東芝ナノアナリシス株式会社 オープン・断線箇所特定
- 最終更新日：2023-12-18 12:56:16.0
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外観検査ではわからない内部の状態を非破壊で可視化できます！
電気製品で断線による故障が発生する場合があります。
配線の周囲が不透明な樹脂などで覆われていると、どこで断線が
発生しているか、外観検査だけで探すことは困難です。
そのような場合、X線透過観察により、断線箇所を見つけることが可能です。
ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。
【概要】
■X線透過観察による断線箇所特定
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報オープン・断線箇所特定
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| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログオープン・断線箇所特定
取扱企業オープン・断線箇所特定
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■半導体製品、FPD、電子部品およびそれらの品質信頼性評価用ユニットの 故障解析、構造解析、材料分析、インプロセスQC関連分析、プロセス評価、 清浄化評価、化学分析および評価 ■金属、セラミックス、液晶、高分子材料、新素材、原子力材料の物理分析、 化学分析および評価 ■作業環境測定およびナノマテリアル環境評価、医療、医薬を支援する 封じ込め性能評価や抗がん剤汚染評価
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