• 工場の3Dデータ化 カルテ/モデリング作成/点群座標データ取得 製品画像

    工場の3Dデータ化 カルテ/モデリング作成/点群座標データ取得

    PR3Dのカルテには配管や機器の情報を全て掲載!参照したい情報をパソコン操…

    GoodDotの工場の3Dデータ化では、増築・改築の多い工場において、 設備管理をスムーズに行うために設備カルテを作成いたします。 3Dスキャナーカメラを用い、大型設備から機械部品、建築物、遺産等 さまざまなものを迅速・高精度に測定。 カルテには配管や機器の情報を全て掲載しており、参照したい情報を パソコンの操作で簡単に情報開示可能です。 【特長】 ■点群座標データの取...

    メーカー・取り扱い企業: GoodDot株式会社

  • 橋形クレーン基礎『OK式レールベース』 製品画像

    橋形クレーン基礎『OK式レールベース』

    PR設置・撤去が簡単!施工が早くキレイな仕上がりの橋形クレーン基礎

    【特長】 ■施工が早い・現場打ち不要 ■設置・撤去が簡単で、仮設にも使用可能 ■どこからでも車両が横断できる ■側面の不等沈下が発生しにくい ■標準でインサートが埋め込まれているので、レールの位置だし工程が不要 ...『OK式レールベース』は、クレーンレールを舗装面に埋設して施工ができ、 どこからでも車両が横断可能でスペースを最大限に有効活用できる製品です。 従来から面倒で手間...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社オーイケ

  • クロスセクションポリッシャー(CP)法による断面観察サービス 製品画像

    クロスセクションポリッシャー(CP)法による断面観察サービス

    高い加工精度と広い加工領域を実現!冷却機能でダメージを軽減しながらの加…

    CP法は、機械研磨法に比べ、研磨によるダメージがない状態で断面を 観察することが可能です。 当社の冷却機能付トリプルイオンミリング装置は、3方向から照射する イオンビームにより、高い加工精度と広い加工領域を実現。 熱に弱い材料の場合には冷却機能でダメージを軽減しながらの加工も可能です。 【特長】 ■加工幅約4mm/加工深さ約1mmと広範囲での加工が可能 ■硬軟材において...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【受託分析】レーザー顕微鏡(高精度3D測定&カラー観察) 製品画像

    【受託分析】レーザー顕微鏡(高精度3D測定&カラー観察)

    試料表面の凹凸形状の3D測定や透明体越しの表面形状測定などが可能です!

    当社では、形状測定レーザマイクロスコープ「VK-X200」を用いた 受託分析を行っております。 408nmレーザーを用いて観察、計測を実施。測定結果は国家基準につながる トレーザビリティ体系に基づいており、測定機器として非破壊測定に活用できます。 レーザー顕微鏡では、試料表面の凹凸形状の3D測定ができ、透明体の膜厚形状や 透明体越しの表面形状測定が可能です。 【特長】 ■...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【受託分析】レーザー顕微鏡(観察&測定) 製品画像

    【受託分析】レーザー顕微鏡(観察&測定)

    広範囲での観察、計測も可能!レーザー顕微鏡を用いた受託分析のご紹介です

    当社では、形状測定レーザマイクロスコープ「VK-X200」を用いた 受託分析を行っております。 平面計測、幅測定、高さ測定、膜厚測定等の各種、測定ができ、対象の サイズや求める精度により、適した対物レンズを選択し、観察や測定を実施。 範囲はレンズに応じて異なりますが、連結機能を有しているため、広範囲での 観察、計測も可能です。 【特長】 ■平面計測、幅測定、高...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ESD(CDM)試験受託サービス 製品画像

    ESD(CDM)試験受託サービス

    デバイス帯電モデル(Charged Device Model)のESD…

    ■印加電圧0Vから±4000Vまで、5Vステップ ■最大 1024ピン まで対応します。 ■プローブ移動精度:0.1mm ■印加ユニット:JEDEC(JESD22-C101F)、JEITA、EIAJ、AEC ■チャージ法  FI-CDM:電界誘導法(JEDEC・AEC)  D-CDM:直接チャージ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • クロスビームFIBによる断面観察 製品画像

    クロスビームFIBによる断面観察

    FIB加工をリアルタイムで観察しながら断面観察が可能です。

    半導体デバイス、MEMS、TFTなどナノスケールの精度で製造される エレクトロニクス製品の構造解析を行うための新たな手法: クロスビームFIBにより断面観察をご提案いたします。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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