デジタルマイクロスコープによる外観観察

検査員の目視だけでは、見逃す形状を鮮明に観察することによって、
不具合を的確に把握することができます。

広範囲の一括観察や部分拡大も可能、様々な観察に対応いたします。

また、IPC-A-610 認証IPCスペシャリストが在籍しており、国際規格に
則って観察のお手伝い、ご相談、様々な観察のお悩みに対応できます。

【特長】
■広範囲の一括観察や部分拡大も可能
■様々な観察に対応
■全面観察後、箇所に関係なく鮮明な拡大観察が可能
■予定外箇所の追加観察も容易
■IPC-A-610 認証IPCスペシャリストが在籍

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

当社が行う『実装部品のインク浸漬試験(dye and pry)』についてご紹介です。

パッケージや実装部品の破断・剥離の確認方法として、非破壊検査(透過X線、CT)
や断面観察等がありますが、これらは破断した層に対する剥離の広がりを「面」
でとらえることが困難です。

インク浸漬試験(dye and pry)では、着色液や蛍光液を浸透させることにより、
破断・剥離層の観察を行うことができます。

ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。

【インク浸漬試験の流れ】
■インク浸漬(dye)
■引き剥がし(pry)
■光学顕微鏡やSEMによる観察

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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試験環境、観察環境が重要な評価として、ウィスカ観察がありますが、
ウィスカは非常に繊細で、振動・空気の揺らぎなどに敏感なため、試験後の
移動・保管などの取り扱いには注意が必要です。

当社では、試験槽と保管庫、観察場所を1フロアに集約し、移動・保管の
リスクを低減、ウィスカが脱落・消失しない環境を整えております。

また、信頼性試験前後のマイグレーション観察やはんだ表面観察も
承っておりますので、お気軽にお問い合わせください。

【特長】
■信頼性試験から観察まで一貫したサービス
■試験槽と保管庫、観察場所を1フロアに集約
■移動・保管のリスクを低減
■ウィスカが脱落・消失しない
■信頼性試験前後のマイグレーション観察やはんだ表面観察も対応

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解析手法の基本的で応用範囲が広い光学顕微鏡観察からSEM観察、
EDX元素分析までの流れをご紹介致します。

光学顕微鏡による観察は基本的な観察手法の一つであり、大まかな
形状観察等を素早く行えます。また、特長は色情報が得られる事で、
腐食等の変食を伴う異常の観察に活躍。

当資料では、この他にも「SEMによる観察」や「EDXによる元素分析」を
写真やグラフを用いて詳しく解説しております。

ぜひ、ご一読ください。

【掲載内容】
■光学顕微鏡による観察
■SEMによる観察
■EDXによる元素分析

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ウィスカは、はんだ付け部や部品リード部に発生するものと思われがちですが、
平面部品のめっき表面からもウィスカは発生します。

観察するにはちょっとしたコツが必要なのです。

当資料では、装置による見え方の違いをはじめ、サンプル角度による
見え方の違いや光源やレンズ角度による見え方の違いについて掲載しています。

【掲載内容】
■装置による見え方の違い
■サンプル角度による見え方の違い
■光源やレンズ角度による見え方の違い

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アイテスでは、『真贋調査（比較観察）』を行っています。

正規品又は標準品と調査対象品を比較し、構造などの差異や
サイレントチェンジされていないか等を調査。

外観観察をはじめ、開封観察や電気的特性測定、破壊・非破壊観察、
信頼性試験、材料調査などに対応しています。

【特長】
■正規品又は標準品と調査対象品を比較
■構造などの差異やサイレントチェンジされていないか等を調査

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ダイヤモンドの品質は4C(カット、カラー、カラット、クラリティ)で
決まります。クラリティとは、インクルージョン(内包物)やキズの程度を
表すそうです。

気になるクラリティをマイクロスコープで覗いてみましたのでご紹介します。

一見きれいに見えるモノでも、拡大すると内包物があったり割れが
あったりします。マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を
観察することができます。

また、マイクロスコープでは半導体電子部品やシリコンチップなどの
検査、観察も行っています。ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。

【特長】
■マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を観察可能
■半導体電子部品やシリコンチップなどの検査、観察も実施

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

試料の観察には光学顕微鏡とSEM（走査電子顕微鏡）がよく用いられますが、
それぞれ特長があるので目的に応じた装置を選択する事が大切です。

当資料では、光学顕微鏡とSEMを同じサンプルで比較し一般的に言われている
メリット、デメリットをご紹介。

ぜひ、ご一読ください。

【掲載内容】
■光学顕微鏡の特長
・メリット／デメリット
・こんな観察にお勧め
■SEM（走査電子顕微鏡）の特長
・メリット／デメリット
・こんな観察にお勧め

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

株式会社アイテスは、KEYENCE社製のワンショット3D形状測定機
『VR-6200』を導入しました。

電動回転ユニットを付属しており、切断せずに断面形状を再現。
HDRスキャンアルゴリズムにより、光沢面も測れます。

プロファイル計測をはじめ、平面計測、体積面積、比較計測など
この1台で、様々な測定を行うことができます。

【測定可能項目】
■プロファイル計測
■平面計測
■体積面積
■線粗さ計測
■面（平面度）計測
■比較計測

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鉛フリー半田が普及する一方、Snメッキあるいは半田付け部から発生する
金属結晶のウィスカは電子部品の信頼性に大きな影響を与えます。

当社では、深度合成機能を持つデジタルマイクロスコープによりウィスカを
観察するとともに、3次元測長を行い、ウィスカ成長を評価します。

信頼性試験グループと組むことで、迅速かつ輸送リスクを排除した
ウィスカ評価の実施が可能です。

【特長】
■信頼性試験から観察、3次元測長まで支援
■深度合成機能を持つデジタルマイクロスコープによりウィスカを観察
■迅速かつ輸送リスクを排除したウィスカ評価の実施が可能

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