三映電子工業株式会社 NVMe調査・解析テスタ
- 最終更新日：2023-12-08 16:29:17.0
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エラーの有無だけでは分からない潜在的なパフォーマンスの違いを検出することが可能！
当社では、製品組み込み用ストレージの評価、受入後のスクリーニングテスト、
フィールド戻入後のチェック等に適した『NVMe調査・解析テスタ』を
取り扱っております。
簡易スクリプトプログラム作成によりNVMeデバイスに対して試験コマンドを
任意のシーケンス、時間、回数で実行可能。
また、当社独自開発のアクセスパターンによるリード・ライト試験が可能で、
実アプリに近い評価が実行できます。
【特長】
■NVMeデバイスがサポートしているSCSIコマンドの発行が可能
■SMART値の読み込み、TRIM試験が可能(現状Intel社製デバイスに限る)
■OSはROM化されており、システムの安定性が向上
■ログは内部ストレージへ書き出し
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基本情報NVMe調査・解析テスタ
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| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 用途／実績例 | ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。 |
カタログNVMe調査・解析テスタ
取扱企業NVMe調査・解析テスタ
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HDD（ハードディスク）受入検査代行サービス 各種HDD調査/解析テスタの開発・製造・販売 HDDデータ消去装置の開発・製造・販売 HDDデータ復旧/破壊サービス HDD消去サービス マイコン応用機器の受託開発 組み込みソフトウェアの受託開発
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