正対配置の差動プローブで地磁気を排除した 電子機器用非磁性コネクタの残留磁気の検査

正対配置の差動プローブは片方のセンサが被検査物の磁気異常の影響を受け、もう片方がその環境の磁気の影響を受け最大感度を得られます。

磁気を利用した精密装置(CAT スキャナー等)メーカーは操作中の磁気擾乱を抑えるために、自社の装置全体が磁気的に「クリーン」であることを確認する必要があります。基本的材料(特殊銅合金等)が加工前に「非磁性」であることが確認されていても、厳しい品質管理を行う上で、(半)完成部品に磁気的不純物が含まれていないかどうかの検査を予測する必要があります。電子部品が大きい場合、ASTM A342M および IEC 60404-15章に記載されている方法に準拠した透磁率検査(フェルスター社の透磁率測定プローブを使用した透磁率測定の方法る 14/2018 版アプリケーションノート参照)が適用されます良品と不良品サンプルの検査が有効とされている間、試験サンプルの大きさ(およびそれに応じた体積)が小さくなると、上記の方法を適用することができなくなります。その良い例として、電気コネクタや電子コネクタの中でも通常外径が 2～3 ミリで特殊な非磁性合金で生産されているコネクタ(図 1)の検査が挙げられます。
センサの一つが被検査物の磁気異常の影響を受けて、もう一つのセンサがその環境の磁気の影響を受けている場合、最大感度を得られます。