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18件 - メーカー・取り扱い企業
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露出型弾性固定柱脚工法『フリーベース工法』※設計ハンドブック進呈
PR煩雑な設計作業を省力化。部材・施工品質の安定化も実現。SASST技術評…
『フリーベース工法』は、一般的な工法と同等の強度を確保しつつ 設計時の作業性や施工品質を高めた、中・小規模物件向けの柱脚工法です。 規定の仕様から主要部材を選択するため、選定作業の簡略化が可能。 一貫構造計算プログラムに組み込まれた型番の選択で、許容応力度の検討も容易です。 当社提供の部材を使って指定業者が施工することで、安定した施工品質を実現。 また、実大実験で構造安全性を確認...
メーカー・取り扱い企業: フルサト工業株式会社 建材開発部
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【TV放映】転落防止システムで高所作業に必須の常設型安全対策!
PR転落・墜落事故から作業者を守る!屋根上・タラップ・車両上部など高所現場…
常設型転落防止システム「アクロバット」は 高所からの墜落・転落を防ぐ、新規格フルハーネス時代の高所安全対策です! 2024年3月31日放送TOKYO MXの【ええじゃない課Biz】にて放映されました。 ぜひ以下から動画をご確認くださいませ! ◆利用シーン ・屋根上での移動・作業時(水平型) ・固定はしご(タラップ)の昇降時(垂直型) ・車両整備や荷台上での移動・作業時(懸垂型) ・屋外での荷役...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社G-Place 設備資材事業グループ
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In-Situ常時測定 信頼性評価試験サービス
In-Situ常時測定 信頼性評価試験では、特性を測定しながら、ストレスを印加し信頼性評価試験を行います。 ●正確な故障時間の把握が可能 決まった時間にストレス環境より取り出して測定するリードアウト方式では、リードアウト...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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海外製部品・製品の中には品質上問題のあるものも含まれています。これらに…
海外製部品・製品の中には、初期動作は問題なくても、 短期間に不具合を引き起こし、故障破壊に至るものもあります。 海外製品を採用・使用される前に、アイテスの 部品・製品 品質評価サービスをご検討下さい。 ■海外製部品評価例 ・部品調達・選定段階での信頼性評価 ・部品・製品メーカー間比較評価 ・現行部品⇒変更部品(コスト削減)の置き換え時の信頼性評価 ■対応...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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はんだ内ボイドの面積率を測定!機械研磨を組み合わせることで総合的な評価…
BGA・CSPはんだの評価では、透過X線画像データから はんだ内ボイドの面積率を測定することができます。 さらに機械研磨を組み合わせることで総合的な評価が可能。 ご用命の際はお気軽にご相談ください。 【特...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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二次元色彩輝度計を用いて測定を行うことで、ムラなどを評価することが可能…
当社では、OLEDなどの発光面の輝度・色度ムラについての 『液晶ディスプレイの輝度・色度ムラ評価』を行っております。 輝度測定(表示面を二次元輝度計で測定)では、液晶ディスプレイ表示面の デジカメ画像と、二次元輝度計で輝度測定を行った結果を比較。 デジカメ画像ではムラの分布が判別...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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性能確認のための良品特性測定、不良特性測定や信頼性評価をすることが出来…
当社では、液晶パネルにおいて特定のTFTに対し、性能確認のための 良品特性測定、不良特性測定や信頼性評価をすることが出来ます。 「TFTの各温度での電気特性測定」では、表示状態のモニターを解体し、 パネル内の画素TFTに対して、電気特性測定が可能。 「DCバイアスストレス試験」では、Ga...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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DUTボード作製から試験まで!ご要望や目的に応じた試験をご提案、実施致…
『ESD(HBM・MM)試験サービス』は、半導体製品およびそれを含む 電子部品の信頼性として重要なHuman Body ModelとMachine Modelの ESDによる破壊に対する耐性を評価します。 512ピンまでのICモジュール、半導体製品、サブシステム等の製品に対応。 ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を 実施します。ま...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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パワーデバイスをあらゆる角度から徹底評価、検証します
温度範囲 -65℃~150℃、-40℃~180℃ 液媒体 Galden D02TS/D03 試料かご(最大) W320xH240xD320(mm) ・パワーデバイスアナライザによる特性評価 最大電圧 3000V、最大電流 20A 小型の部品からパワーデバイスまで幅広く対応 ・絶縁性評価イオンマイグレーション試験 高温高湿環境下で、実使用条件より高い電圧を印加して加速試験...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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変化観察に応用でき、追加解析も対応!時系列かつ非破壊で対象物を評価いた…
たのか」「劣化の進行はどのように 進んでいくのか」「初期状態とどれくらい変化したか確認したい」 ということはございませんか? 信頼性試験と組み合わせることで、時系列かつ非破壊で対象物を 評価いたします。 【特長】 ■ウィスカ観察、マイグレーション観察、耐圧観察、はんだ評価、 薬品侵蝕試験、市場での経年劣化品などの変化観察に応用可能 ■環境試験、観察頻度はお客様のご要望の条...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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分子レベルの構造との関係も推定が可能!熱分析の種類と知る事のできる特性…
⽰唆熱分析装置)> ■観測する変化:温度差、重量変化(cf:Ref) ■知る事のできる特性:熱分解、酸化、脱水 ■適用できる材料:プラスチック、ゴム、セラミックス ■分析事例:樹脂材料耐熱性評価、樹脂材料の無機フィラー量定量、化合物結晶水評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
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デバイス帯電モデル(Charged Device Model)のESD…
■ 各規格波形 JEDEC、JEITA(EIAJ)、AEC に対し ユニット交換で対応します。 ■ 直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Induced CDM) の両方に対応します。 ■印加ピンの接触状態の確認機能により確実に印加します。 ■ダイオード特性判定法による破壊判定対応も可能です。(要相談)...■印加電圧0Vから±4000Vまで、5Vステッ...
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CMOS ICおよびそれを含む半導体製品のラッチアップ破壊に対する耐性…
■ 512ピンまでのICモジュール、電子部品、サブシステムなどの製品に対応します。 ■ JEDEC、JEITA、AEC等の国内外の主要規格に対応した試験を提供します。 ■ お客様のご要望や目的にあった試験をご提案、実施します。 ■ 万一耐性に問題があった場合には、故障解析/原因究明から問題解決までのお手伝いをします。 ...■電流パルス印加法(JEDEC・JEITA・AEC) ■...
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試料表面の凹凸形状の3D測定や透明体越しの表面形状測定などが可能です!
【応用例(抜粋)】 ■機能:外観・光沢 ■詳細説明:光の反射、散乱、ぎらつき、高級感、鮮映性 ■観察対象:メッキ面、鏡面、鋼板 ■評価パラメータ:Rq、Ra、Rku ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
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保有する知⾒と豊富な装置で不具合、お困りごとを解決いたします!
ません。 アイテスでは、素材の信頼性試験から観察、物理/化学分析まで 一貫対応いたします。 本資料では、プラスチック材料の紫外線/恒温恒湿負荷前後の 分子構造、および熱特性変化の⽐較評価を⾏った事例をご紹介します。 【掲載内容】 ■恒温恒湿試験、および紫外線照射 (サンプル:ポリエチレン(PE)ペレット) ■IR、ラマン、およびEGA分析結果 ※詳しくはPDF資...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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透明樹脂の恒温恒湿試験前後における表色系、透過率の変化結果をご紹介!
樹脂は、成形加工、および調色がしやすいため多くの製品で使用されています。 使用される環境によっては、変色しやすいことも事実であり、 信頼性試験前後の表色系、および透過率の評価は欠かせません。 本資料では、透明樹脂の恒温恒湿試験前後における表色系、透過率の 変化結果をご紹介いたします。 【掲載内容】 ■(xyY)およびL*a*b*表示系について ■恒温恒...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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高次構造を分析的手法により評価!ラマン分析は高分子構造についての解析に…
『高分子構造変化の解析』についてご紹介します。 当資料では、「ラマン分光分析による高分子高次構造の評価」と 「高分子鎖の構造変化」を掲載。 高分子の分子構造はその特性に影響を与え、高分子製品の物性に影響し、 高分子鎖が集合してつくる高次構造を分析的手法により評価してみました。 是非、...
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濃度の変化をCの変化として検出!dC/dV信号も取得でき、拡散層の解析…
の変化をCの変化として検出します。 【適用例】 ■sMIM-C:Si, SiC, GaN, InP, GaAs などの各種半導体素子の拡散層の 可視化およびドーパント濃度の半定量評価 ■dC/dV:拡散層形状評価、p/n極性の判定、空乏層の可視化 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
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