【資料】ミクロトームは刃（ナイフ）が命

当資料では、ミクロトーム及びナイフについて、断面観察事例を交えて
ご紹介しております。

「ミクロトーム」はTEMやSEM、OM用の断面観察試料を作製する装置で
試料の切削にガラスナイフやダイヤモンドナイフを使用。
ガラスナイフは主に試料の調整（トリミング）に、ダイヤモンドナイフは
仕上げに使います。

断面観察において、断面の作製はフレキシブルケーブルの金めっき端子部で
実施しました。ぜひご一読ください。

【掲載内容】
■装置及びナイフ
■断面観察事例

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

アイテスでは電子部品、実装基板、半導体、化合物半導体、パワーデバイス、
フィルム、樹脂成形品、太陽パネル、液晶ガラスなど
さまざまな部品・材料の断面を受託加工作製します。

また作製した断面の観察や分析を行い、不良解析や出来栄え評価などを
受託分析いたします。

【サービス一覧】
■機械研磨
■CP加工
■ミクロトーム
■FIB加工
■半導体拡散層の解析　など

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

株式会社アイテスでは、ミクロトームによる断面作製を行っています。

「ミクロトーム」は、ガラスやダイヤモンドのナイフで試料を薄くスライスして
TEMやSEM、OMやLM用の断面観察試料を作製する装置です。

硬い材料は苦手ですが、フィルムなど、柔らかい材料の断面作製に適しています。

【断面観察事例】
■液晶偏光板
■アルミ缶
■テレフォンカード
■携帯電話のケース
■フレキシブルケーブル
■ヨーグルトの蓋

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

当資料は、断面作製方法についてご紹介しています。

観察、分析・解析を行う上で断面作製を行う場合がありますが、目的や材質、
構造に見合った方法を選択、或いは組み合わせて加工することで信頼度の
高い結果を得ることが可能です。

機械的加工では、「機械研磨」「ミクロトーム」。イオンビーム加工では
「FIB」「イオンポリッシャー(CP)」などの主な断面作製方法などを掲載。

ぜひ、ご一読ください。

【掲載内容】
■主な断面作製方法
■加工条件
■メリット&デメリット

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

眼鏡やカメラ等のレンズには様々なコート層が施されています。

眼鏡の場合、プラスチックレンズを保護するハードコートや光の反射を
抑える反射防止コート、紫外線カットするUVコート等、複数のコート層が
施されています。

これらの層は非常に薄い膜を重ねるように施されていますので
その様子を断面から観察してみました。

SEMで観察するとレンズ基材の上にハードコート/多層膜が施されている
様子が観察され、多層膜ではSiO膜とNb膜が交互に積層されている様子が
伺えます。

【概要】
■断面作製方法
・ミクロトームで作製
・フレームから取り外したレンズを小さくカットし埋め込み樹脂に包埋
・その後、ミクロトームにて断面を作製し光学顕微鏡観察、SEM観察、
　EDX分析を実施

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

自動車、携帯電話等、様々な製品で使用されている塗膜の観察、分析例を
ご紹介します。

「トリプルイオンポリッシャー(CP)」は、硬・軟材料の共存する試料であっても、
ダメージのない加工ができ、「ミクロトーム」は、断面作製のみならず、
平面傾斜切削も可能。

この他、「卓上斜め切削機」は、表面情報として元の厚みの6～300倍の
サンプル面を取り出すことが可能で、「卓上型SEM(電子顕微鏡)」は、低真空下
での観察が可能なモード(帯電軽減)があり、揮発成分が出る試料の観察や
元素分析ができます。

【プラスチック皮膜(携帯電話のケース)の観察】
■トリプルイオンポリッシャー(CP)
■ミクロトーム
■卓上斜め切削機
■卓上型SEM(電子顕微鏡)

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）