パルステック工業株式会社 ロゴパルステック工業株式会社

最終更新日:2022-04-07 15:39:13.0

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  • カタログ発行日:2022/4/7

μ-X360sオプション紹介 熱処理硬化層深さ測定

基本情報μ-X360sオプション紹介 熱処理硬化層深さ測定

~毎日繰り返す工程を簡略化!~ 自動で切断面の硬化層を計測します

~毎日繰り返す工程を簡略化!~

X線による非接触・非破壊測定。しかも、低出力で安全に使用可能。
人の目に頼らない高精度の自動測定を実現しました。

樹脂埋めや鏡面磨きが省略可能、X線で切断面の「有効硬化層深さ」および「全硬化層深さ」を測定します。

【特長】
・樹脂埋め、鏡面研磨が省略可能です。
・自動測定で工数削減
・専用ソフトに判定基準を入力することでOK/NGの表示が可能です。
・X線の半価幅測定による評価で、作業者によるバラつきを排除できます。


既に保有済みの硬さ試験機と併用することで、試験業務効率の改善・コスト削減が実現可能です。
※詳しくはPDFダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。

無料ウェビナー開催『非接触・非破壊!X線を使用した硬さ評価!』

無料ウェビナー開催『非接触・非破壊!X線を使用した硬さ評価!』 製品画像

大好評 パルステックウェビナーの第5弾!

鋼材の加工後における「硬さのムラ確認」「硬化層深さ測定」は、
安定した品質を確保するうえで、欠かすことのできない重要な項目の一つです。
本ウェビナーでは、鋼材表面の硬さムラを非接触・非破壊で評価できる
「非接触硬さムラスキャナ(muraR)」の測定原理、活用事例、
硬化層深さの測定事例について講演いたします。

ウェビナー(オンラインセミナー)形式で無料にてご聴講いただけます。
会社やご自宅のパソコン、モバイル機器からご自由にご参加いただけますので、お気軽にお申し込みください。

<このような方におすすめ>
・硬さ試験、エッチング試験に課題をお持ちの方
・非破壊検査、検査工数削減、省人化にご興味をお持ちの方
・鋼材の加工(研削・切削)や熱処理(浸炭・高周波・窒化)をされている方
・検査のばらつきを改善したい方
 (詳細を見る

非接触・非破壊で溶接部の残留応力を測定!現場計測サービスも対応!

非接触・非破壊で溶接部の残留応力を測定!現場計測サービスも対応! 製品画像

溶接部の割れ・変形の原因となる残留応力が簡単に計測可能!
その課題、残留応力測定装置『μ-X360s』が解決いたします!


【測定実績例】
■溶接、摩擦攪拌接合、焼嵌め、カシメ、圧入の評価や加工による割れ・変形の原因解析

【世界最小・最軽量クラス】
■小型センサで、複雑形状でもアプローチ可能
■オンサイト測定にも対応し、タンクや配管などの大型部品や鉄橋、タワー、プラントなどの大型構造物も測定可能

【X線で非破壊・非接触】
■人の目に頼らない高精度の自動測定を実現
■破壊試験とは異なり、テストピース作成が不要。検査コストの削減に

【高速測定】
■フェライト系材料を、1ポイントあたり、60秒で計測
■試料のセットは、内蔵カメラで簡単

【低X線量で安全】
■低X線量で安全に使用可能。現場での管理区域の設定が容易
■遮蔽BOXを用いれば、誰でも計測可能(資格不要) (詳細を見る

非接触・非破壊による「残留応力測定」「硬度変化の検出」を!

非接触・非破壊による「残留応力測定」「硬度変化の検出」を! 製品画像

【こんなお困りごとありませんか?】
■金属部品の曲がりや反り、溶接部の割れの原因が残留応力なのか知りたい…
■金型の寿命管理をしたい…
 ⇒残留応力測定装置『μ-X360s』で解決いたします!

■熱処理効果や切削・研削焼けの有無を非破壊で判定したい…
■インライン検査やロボットによる全数検査をしたい…
■特殊技能を必要とする目視検査をやめて誰もが検査できるようにしたい…
 ⇒非接触硬さムラスキャナ『muraR』で解決いたします!

★装置レンタル・現場計測サービス
 現場計測サービス
  経験豊富な弊社技術者が現場にて測定。
  測定結果をレポートにまとめて提出致します。
 装置レンタルサービス
  貸出期間内に好きなだけ測定が可能。
  低X線量で安全。装置の操作は簡単なため、測定経験が無くてもご使用いただけます。 (詳細を見る

非接触・非破壊で溶接部の「残留応力」を測定!

非接触・非破壊で溶接部の「残留応力」を測定! 製品画像

溶接部の割れ・変形の原因となる残留応力が簡単に測定可能!
その課題、残留応力測定装置『μ-X360s』が解決いたします!

【X線で非破壊・非接触】
■人の目に頼らない高精度の自動測定を実現。
■破壊試験とは異なり、テストピースの作成が不要。検査コストの削減に。

【高速測定】
■フェライト系材料を、1ポイントあたり、60秒で測定。
■試料のセットは、内蔵カメラで簡単。

【低X線量で安全】
■低X線量で安全に使用可能。現場での管理区域の設定が容易。
■遮蔽BOXを用いれば、誰でも測定可能。

【世界最小クラス・最軽量クラス】
■世界最小クラス・最軽量クラスで持ち運び可能。
■オンサイト測定にも対応し、タンクや配管などの大型部品や鉄橋、タワー、プラントなどの大型構造物も測定可能。
 (詳細を見る

金属の「残留応力・硬さのムラ・硬化層深さ」を測定できるスキャナ

金属の「残留応力・硬さのムラ・硬化層深さ」を測定できるスキャナ 製品画像

【こんなお困りごとありませんか?】
■金属部品の曲がりや反り、溶接部の割れの原因が残留応力なのか知りたい…
■金型の寿命管理をしたい…
 ⇒残留応力測定装置『μ-X360s』で解決いたします!

■熱処理効果や切削・研削焼けの有無を非破壊で判定したい…
■インライン検査やロボットによる全数検査をしたい…
■特殊技能を必要とする目視検査をやめて誰もが検査できるようにしたい…
 ⇒非接触硬さムラスキャナ『muraR』で解決いたします!

■硬化層の評価で硬さ試験の時間を短縮したい…
■作業者、装置による結果のバラツキを改善したい…
■樹脂埋め、鏡面研磨工程を省略したい…
 ⇒硬化層深さ評価機で解決いたします!


★上記製品を「自動車技術展:人とくるまのテクノロジー展2021 オンライン」にて出展いたします!

尚、「人とくるまのテクノロジー展2021 横浜」の開催中止に伴い、オンライン展示会のみの出展となります。
詳細は、下記「基本情報」欄をご覧ください。 (詳細を見る

【人とくるまのテクノロジー展名古屋出展】溶接部の残留応力測定!

【人とくるまのテクノロジー展名古屋出展】溶接部の残留応力測定! 製品画像

【測定実績例】
■溶接、摩擦攪拌接合、焼嵌め、カシメ、圧入の評価や加工による割れ・変形の原因解析

【世界最小・最軽量クラス】
■小型センサで、複雑形状でもアプローチ可能
■オンサイト測定にも対応し、タンクや配管などの大型部品や鉄橋、タワー、プラントなどの大型構造物も測定可能

【X線で非破壊・非接触】
■人の目に頼らない高精度の測定を実現
■破壊試験とは異なり、テストピース作成が不要。検査コストの削減に

【高速測定】
■フェライト系材料を、1ポイントあたり、60秒で計測
■試料のセットは、内蔵カメラで簡単

【低X線量で安全】
■低X線量で安全に使用可能。現場での管理区域の設定が容易
■遮蔽BOXを用いれば、誰でも計測可能(資格不要)


◆◆◆人とくるまのテクノロジー展名古屋に出展◆◆◆
会期  :2022年6月29日(水)~7月1日(金)
会場  :ポートメッセ名古屋 
小間番号:40
オンライン展も同時開催!下記HPよりご確認ください。
 https://aee.expo-info.jsae.or.jp/ja/nagoya/ (詳細を見る

【樹脂埋め・研磨不要!】金属加工品の「熱処理硬化層深さ測定」

【樹脂埋め・研磨不要!】金属加工品の「熱処理硬化層深さ測定」 製品画像

樹脂埋め、鏡面研磨などの前処理工程や
研磨剤、レジンなどの消耗品を削減!
OK/NGの自動判定が可能!

【用途】
■焼入れ処理をした鋼の硬化層深さ測定に
 (浸炭、高周波焼入れ等)

【検査の改善】
■検査者のスキルに頼らない高精度の測定を実現
■X線測定による高い再現性
■測定自体にかかる時間の削減に

【高速測定】
■1ポイントあたり、約60秒で計測
■試料のセットは、顕微鏡・内臓カメラで簡単

【低X線量で安全】
■低X線量で安全に使用可能
■遮蔽BOXを用いることで、誰でも計測可能(資格不要)


★★「硬化層深さ測定」に関するウェビナ動画を公開中★★
ナビゲータとの対談形式で、事例や効果をわかりやすく解説
◇講演時間:25分
◇聴講費:無料 
アペルザTV視聴ページ
https://www.aperza.com/ja/co/10002597/video/GJj0WeXwfxUwB0dZGA14 (詳細を見る

取扱会社 μ-X360sオプション紹介 熱処理硬化層深さ測定

パルステック工業株式会社

【主要事業内容】  電子応用機器・装置の製造および販売 【主な特長】  様々な分野のエンジニアが、要素技術とノウハウを複合させた製品づくりを行なっています。 (様々な分野:電子回路技術、ソフトウエア技術、光学技術、精密機械技術、自動制御技術) 【製品群】 ◆X線残留応力測定  ・ポータブルX線残留応力測定装置 ◆三次元計測  ・非接触三次元スキャナ ◆ヘルスケア分野  ・医療用・臨床研究用検査機器 ◆光応用計測  ・波面センサ  ・透明体厚み・うねり計測装置 ◆光ディスク  ・光ディスク・光デバイス開発用評価装置  ・光ディスク生産用装置・検査装置

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