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    【玉石・転石に有効!】硬質地盤に杭、鋼矢板施工『MLT工法』

    PR特殊スクリューが常識を変える!硬質地盤に杭や鋼矢板を施工する『MLT工…

    特殊スクリューが常識を変える! MLT工法(無排土孔壁工法)は、硬質地盤に鋼矢板やH鋼杭等を打ち込むために事前に地盤を削孔・置換する工法です。 圧縮翼・撹拌翼からなる特殊スクリューにより掘削土を孔壁に圧縮することで、孔壁の自立を図り短時間での削孔を可能にしました。その結果削孔時の排土も少なくなります。 特に硬質地盤のうち玉石・転石・岩盤等に効果を発揮し、従来工法に比べコスト縮減・工...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エムエルティーソイル

  • スーパートップ工法 製品画像

    スーパートップ工法

    PR転石のある地盤や岩盤における場所打ち杭の施工、大深度の掘削施工を始め、…

    困難なオールケーシングの大深度掘削を安全に施工するためには、 高い鉛直精度を維持しながらケーシングを押し込む機能、チャック装置の信頼性が大きなポイントになります。 スーパートップ工法に使用されるRTシリーズ・チュービング装置は、 クサビ型チャック装置とクラス最大級の回転トルク・引抜力を持っています。 また、岩石の効率的・経済的な切削をめざして、ビット荷重を一定の値に保持することが可...

    メーカー・取り扱い企業: 太洋基礎工業株式会社

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    クロスセクションポリッシャー(CP)法による断面観察サービス

    高い加工精度と広い加工領域を実現!冷却機能でダメージを軽減しながらの加…

    CP法は、機械研磨法に比べ、研磨によるダメージがない状態で断面を 観察することが可能です。 当社の冷却機能付トリプルイオンミリング装置は、3方向から照射する イオンビームにより、高い加工精度と広い加工領域を実現。 熱に弱い材料の場合には冷却機能でダメージを軽減しながらの加工も可能です。 【特長】 ■加工幅約4mm/加工深さ約1mmと広範囲での加工が可能 ■硬軟材において...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【受託分析】レーザー顕微鏡(高精度3D測定&カラー観察) 製品画像

    【受託分析】レーザー顕微鏡(高精度3D測定&カラー観察)

    試料表面の凹凸形状の3D測定や透明体越しの表面形状測定などが可能です!

    当社では、形状測定レーザマイクロスコープ「VK-X200」を用いた 受託分析を行っております。 408nmレーザーを用いて観察、計測を実施。測定結果は国家基準につながる トレーザビリティ体系に基づいており、測定機器として非破壊測定に活用できます。 レーザー顕微鏡では、試料表面の凹凸形状の3D測定ができ、透明体の膜厚形状や 透明体越しの表面形状測定が可能です。 【特長】 ■...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【受託分析】レーザー顕微鏡(観察&測定) 製品画像

    【受託分析】レーザー顕微鏡(観察&測定)

    広範囲での観察、計測も可能!レーザー顕微鏡を用いた受託分析のご紹介です

    当社では、形状測定レーザマイクロスコープ「VK-X200」を用いた 受託分析を行っております。 平面計測、幅測定、高さ測定、膜厚測定等の各種、測定ができ、対象の サイズや求める精度により、適した対物レンズを選択し、観察や測定を実施。 範囲はレンズに応じて異なりますが、連結機能を有しているため、広範囲での 観察、計測も可能です。 【特長】 ■平面計測、幅測定、高...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • パワーデバイスの故障解析 製品画像

    パワーデバイスの故障解析

    ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・…

             低倍最大視野:6.5mm角 ・エミッション解析: ~2kV まで対応           感度:数nA           低倍最大視野:6.5mm角 ・特定位置精度: ±0.3um、試料厚1.5um~0.1um ・機械研磨SEM観察: 大きな破壊箇所・異物・広範囲の観察 ・拡散層観察: TEM試料加工前に不良箇所近傍にて観察可能        構...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ESD(CDM)試験受託サービス 製品画像

    ESD(CDM)試験受託サービス

    デバイス帯電モデル(Charged Device Model)のESD…

    ■印加電圧0Vから±4000Vまで、5Vステップ ■最大 1024ピン まで対応します。 ■プローブ移動精度:0.1mm ■印加ユニット:JEDEC(JESD22-C101F)、JEITA、EIAJ、AEC ■チャージ法  FI-CDM:電界誘導法(JEDEC・AEC)  D-CDM:直接チャージ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • パワー半導体の解析サービス 製品画像

    パワー半導体の解析サービス

    故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします…

    【故障箇所特定から拡散層評価や結晶構造などの物理解析まで対応】 ■裏面発光/ OBIRCH解析による故障箇所特定 ■故障箇所への高精度位置特定、FIB加工 ■不良箇所のFIB/LV-SEM観察、EBIC解析による拡散層形状評価 ■TEM観察による結晶構造観察、元素分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 引張試験 製品画像

    引張試験

    加温環境下での万能材料試験機(オートグラフ)を用いたプラスチックフィル…

    測定したい材料、物性に合わせて、条件を提案させて頂くことも可能です。 お気軽にご相談下さい。 【試験機仕様】 ■恒温槽温度範囲:-40〜250℃ ■ロードセル:50kN、1kN ■荷重精度:荷重指示値の±1% ■試験速度:0.0005〜1000mm/min ■移動距離 ・引張試験部:1485mm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ダイナミックSIMS 製品画像

    ダイナミックSIMS

    ガラス、金属、セラミックス、Si、化合物半導体、浅いインプラントなどの…

    ミックSIMS』は、試料中に含まれる微量の全元素(H〜U)を ppmからppbの高感度で検出することができる二次イオン質量分析法です。 定性分析及び深さ方向分析ができ、加えて標準試料による高精度な定量分析が 可能。(当社の協力会社での分析実施) 最小ビーム径は約30um、材質によってさらにビーム径を落とすことが できます。 【特長】 ■試料の自動ロード/アンロード、高スル...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • クロスビームFIBによる断面観察 製品画像

    クロスビームFIBによる断面観察

    FIB加工をリアルタイムで観察しながら断面観察が可能です。

    半導体デバイス、MEMS、TFTなどナノスケールの精度で製造される エレクトロニクス製品の構造解析を行うための新たな手法: クロスビームFIBにより断面観察をご提案いたします。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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