高温ラッチアップ試験

高温状態での動作が要求されるデバイスに！高温でのラッチアップ試験をご紹…

となっており、高温状態での動作が要求されるデバイスでは、高温での ラッチアップ試験が推奨されています。 【ラッチアップ試験の主要規格（抜粋）】 ■JEDEC（JESD78E） ・電流パルス印加法､電源過電圧印加法 ・ClassI：室温､ClassII：最大使用周囲温度 ■JEITA｛JEITA ED4701／302（試験方法306B）｝ ・電流パルス印加法､電源過電圧印加法 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

TOF-SIMSによる表面分析

TOF-SIMSは軽元素、無機物から分子量の大きい有機物まで分析可能で…

・TOF－SIMSはパルス状の一次イオンを照射し 　励起放出されたイオンの飛行時間により質量分析を行います。 ・質量の大きなイオンほど、検出器に到達する時間が長くなり 　質量の分離が出来ます。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス