株式会社アイテス
最終更新日:2023-01-12 17:19:00.0
静電破壊した橙色LEDの不良解析
静電破壊した橙色LEDの不良解析
当社では、静電破壊した橙色LEDの不良解析を行っております。
ESD試験にて破壊され、発光強度の低下したLEDはエミッション発光と
IR-OBIRCH法を用いて解析し、不良現象を明らかにすることが可能です。
「良品と静電気(ESD)破壊品の輝度と特性比較」や「エミッション
顕微鏡による発光解析」などの事例がございます。
【解析例】
■良品と静電気(ESD)破壊品の輝度と特性⽐較
・砲弾型LEDのレンズ部を研磨にて平坦化し、輝度比較を行ったところ、
ダークエリアが観察された
■エミッション顕微鏡による発光解析
・ESD破壊品は順バイアスでダークエリアが観察され、逆バイアスで
破壊箇所のみが発光した
■IR-OBIRCHおよびSEI解析
・ESD破壊品のIR-OBIRCH解析により詳細な破壊箇所が特定できた
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 (詳細を見る)
取扱会社 静電破壊した橙色LEDの不良解析
【解析・信頼性評価事業】 ■電子部品各種データ収集から故障解析までの解析・評価 ■研究開発・製造における原材料評価および特性評価 【検査装置開発事業】 ■太陽光パネル検査・測定器の開発・販売 【電子機器修理事業】 ■産業用機器およびパソコンの修理 【ウェハー加工事業】 ■ウェハー加工サービスおよび販売
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