【品質向上事例】 NANDデバイスの不良調査

途中で発生する後天的バッドブロックの監視し、発生位置や回数をPCに出力

この書込みシステムは、お客様の検査部門で有効なNANDデバイスの 品質確認のための不良ブロックの確認システムです。 対象デバイスに対して、ERASE-PROGRAM-VERIFY(データは任意に設定可能)を 繰り返し、途中で発生する後天的バッドブロックの監視などを行います。 試験内容の変更(例：ERASEのみを繰り返す)、バッドブロックの発生位置・ 回数のカウントや、動作時の電源...

メーカー・取り扱い企業： 東亜エレクトロニクス株式会社 フラッシュサポートグループカンパニー