LEDの故障解析

当社の「LEDの故障解析」では、高度な試料作製技術と半導体用の
故障解析装置を応用し、LEDの故障解析を行い不点灯や輝度劣化の
原因を調査します。

「LED不良モードの切り分け」では、レンズ研磨後の点灯試験、
観察LEDの樹脂をそれぞれ、a, b, c まで研磨し、（a）,（b）点灯観察、
（c）樹脂越しのチップの光学観察を行いました。

この他にも「電気的正常」、「オープン、高抵抗」などがございます。

【LEDパッケージの初期診断項目】
■電気特性測定
■外観観察
■レンズ研磨/パッケージ内部光学観察
■点灯試験（輝度分布観察）

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
 （詳細を見る）

クラック、変色、剥離、変形、物性強度低下など、製品、
部材などに発生する不具合は様々です。

その多くは、製品を構成する材料に原因がある場合が多く、
その材料を分析調査することで解決することがあります。

当資料では、何が起きているのかを化学、および反応機構で
アプローチする方法をご紹介します。

【掲載内容】
■クラック（割れ）、剥離
■変色、変形
■化学反応機構（エポキシ樹脂硬化例）

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

LCD解析でお困りのあなたに、
私たちアイテスが解決のお手伝いをします！

構造解析：
　刻々と進化するFPD製品・先端技術が組み込まれた製品に対して、
　特性・構造上の潜在的問題点がないかを評価しご報告します。
不良解析：
　増え続ける海外製造品の製造不良に対して、
　最短ルートでアプローチ・原因究明いたします。
信頼性試験：
　お客様の目的・必要性に応じて、豊富なノウハウにより
　最適な信頼性試験手法・条件のご提案を行います。

【掲載内容】
■　知ってた？知らなかった？ディスプレイとは？
■　パネル解析事例
■　もっと教えて！アイテスのLCD解析
■　アイテスではこんな解析ができます！ （詳細を見る）