【品質向上事例】 NANDデバイスの不良調査東亜エレクトロニクス

途中で発生する後天的バッドブロックの監視し、発生位置や回数をPCに出力

この書込みシステムは、お客様の検査部門で有効なNANDデバイスの
品質確認のための不良ブロックの確認システムです。

対象デバイスに対して、ERASE-PROGRAM-VERIFY(データは任意に設定可能)を
繰り返し、途中で発生する後天的バッドブロックの監視などを行います。

試験内容の変更(例：ERASEのみを繰り返す)、バッドブロックの発生位置・
回数のカウントや、動作時の電源電圧を変えての試験など、お客様のご要求に
あわせたアルゴリズム開発が可能です。

【特長・目的】
■品質管理
■カスタム対応

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関連リンク - http://www.j-fsg.co.jp/case-study/quality-improvem…

基本情報【品質向上事例】 NANDデバイスの不良調査

【業界】
■精密機器、家電・OA機器、携帯・通信機器

【アプリケーション】
■コピー、プリンタ、FAX、複合機など

【デバイス】
■NAND

【対応プログラマ】
■AF9711、AF9724、AF9725、AG9730、AG9730B、AG9731

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