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19件 - メーカー・取り扱い企業
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ガラス、ITOなどの透明素材に！各透明樹脂・紫外線照射前後の測定評価も…
当社では、透明素材（透明フィルム／シート、ガラス、ITOなど）の 『曇価（ヘーズ）測定、全光／拡散透過率測定サービス』を行っております。 曇り度合いや光の拡散度合いを測定するヘーズメーター装置を使用。 平行成分P.Tと拡散成分全てを含めた全光線透過率T.Tと平行成分を除いた 拡散透過率DIFの比で表されます。 当サービスのご提供とともに、分子構造視点のデータ解析考察も ご対...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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広範囲での観察、計測も可能！レーザー顕微鏡を用いた受託分析のご紹介です
当社では、形状測定レーザマイクロスコープ「VK-X200」を用いた 受託分析を行っております。 平面計測、幅測定、高さ測定、膜厚測定等の各種、測定ができ、対象の サイズや求める精度により、適した対物レンズを選択し、観察や測定を実施。 範囲はレンズに応じて異なりますが、連結機能を有しているため、広範囲での 観察、計測も可能です。 【特長】 ■平面計測、幅測定、高さ測定、膜厚...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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試料表面の凹凸形状の3D測定や透明体越しの表面形状測定などが可能です！
当社では、形状測定レーザマイクロスコープ「VK-X200」を用いた 受託分析を行っております。 408nmレーザーを用いて観察、計測を実施。測定結果は国家基準につながる トレーザビリティ体系に基づいており、測定機器として非破壊測定に活用できます。 レーザー顕微鏡では、試料表面の凹凸形状の3D測定ができ、透明体の膜厚形状や 透明体越しの表面形状測定が可能です。 【特長】 ■...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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【資料】信頼性試験、曇価測定、IR分析のセットメニューサービス
恒温恒湿試験前後の曇価測定、IR分析で素材の特性、分子構造変化が把握で…
『信頼性試験、曇価（ヘーズ）測定、IR分析のセットメニュー サービス』についてご紹介します。 プラスチック（樹脂）素材は、使用環境により変色、変質する場合があり、 透明素材は、その透明性、高い透過率が価値ある特性となりますが、 劣化変質によりその特性が低下することで、素材としての機能を失います。 当資料では、「信頼性試験装置例」をはじめ「曇価測定結果」や 「IR分析結果」を表と...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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圧縮モード以外の引張、せん断、曲げモードにおいても！同様にマスターカー…
株式会社アイテスの品質技術、ポリウレタンゴムの動的粘弾性測定 についてご紹介いたします。 DMAは高分子材料に周期的な振動荷重を与え、生じる応力と位相差から、 弾性や粘性を温度の関数として測定する分析です。今回は、円柱状の ゴム試料を用いて、圧縮モードで測定を行いました。 測定結果は、Tan δの温度分散曲線より、-15.7℃にガラス転移温度を 有していることを示し、 時間―温...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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新しく装置を導入！試料に含まれる成分の定性・定量を目的とした分析手法を…
島津製作所社製の「GC-MS ガスクロマトグラフ質量分析計」を 導入しました。 試料に含まれる成分の定性・定量を目的とした分析手法の一つで、 部品・部材・残存溶媒や添加剤など、揮発性有機物の定性・定量に 用いられる分析装置です。 測定対象がガス化することが必要条件(沸点300℃未満)となりますが、IRや RAMANに比べ感度が高い点、GC部での成分分離が可能な点から、混合物の ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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規制値は1000ppm！簡易的に規制対象化合物含有の有無を調べる事が出…
フタル酸エステル類は、可塑剤などの添加剤成分として多くの プラスチック製品に使用されていますが、改正RoHS指令により 新たに4種のフタル酸エステル類が規制対象となりました。 当社の「スクリーニング分析」では、簡易的に規制対象化合物含有の 有無を調べる事ができ、500～1500ppm含有が推定された場合には より詳細な定量分析にて判定。 RoHS指令4種以外にも、JIGや食品衛...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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最小5um以上あれば異物のIRデータが取得できます。
■サービス概要 １．顕微ATR法 約5um以上あれば異物のIRデータ取得可能 ２．面分布像 有機物の面内分布の観察が可能 ３．時間変化 秒単位で変化する有機物の状態測定が可能...■特徴 １．測定方法 イメージでデータ収集し、ピクセル単位でスペクトル表示 ２．測定領域 透過法/反射法 175um、ATR法/35um ３．空間分解能（...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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元素同定を行うEELS分析により、物質の結合状態の比較が可能です！
当社では、分析解析・信頼性評価サービスなどを行っております。 EELS分析とEDS分析は、TEM試料に加速した電子を照射することで 元素同定を行う分析手法です。 「異なるカーボン膜」の事例では、状態分析が特長である EELS分析手法を用いてナノ領域での膜質評価を行いました。 EDS分析ではスペクトルの比較からBottom膜のみN,Oを微量に検出。 EELS分析では2つの...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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一部の有機物を検出可能！低分子有機酸を陰イオン交換モードで測定した例を…
当資料は、イオンクロマトによる低分子有機酸の分析事例について 掲載しております。 イオンクロマトではCl-,Br-,SO4^2-以外にも、一部の有機物を検出可能。 分析事例として低分子有機酸を陰イオン交換モードで測定した例を 示します。ぜひ、ご一読ください。 【掲載事例】 ■乳酸、酢酸、プロピオン酸、ギ酸 ■アクリル酸、メタクリル酸 ■安息香酸 ※詳しくはPDF資...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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パネルサイズにより、ICP-AES/MS装置を使い分けて分析する事が可…
信頼性試験前後のパネルを用いてICP測定を行い、定量化を行った事例を ご紹介します。 LCDの液晶分子はパネル内で配向しており、電圧により液晶の配向状態が 変わる事で表示が制御されます。金属元素のようなイオン性物質がパネル 内部に存在すると液晶が正しく駆動せず表示不良が発生。 イオン性物質は、製造時の混入や長期使用で増加することが知られており、 定量化して把握する事がパネル品質...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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パワーサイクル試験装置を使用したパワーサイクル試験の受託！故障解析・分…
株式会社アイテスでは、シーメンス製（メンター製）のパワーサイクル 試験装置を使用した、パワーサイクル試験の受託を行っています。 試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能です。 また、パワーデバイスの各種観察・測定にも対応しています。 パワーサイクル試験などの試験前後の変化を捉えることができます。 【特長】 ■試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能 ■パワーデ...
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エレクトロニクス製品の歩留に大きな影響を与える異物について、各種サンプ…
■多層膜中異物の特殊サンプリング技術 ・基板上金属膜に埋もれた異物 金属膜エッチング⇒Siウエハに載せ替え⇒FT-IR分析 ・多層薄膜中の異物 表面層の切り取り⇒Siウエハに載せ替え⇒FT-IR分析 ミクロトーム/FIB 薄片化⇒Siウエハに載せ替え⇒FT-IR分析...■さらに強化されたマイクロサンプリングツール 新規導入されたマイクロサンプリングツールは 顕微鏡...
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分析の目的や対象物に合わせて提案！誘導体化した試料におけるGC/MS分…
GC/MSにおいて分析困難な物質を分析可能にするための前処理⽅法を紹介します。 GC/MSにおいて分析困難な物質を分析可能な物質に変換する前処理を “誘導体化"と呼びます。エステル化、アシル化、シリル化などがあり、 分析困難な物質の種類や特性などに合わせて使い分けます。 クエン酸溶液、およびエステル化後のクエン酸溶液におけるGC/MS測定を 行ったところ、カルボン酸であるクエン酸...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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半導体製品に関わる部品・装置・材料の開発評価の困難をサポート
【試験・評価・分析・解析】 ●信頼性試験 ■温度サイクル試験 ■冷熱衝撃試験 ■高温保存試験 ■高度加速寿命試験 ■プリコンディショニング ■ホットオイル試験 ■In-situ常時測定 ■イオンマイグレーション試験 ■エレクトロマイグレーション試験 ■テストコンサルティンング ●評価試験 ■接合強度試験：プル/ シェア試験 ...
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TEM（透過型電子顕微鏡）は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析…
TEMは高倍観察のみならず、EDS、EELSによる元素分析、 あるいは電子線回折による結晶構造、面方位、格子定数等の 解析を行う事ができます。...■エミッション発光にて特定した故障部位は FIBにより薄片化しながら観察します。 ■電子の透過力の大きい加速電圧400kVのTEMにて 故障部位を試料厚内に閉じ込めた状態での透過観察とFIB加工を繰り返し 最適な像を得ることができ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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パワーデバイスをあらゆる角度から徹底評価、検証します
■解決する力 知識と技術でかいけつに導くコンサルティング スピード対応でお客様スケジュールを支援 ■つきとめる力 故障個所をピンポイントし可視化する技能 深い洞察力と高度かつ繊細な試料加工技術 ■特化した設備 最高180℃での液槽熱衝撃試験 パワー半導体に必須のパワーサイクル試験...■パワーデバイスの信頼性試験 ・パワーサイクル試験 定電流600A max.(V...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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非破壊でnmオーダーの薄膜の深さ方向分析が可能！分析事例もご紹介いたし…
株式会社アイテスでは、XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析を 行っております。 サンプルとXPSの光電子検出器との角度を変えることにより、光電子の 検出深さを変えることが可能。 これより得られたデータをシミュレーションにより数値的に解析し、 深さ方向のプロファイルに変換します。 通常のイオンエッチング法では測定が困難な表面付近nmオーダーの、 均一な薄膜の深さ方向分析を...
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