NVMe調査・解析テスタ

エラーの有無だけでは分からない潜在的なパフォーマンスの違いを検出するこ…

当社では、製品組み込み用ストレージの評価、受入後のスクリーニングテスト、 フィールド戻入後のチェック等に適した『NVMe調査・解析テスタ』を 取り扱っております。 簡易スクリプトプログラム作成によりNVMeデバイスに対して試験コマンドを 任意のシーケンス、時間、回数で実行可能。 また、当社独自開発のアクセスパターンによるリード・ライト試験が可能で、 実アプリに近い評価が実行でき...

メーカー・取り扱い企業： 三映電子工業株式会社