冷熱衝撃試験

株式会社アイテスでは、『冷熱衝撃試験』を行っております。

試料に高温と低温を繰り返し晒す事により、高温・低温の熱による
ストレスだけではなく、各部位の伸縮により応力が発生。
繰り返し応力によってもストレスが加えられます。

電子部品の接合部だけではなく、ネジ等による固定部位の評価としても
当試験が行われます。

【冷熱衝撃試験装置の主なスペック】
■内法：W650×H460×D370mm　温度範囲：-65～0/+60～200℃
■内法：W650×H460×D670mm　温度範囲：-65～0/+60～200℃
■内法：W970×H460×D670mm　温度範囲：-65～0/+60～200℃

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

【試験・評価・分析・解析】
　●信頼性試験
　　■温度サイクル試験
　　■冷熱衝撃試験
　　■高温保存試験
　　■高度加速寿命試験
　　■プリコンディショニング
　　■ホットオイル試験
　　■In-situ常時測定
　　■イオンマイグレーション試験
　　■エレクトロマイグレーション試験
　　■テストコンサルティンング
　●評価試験
　　■接合強度試験：プル/ シェア試験
　　■機械的強度試験：振動・衝撃／落下試験／圧縮強度・ズレ強度
　　■ESD / Latch Up / CDM試験
　　■電気特性計測
　　■塩水噴霧試験
　●分析・解析
　　■X線透過観察
　　■超音波顕微鏡観察
　　■発光解析（EMS/IR-OBIRCH）
　　■走査型電子顕微鏡（SEM）
　　■透過型電子顕微鏡(TEM)
　　■表面汚染分析(TOF-SIMS）
　　■異物分析（FT-IR)



 （詳細を見る）

In-Situ常時測定 信頼性評価試験では、特性を測定しながら、ストレスを印加し信頼性評価試験を行います。

●正確な故障時間の把握が可能
　決まった時間にストレス環境より取り出して測定するリードアウト方式では、リードアウトのタイミングでしか故障の把握ができず、正確な故障発生時間を知ることはできません。
　In-Situ測定では、正確な故障時間の把握ができます。
●回復性故障の検出が可能
　回復性故障は市場において重大な問題を引き起こすことがあります。
　リードアウト方式ではこれら回復性故障の検出がほとんどの場合不可能ですが、In-Situ測定では回復性故障の検出が可能であり、正確な判断/判定ができます。
●試料へのストレス印加状態の監視が可能
　ストレス印加状況および測定データをリアルタイムで確認できます。
 （詳細を見る）

■解決する力
　知識と技術でかいけつに導くコンサルティング
　スピード対応でお客様スケジュールを支援
■つきとめる力
　故障個所をピンポイントし可視化する技能
　深い洞察力と高度かつ繊細な試料加工技術
■特化した設備
　最高180℃での液槽熱衝撃試験
　パワー半導体に必須のパワーサイクル試験 （詳細を見る）

アイテスは、最先端産業分野でお客様の課題に真摯に取り組む
解決提案型企業です。
各種保有装置を駆使し、最適なソリューションを提供します。

■製品解析/不良解析/故障解析
　形態観察・電気特性測定・不良解析・故障解析・試料加工
■信頼性評価試験
　信頼性評価試験・ESD/ラッチアップ試験・強度試験・光学特性
■物理解析/化学分析
　物理解析・表面分析・化学分析 （詳細を見る）

電子部品の接合部は基板全体の信頼性に大きな影響を及ぼします。
特にはんだ接合部においては、形状のみならず、
金属組織の観察が重要になります。 （詳細を見る）

■高度加速寿命試験　5台
■冷熱衝撃試験　24台
■恒温恒湿試験　22台
■液槽冷熱衝撃試験　3台
■高温保存試験
■耐ホットオイル評価試験
■絶縁抵抗連続モニター評価
■導通抵抗連続モニター評価
■エレクトロマイグレーション連続モニター評価
■マイクロフォーカスX線透過観察
■超音波顕微鏡観察
■ESD評価試験
■CDM評価試験
■万能引張評価試験
■断面（研磨）観察サービス（環境試験前後の評価も可能です）
■太陽電池（結晶シリコン/アモルファスシリコン/化合物/有機薄膜など）EL発光現象
■発熱観察 （詳細を見る）

アイテスでは、JIS・JEDEC・MIL等の標準規格に準じた環境試験装置を使用し、
様々なエレクトロニクス製品、部品および材料の信頼性評価受託試験を承ります。

電気試験をはじめ、非破壊観察やパワーサイクル試験
などがございます。

【環境試験】
■高度寿命加速試験
■恒温恒湿試験
■冷熱衝撃試験
■液槽冷熱衝撃試験
■温湿度サイクル試験
■In-Situ常時測定信頼性評価試験サービス

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

信頼性試験の間、試料は刻々と変化します。

「どの時点でクラックが入ったのか」「劣化の進行はどのように
進んでいくのか」「初期状態とどれくらい変化したか確認したい」
ということはございませんか？

信頼性試験と組み合わせることで、時系列かつ非破壊で対象物を
評価いたします。

【特長】
■ウィスカ観察、マイグレーション観察、耐圧観察、はんだ評価、
　薬品侵蝕試験、市場での経年劣化品などの変化観察に応用可能
■環境試験、観察頻度はお客様のご要望の条件にて実施
■電気特性、SEM観察、元素分析、断面観察などの追加解析も対応

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

当社が行った、信頼性試験後のPbフリーはんだ断面観察についてご紹介いたします。

Pbフリーはんだ実装品(Sn/Ag/Cu合金はんだ)を3種の信頼性試験に投入。
初期品と試験後品を比較しクラックの発生有無及び金属間化合物層の
成長具合を確認しました。

クラック進展の経過観察などではんだ接合部の耐久性を段階的に確認するには、
サイクル数ごとに取出して断面観察が行えるTC試験がお勧めです。

【試験条件】
(1) TC試験(温度サイクル) 125℃20分/-40℃20分/1000cyc
(2) HT試験(高温放置) 150℃/1000時間
(3) TH試験(温度湿度) 85℃/85%rh/1000時間

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

当社で行った「冷熱衝撃試験のひずみ測定」についてご紹介いたします。

冷熱衝撃試験装置にひずみゲージを貼り付けたサンプルをセットし、
ひずみゲージの配線は槽外のデータロガーに接続して試験中のひずみデータを
リアルタイムで記録。

二種類の銅張積層板について、冷熱衝撃試験中のひずみ挙動を観測し、
温度の変化に伴い大きなひずみが生じることが観測されました。
FR-1はFR-4に比べ、生じるひずみがより大きいことが分かりました。

【試験条件】
■温度サイクル：-30℃から120℃
■各温度さらし時間：30min
■試験材料
・FR-1 紙フェノール(両面版)
・FR-4 ガラスエポキシ(両面版)
■ひずみゲージ：プリント基板用箔ひずみゲージ

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）