• 無料トライアル実施中!太陽光発電シミュレーション『i-Pals』 製品画像

    無料トライアル実施中!太陽光発電シミュレーション『i-Pals』

    PRi-Pals で太陽光発電、自家消費、蓄電池をシミュレーション!見積か…

    【10月2日(水)から4日(金)幕張メッセにて展示会に出展いたします】 「i-Pals」は太陽光発電システムのシミュレーション・提案業務を効率化するWindows対応のソフトウェアです。 産業用・住宅用問わず、ボタン一つで日影図の作成や自家消費や蓄電池のシミュレーションが可能です。 簡単操作で効率的に、より良いプランの提案を実現します。 【こんなお悩みありませんか?】 ■「太陽光発電の設計業務に...

    メーカー・取り扱い企業: 日本コントロールシステム株式会社

  • 測量設計等委託業務積算システム『維津美V7』 製品画像

    測量設計等委託業務積算システム『維津美V7』

    PR国交省・農水省にない特殊歩掛も地方版から瞬時に補完する委託業務積算シス…

    『維津美V7』は、新積算方式に完全対応した測量設計等委託業務積算システムです。 積算内容の変更・挿入・並び替え・削除など、さまざまな修正、調整にも即座に 対応でき、編集作業は至極簡単。 各業務の数量と変化率条件(補正)を設定するだけであとは自動的に積算金額を算出、 また2業務以上の複合積算にも簡単に対応できます。 【特長】 ■新積算方式に完全対応 ■修正・調整も自由自在 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社システムラン 本社

  • 【評価用パターンウェハー】小ロット~カスタマイズオーダーまで対応 製品画像

    【評価用パターンウェハー】小ロット~カスタマイズオーダーまで対応

    数枚の試作加工でも問題無く受け付けており、マスクの設計から断面の寸法測…

    株式会社アイテスが取り扱っている「評価用パターンウェハー」「シリコンウェハー販売」「化合物半導体」をご紹介します。「評価用パターンウェハー」は、CMP/成膜装置/洗浄装置/各種素材の評価用として、様々な構造のテスト用パターンウェハーを作成。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 積層基板の斜めCT観察 製品画像

    積層基板の斜めCT観察

    積層基板では各層毎の情報を得ることが可能!測長ツールを用いることで長さ…

    ■Cheetah EVOでは、凹凸が少なく大きさが200mmほどの試料であれば破壊することなく、  そのままCT観察することが可能 ■X線による透過観察では、斜めCTで像を取得することで各層のパターンを確認することが可能 ■測長ツールを用いることで長さを測定することもできる ■測定結果は光学顕微鏡像の測定結果に対し約7~14%の差が見られたが、非破壊で内部構造を  把握したいという場合に...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ウェハー加工 製品画像

    ウェハー加工

    「評価用パターンウェハー」「シリコンウェハー販売」「化合物半導体」のご…

    株式会社アイテスが取り扱っている「評価用パターンウェハー」「シリコンウェハー販売」「化合物半導体」をご紹介します。「評価用パターンウェハー」は、CMP/成膜装置/洗浄装置/各種素材の評価用として、様々な構造のテスト用パターンウェハーを作成。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【X線透視・CT検査装置】マイクロフォンの観察事例 製品画像

    【X線透視・CT検査装置】マイクロフォンの観察事例

    【動画あり】X線透視観察&直交CT観察!マイクロフォンの観察事例をご紹…

    直交X線CTで観察した事例をご紹介します。 MEMSチップやSiチップは透けてしまうので、微かにしか観察できません。 しかし、X線透視像では、ワイヤーボンディングの様子や実装基板の配線 パターンが観察できます。 直交CT像では、MEMSチップやSiチップが透視像に比べ、明瞭に観察できます。 また透視像は、各層が重なった状態での観察となりますが、CT像では 各層ごとの観察が可...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【X線透視・CT検査装置】透過観察と画像処理技術の併用事例 製品画像

    【X線透視・CT検査装置】透過観察と画像処理技術の併用事例

    画像処理により正常品画像と不良品画像の差分を検出!透過観察と画像処理技…

    基板の透過X線像や不良基板の透過X線像では、配線が複雑に張り巡らされ 一見しても異常部は見つかりませんでしたが、画像処理により正常品画像と 不良品画像の差分を検出できました。 基板配線のパターン異常などでは広範囲の視野から不良個所の特定は困難ですが、 画像処理ソフトと併用する事で異常部の発見が可能となります。 【透過観察と画像処理技術の併用事例】 ■画像処理により正常品画像と不...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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