• 生産性向上AIカメラ『PROLICA』【NETIS登録】 製品画像

    生産性向上AIカメラ『PROLICA』【NETIS登録】

    PRエッジAI画像解析機能を搭載!目視による状況認識や異常検知等を代行し、…

    【NETIS登録番号】KT-240018-A 『PROLICA』は、目視による状況認識や異常検知等を代行することで、 現場の省人化や生産性向上をサポートする生産性向上AIカメラです。 事前に認識させたい対象を教師データから学習することで、最適化された 機械学習モデルを構築し、様々な被写体を同時に認識することが可能。 様々な現場に対応する2タイプのカメラをレンタルで提供しております...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社GRIFFY

  • 経営事項審査・評点計算システム『経審博士17+Form』 製品画像

    経営事項審査・評点計算システム『経審博士17+Form』

    PR経審博士17シリーズは令和5年1月施行の改正経営事項審査の評点計算と基…

    『経審博士17+Form』は、『経審博士17』に加えて経審の経営状況Y評点を申請するための 「経営状況分析申請」と、総合評定値P評点を申請する「経営規模等評価申請」の書類が作成できる 経営事項審査・評点計算システムです。 経営状況分析機関である(一財)建設業情報管理センターの「CIIC分析パック」・「なんでも経審」に直接申請項目データを移す機能を搭載。 比較的パソコンに不慣れでも容易に扱える操...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社経審研究所

  • ICの不良解析 製品画像

    ICの不良解析

    不良モードに適した様々な手法を組み合わせることで、不良ノードの特定から…

    株式会社アイテスの『ICの不良解析』についてご紹介します。 当社では、ICに対して、不良モードに適した手法を組み合わせることで、 不良ノードの特定から物理解析までを一貫して対応致します。 Layout Vie...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】EBSDによるウイスカ解析 製品画像

    【資料】EBSDによるウイスカ解析

    ICパッケージのリード端子に発生したウィスカについて解析した事例を紹介…

    当資料では、ICパッケージのリード端子に発生したウィスカについて、 機械研磨にて断面を作製し、SEM観察及びEBSD解析した事例を 紹介しています。 ICパッケージの表面SEM像をはじめ、断面SEM像など...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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