CECソリューションフェア2024

PRCECソリューションフェア2024～DXと生成AIで創るビジネスの未来…

当社設立50周年を記念して、恒例のCECソリューションフェアを更にパワーアップして開催！ 出展52社 150以上の製品・ソリューションを展示いたします。 ＊＊＊ リアルとオンラインでのダブル開催！ ＜朱鷺メッセ＞と＜オンライン特設サイト＞のご都合の良い会場でご参加いただけます。 今話題の生成AIを活用したチャットボットが、製品質問に応え、あなたにぴったりな製品をおすすめします！ スキージャンプレジ...

メーカー・取り扱い企業： CEC新潟情報サービス株式会社

不燃セラミックシリーズ フジマルチ内装用モールディング　FMC型

PR80種類以上の豊富なラインアップ！当社の不燃セラミックをご紹介

当社で取り扱っている『不燃セラミックシリーズ FMC型』 についてご紹介いたします。 様々な形状、断面図サイズの製品を80種類以上にわたって 豊富にご用意。 断面図サイズ15×25(mm)の「FMC-2002」や、 12×21(mm)の「FMC-2009」などを取り扱っております。 【ラインアップ(一部)/断面図サイズ】 ■FMC-2065：15×18(mm) ■FMC...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ティ・エス・シー

太陽光発電設備の不具合調査

太陽電池モジュールや太陽光発電設備でのお困りごとの解決策を、故障検出の…

）にて欠陥構造や原因物質を明らかにします。 ※調査分析は、基本的に弊社へ対象パネルを送っていただいての作業となります。 ※第１段階の調査のみ、ご希望に応じて、現地作業でも対応いたします。 株式会社アイテスは、EL/PL検査装置のメーカーでもあります。アイテスの検査装置を使えば、肉眼では問題のない外観でも、パネルの欠陥がはっきりと写し出されます。また、断面観察や分析の技術も持ち合わせており...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

太陽光パネル保守・メンテナンスに　eソラメンテ

太陽光パネルをもっと点検してほしいから

「eソラメンテ」シリーズは、住宅・小規模太陽光発電設備向けの750V対応機です。eソラメンテ-Z eZ-10と電流センサーeA-10があります。 eZ-10は、接続箱の各ストリングP/N端子をプローブし、故障パネルのあるストリングを検出する点検装置です。特殊な検出信号をストリング回路に印加し、開放電圧と直列抵抗（インピーダンス）を測定、異常のあるストリングを判別します。 eZ-10のス...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

太陽光パネル保守・メンテナンスに　ソラメンテ　SZ-1000

華麗なる変身。1500V対応 ソラメンテ-Z誕生。

ストリングチェッカー　ソラメンテ-Z SZ-1000は、太陽光パネル故障をストリング単位で特定できます。 SZ-1000は、接続箱の各ストリングP/N端子をプローブし、故障パネルのあるストリングを検出する点検装置です。特殊な検出信号をストリング回路に印加し、開放電圧と直列抵抗（インピーダンス）を測定、異常のあるストリングを判別します。 SZ-1000は、高圧・特高向けに直流電圧150...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EBSD解析

結晶方位や結晶粒径の変化が解析可能！EBSD(電子線後方散乱回折)法を…

EBSD法とは、試料の持つ結晶構造の情報を基に連続的に取り込んだパターン の結晶方位を算出することにより、結晶粒の分布、集合組織や結晶相分布を 解析する手法です。 金属やセラミック等の結晶質のものは、立方体等の結晶格子が多数集まって 構成されていると考えられおり、当解析法では、それがどのような方向を 向いているのか(結晶方位)を解析。 IQマップ(イメージクオリティーマップ)を...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ESD/ラッチアップ試験受託サービス

ESD/ラッチアップ試験受託サービス

半導体デバイスやそれを含む電子部品の信頼性として重要な、ESD破壊およびラッチアップによる破壊に対する耐性を評価する試験サービスを提供します。 ■ 512ピンまでのICモジュール、電子部品、サブシステムなどの製品に対応します。 ■ JEDEC、EIAJ、ESDAなどの規格に準拠した試験を提供します。 ■ お客様のご要望や目的にあった試験をご提案、実施します。 ■ 万一耐性に問題...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EBSD法によるCu結晶解析

Cu板における圧縮前後での変化を観察！圧縮前後の結晶粒径の半化を比較で…

EBSD(電子線後方散乱回折)法は、電子線照射により得られた反射電子回折 パターンから個々の結晶の方位情報を取得しマップ化したもので、さらに 定量的、統計的なデータとして結晶方位(配向性)のみならず結晶粒分布や 応力ひずみ等の材料組織状態を調べる手法です。 Cu板における圧縮前後での変化観察では、IQマップ、GRODマップ、 IPFマップ(Axis3方向)を使用し、圧縮前後の結晶粒径...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

太陽光パネル保守・メンテナンスに　ソラメンテ　校正および機器点検

校正・機器点検サービスのご案内です。

●校正 測定器の測定値が、適正であるかを調べるサービスです。 測定値の信頼性を維持管理していくためには、定期的な校正が必要です。 ●点検 測定器の健康状態を確認できます。 故障のもとをいち早く発見できるので、トラブル防止にもつながります。 ...サービス特長 ●校正 直流電圧と抵抗（インピーダンス）の値が適正値内であるかを調べます。 試験後に、校正証明書・検査成績書・トレ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【ソーラーパネル計測器】リユースチェッカーRUC-100

【初心者でも簡単】太陽光パネルの再利用の可否を瞬時に選別！リユース利用…

『リユースチェッカーRUC-100』は、電気の専門知識がない方でも 太陽光パネルの電気的な不良品を判定できるようにすることを目的とした、 簡易の診断機器です。 5つの測定項目を総合的に自動判断し、液晶ディスプレイに○☓判定で 表示することで、容易に選別判定が可能。 測定項目はパネル毎に機器内蔵メモリーに保存できるほか、CSVデータは 出力可能です。 【特長】 ■液晶ディ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EBSD法による解析例

EBSDパターン(菊池パターン)、金ワイヤーボンド接合部の解析例をご紹…

EBSD(電子線後方散乱回折)法は、電子線照射により得られた反射電子回折 パターンから個々の結晶の方位情報を取得しマップ化したもので、さらに 定量的、統計的なデータとして結晶方位(配向性)のみならず結晶粒分布や 応力ひずみ等の材料組織状態を調べる手法です。 例えば、SEM中で試料を大きく傾斜し電子線を照射したとき、試料が結晶性 の物であれば、試料内で電子線回折が生じます。そのパターン...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

電子部品の信頼性試験・分析・解析を一気通貫で対応します！

過渡熱測定可能パワーサイクル試験、カスタマイズ発光/OBIRCH解析装…

アイテスでは信頼性試験、分析・解析などパワーデバイスのトータルソリューションサービスを行っております。過渡熱測定を同時に行える「パワーサイクル試験機」をはじめ、「化合物半導体の故障解析」「拡散層の濃度解析」「モジュールの断面解析」など。具体的実績を元にご提案させていただきます。 キーワード：■パワー半導体全般（チップ、モジュールTIM素材など）■信頼性試験/評価　■構造解析（出来栄え・他社品...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【EBSDによる解析例】シリコンウエハ

測定したシリコンウエハは単結晶！IPFマップ、極点図、逆極点図は比較的…

EBSDで解析したシリコンウエハの事例をご紹介いたします。 ウエハから小片を切り出し、中央50×50μmの領域にてIPFマップを取得。 測定範囲内は、{001}面を表す赤色を示し、また、粒界が見られないこと から単結晶であることが確認できます。 測定したシリコンウエハは単結晶であるため、IPFマップ、極点図、 逆極点図は比較的シンプルな結果になりました。 ※詳しくはPDF資...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【EBSDによる解析例】パイプ

パイプ(オーステナイト)について、EBSDによる解析例を紹介致します

株式会社アイテスは、パイプのEBSDによる解析を実施しています。 EBSD法により結晶サイズの分布を確認することや、配向性を 確認することが可能。 また、マップにHigh lightすることにより、グラフに現れた 特長を可視化できます。 【概要】 ■結晶サイズの分布、配向性を確認 ■グラフに現れた特長を可視化できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

太陽光パネル保守・メンテナンスに　ソラメンテ　SI-200

ソーラーパネルチェッカー SI-200は、発電中に故障パネルを簡単に発…

ソーラーパネルチェッカー　ソラメンテ-iS SI-200は、発電中のパネル表面にセンサーをあて、クラスタ故障*が発見できる点検装置です。インターコネクタに流れる発電電流をセンサーで感知し音階とLEDレベルで表示、発電していないクラスタを瞬時に判別します。 （*クラスタ故障は、初期不良、経年劣化、雷害などにより発生します） スイッチを押すだけで内蔵の照度センサーで自動感度調整。測定スピー...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

太陽光パネル保守・メンテナンスに　ソラメンテ　SZ-200

ストリングチェッカー SZ-200は、太陽光パネル故障をストリング単位…

ストリングチェッカー　ソラメンテ-Z SZ-200は、接続箱の各ストリングP/N端子をプローブし、故障パネルのあるストリングを検出する点検装置です。特殊な検出信号をストリング回路に印加し、開放電圧と直列抵抗（インピーダンス）を測定、異常のあるストリングを判別します。 SZ-200は、高速点検、日照変化に強い、高い操作性で、確実に結果を出す点検を実現し、点検作業の効率を飛躍的に向上させていま...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

太陽光パネル保守・メンテナンスに　ソラメンテ　SC-200

CISアダプター SC-200は、ソラメンテ-iSのセンサー部を取り換…

CIS薄膜パネル点検で、PVケーブルを取り外してチェックする煩わしさが なくなりました。発電中にパネル表面から高速チェック、CIS点検の効率が飛躍的に向上します。 ソラメンテ-iS SI-200のセンサー部を取り換えるだけ ソラメンテCiSアダプター（オプション）SC-200は、すでに太陽光パネル点検現場で広く使用されているソラメンテ-iS（SI-200）に装着するだけで、CIS薄膜パ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【EBSDによる結晶解析】はんだ接合部における金属間化合物

はんだ接合部における金属間化合物の結晶解析例をご紹介いたします

SEM像、Phaseマップ、結晶粒ごとにHigh lightするCu6Sn5のIQマップ、 粒界の回転角をHigh lightするCu6Sn5のIQマップを用いて、 EBSD法による結晶を解析しました。 Cuパッド/はんだ界面にはCu6Sn5やAg4Sn等の化合物が成長しており、 ヒストグラムにより結晶サイズや結晶傾角の分布を示すことができます。 また、マップにHigh ligh...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

顕微EL/PLイメージング装置　PVX1000+POPLI-μ

太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微PL観測

PVX1000+POPLI-μは、太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微鏡でフォトルミネセンス観測ができます。PERCであれば、PL強度で個々のLocal-BSFの評価、レーザーコンタクトホール周辺のパッシベーション層のダメージが評価可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。...製品特長 １．シリコンウェハ（6インチ角以下） ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

太陽光パネル保守・メンテナンスに　ソラメンテ　SR-200

ソラメンテ SR-200で、連系前のパネル点検が可能に

竣工検査や停電点検などの送電前・送電停止時に故障パネルを発見するソラメンテの新機能。SZ-200とSI-200が連携する新点検方式。 点検方法 ソラメンテ-Z（SZ-200）とソラメンテ-iS（SI-200）を連携し、ストリング回路に沿ってパネル上をセンサー（SR-200）でチェックします。センサーの反応が途切れた場所に、故障パネルがあります。 ...製品特長 ●送電前・送電停止時のパ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

太陽電池　PL イメージングユニット　POPLI-3C

太陽電池6インチセル対応PL励起用光源。EL画像検査装置PVXシリーズ…

無料サンプル評価デモ受付中。 POPLIは、EL画像検査装置PVXに、PLイメージングユニットをオプションとして加え、PVXの検出機能とソフトウェアを活用することにより、鮮明なPL撮像と経済性を実現した、先進的なPLイメージング装置です。 ...太陽電池は光を吸収して発電しますが、一部は発光という現象で放出しています。この光を撮像する方法をPL観測といいます。 POPLIは、バンドギャップ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【EBSDによる解析例】ネジ

ネジ(Cu2Zn)について、EBSDによる解析例をご紹介致します。

EBSD法により結晶サイズの分布や、結晶方位の配向性を確認する ことができます。 今回はネジの谷部分の方位差が大きいことがわかり、残留応力が 大きいことが推測されます。 また、ネジ表面には粒径の小さい結晶粒が分布している様子も 観察されました。 【概要】 ■解析方法 ・EBSDにて結晶構造を観察 ■結果 ・ネジの谷部分の方位差が大きいことがわかった ・残留応力が大...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【EBSDによる解析例】Chip

Al配線に配向性が見られた、EBSDによる解析例を紹介いたします

Chip表面の配線(Al)について、EBSDによる解析例を紹介いたします。 パッケージ樹脂を薬液/RIEにより開封し、EBSDによるチップ表面の Alパターンの解析を実施。 その結果、Al配線に配向性が見られました。 法線方位が分布しており、結晶が多く存在していると考えられます。 【概要】 ■解析方法 ・パッケージ樹脂を薬液/RIEにより開封 ・EBSDによるチップ表面...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【EBSDによる解析例】ビア

EBSD法により結晶サイズの分布や、残留応力を推測することができます

積層基板で形成されるビア(Cu)について、EBSDによる解析例を 紹介致します。 EBSD法により結晶サイズの分布や、残留応力を推測することが可能。 また、マップにHigh lightすることにより、グラフに現れた特長を 可視化できます。 【概要】 ■EBSDにて結晶構造を観察 ・IPFマップ ・GRODマップ ・結晶粒分布map ※詳しくはPDF資料をご覧いた...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【EBSDによる解析例】鉄板

グラフに現れた特長を可視化！結晶サイズの分布や、結晶方位の配向性を確認…

鉄板(Fe)について、EBSDによる解析例を紹介致します。 ヒストグラムのグラデーションと対応する結晶粒分布 map、 IPF map、結晶粒分布などを用いて、EBSDにて結晶構造を観察。 EBSD法により結晶サイズの分布や、結晶方位の配向性を確認でき、 マップにHigh lightすることにより、グラフに現れた特長を 可視化できます。 【概要】 ■EBSDにて結晶構造を...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【EBSDによる結晶解析】BGA

EBSD法により、結晶状態や残留応力の推測が可能！BGAの解析例をご紹…

BGA(Ball Grid Array)の解析例をご紹介いたします。 顕微鏡による観察では、光学顕微鏡とSEMを使用。 EBSD法による結晶解析では、Phaseマップ、SnのGrainマップ、 SnのIPFマップ、SnのGRODマップを使用し、結晶状態や残留応力の 推測が可能です。 【概要】 ■EBSD法による結晶解析 ・Phaseマップ ・SnのGrainマップ ・...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【EBSDによる解析例】高融点はんだ

EBSDにて結晶構造を観察！それぞれの金属で各データの取得ができます

高融点はんだ(Snを少量含むPb基はんだ)について、EBSDによる 解析例を紹介致します。 EBSD法により結晶粒分布や、残留応力を推測することが可能。 また、結晶構造が異なる金属については同時に解析できるものがあり、 それぞれの金属で各データの取得ができます。 【特長】 ■結晶粒分布や、残留応力を推測できる ■結晶構造が異なる金属については同時に解析できるものがあり、 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス