東芝ナノアナリシス株式会社

【資料】受託分析サービス　信頼性評価

ISO/IEC 17025の試験所認定取得！管理された環境と確かな手順による信頼性試験サービス

当資料では、東芝ナノアナリシス株式会社で行っている「受託分析サービス 信頼性評価」について詳しく解説しております。 温度変化による熱ストレスを与えて耐性を確認する電子部品の温度サイクル試験や …

【資料】受託分析サービス　非破壊観察

半導体や電子部品の不具合箇所の特定や、新素材の電流分布の測定に有効！

当資料では、東芝ナノアナリシス株式会社で行っている「受託分析サービス 非破壊観察」について詳しく解説しております。 磁場顕微鏡で行うプリント基板配線パターン内の電流経路観察や、 超音波顕微鏡…

受託分析サービス『それ、壊さずに見えますよ!』

半導体・電子部品・有機複合材料などの内部構造や欠陥を拡大して観察できます

『それ、壊さずに見えますよ!』は、隠れた異常が見える受託分析サービスです。 非破壊の観察手法には電流経路を可視化する磁場顕微鏡、剥離を高感度で 検出する超音波顕微鏡、内部構造を3次元で観察でき…

磁場顕微鏡と3次元X線顕微鏡による非破壊解析

これまでの非破壊解析では困難であった低抵抗ショート不良の解析が可能に！

磁場顕微鏡は、電流により発生する磁場分布を測定対象外から測定し、 測定対象内に流れる電流経路を推定する非破壊の解析技術です。 磁場顕微鏡で特定したショートなどの異常個所を3次元X線顕微鏡(X線…

MEMSデバイスの3次元構造観察

高分解能・高コントラストな観察を実現！非破壊で3次元観察することが可能

「MEMS」には、立体的で可動部を有するMEMS構造体が中空で 封止されています。 この構造をあるがままに観察するためには開封などの加工を行わず 観察することが必要です。 3次元X線顕微鏡(X線C…

SiCウェーハのエッチピットの形状解析

SiCウェーハに形成されたエッチピットを3次元X線顕微鏡(X線CT)で観察した事例を紹介！

パワー半導体の普及に向け、低欠陥のSiCウェーハの開発が 進められています。 X線CTは非破壊で物質の形状を3次元的に可視化し、定量評価できる手法です。 PDF資料にて、SiCウェーハに形成された…

オープン・断線箇所特定

外観検査ではわからない内部の状態を非破壊で可視化できます！

電気製品で断線による故障が発生する場合があります。 配線の周囲が不透明な樹脂などで覆われていると、どこで断線が 発生しているか、外観検査だけで探すことは困難です。 そのような場合、X線透…

信頼性評価内容

ご要望の仕様に基づいた評価条件にも対応！確かな手順による信頼性評価サービスをご提供

当社試験所は管理された環境と確かな手順による信頼性評価サービスを ご提供します。 標準規格のほかに、ご要望の仕様に基づいた評価条件にも対応可能。 半導体・電子パネル・電子部品・実装基板・…