東芝ナノアナリシス株式会社 信頼性評価内容
- 最終更新日：2023-12-18 12:56:14.0
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ご要望の仕様に基づいた評価条件にも対応！確かな手順による信頼性評価サービスをご提供
当社試験所は管理された環境と確かな手順による信頼性評価サービスを
ご提供します。
標準規格のほかに、ご要望の仕様に基づいた評価条件にも対応可能。
半導体・電子パネル・電子部品・実装基板・ガラス・各種材料に
対応しています。
【環境試験・機械強度試験(一部)】
■高温試験
■低温試験
■高温高湿試験
■HAST試験/オートクレーブ試験
■温度サイクル試験/気槽冷熱衝撃試験/ヒートサイクル試験
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報信頼性評価内容
【その他環境試験・機械強度試験】
■定速温度変化試験
■液槽冷熱衝撃試験
■リフロー試験
■X線照射試験
■機械強度試験
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ信頼性評価内容
取扱企業信頼性評価内容
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■半導体製品、FPD、電子部品およびそれらの品質信頼性評価用ユニットの 故障解析、構造解析、材料分析、インプロセスQC関連分析、プロセス評価、 清浄化評価、化学分析および評価 ■金属、セラミックス、液晶、高分子材料、新素材、原子力材料の物理分析、 化学分析および評価 ■作業環境測定およびナノマテリアル環境評価、医療、医薬を支援する 封じ込め性能評価や抗がん剤汚染評価
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