネル偏光板のアウトガス成分分析…

製品の構成材料や梱包材、緩衝材などに溶剤や低分子有機物質、未反応物質が残存するとそれらがアウトガスとして、拡散、または構成素材に浸透し製品寿命や特性、および環境人体に影響を与える場合があります。残存する微量な物質の定性分析、定量分析にはGCMSのヘッドスペース法が有効となります。当資料では液晶パネルに使用される偏光板のアウトガス成分を定性分析した事例をご紹介します。...

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【資料】EPMA分析例

LIF、LIFH分光結晶を用いることで、22Tiと56Baのピーク分離…

EPMAは、EDXと比較すると検出分解能が優れています。 EDXでは元素の検出位置が近く、ピーク分離が困難な場合であっても、 EPMAであればピーク分離が可能な場合があります。当資料では、22Tiと56Baのピーク分離についてご紹介。積層セラミックコンデンサの分析例や、チタン酸バリウム（BaTiO3）の X線スペクトルを掲載しています。【掲載内容】 ■22Tiと56...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【資料】質量分析ガイド

官能基や骨格構造など、様々な分析手法から情報を得て解析！質量分析ガイド…

当資料では、質量分析ガイドをご紹介しております。有機化合物の分析では化合物が有する官能基、骨格構造、質量など、様々な分析手法から情報を得て解析を行います。化合物の質量を知る為の分析として様々な手法があり、それぞれ得意な分析内容や対象があります。また、用途に合わせて使い分けたり、他の分析手法と組み合わせて使うことで必要な情報を得る事が出来ます。【掲載内容】 ■質...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【資料】色差計による樹脂の表色系、および透過率評価

透明樹脂の恒温恒湿試験前後における表色系、透過率の変化結果をご紹介！

樹脂は、成形加工、および調色がしやすいため多くの製品で使用されています。使用される環境によっては、変色しやすいことも事実であり、信頼性試験前後の表色系、および透過率の評価は欠かせません。本資料では、透明樹脂の恒温恒湿試験前後における表色系、透過率の変化結果をご紹介いたします。【掲載内容】 ■（xyY）およびL*a*b*表示系について ■恒温恒湿試験（85℃ 85...

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X線透視・CT検査装置『IC型コイルの観察事例』

X線CT観察によりコイル配線の巻具合なども判断可能！ X線透過観察とは…

IC型コイルの観察事例をご紹介します。 X線による観察では、目的に応じた手法を用いる事で内部の構造を明確に捉える事ができます。透過観察では金属異物などを素早く捉える事ができ、CT観察では立体的に任意の断面の像が得られる為、位置情報や形状が重要な観察に適します。透過観察と異なりコイル配線の巻具合なども判断出来ます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【資料】高分子構造変化の解析

高次構造を分析的手法により評価！ラマン分析は高分子構造についての解析に…

『高分子構造変化の解析』についてご紹介します。当資料では、「ラマン分光分析による高分子高次構造の評価」と「高分子鎖の構造変化」を掲載。高分子の分子構造はその特性に影響を与え、高分子製品の物性に影響し、高分子鎖が集合してつくる高次構造を分析的手法により評価してみました。是非、ご一読ください。【掲載内容】 ■ラマン分光分析による高分子高次構造の評価 ■高分子...

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