パワーサイクル試験と特性評価

株式会社アイテスでは、シーメンス製（メンター製）のパワーサイクル
試験装置を使用した、パワーサイクル試験の受託を行っています。

試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能です。

また、パワーデバイスの各種観察・測定にも対応しています。
パワーサイクル試験などの試験前後の変化を捉えることができます。

【特長】
■試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能
■パワーデバイスの各種観察・測定にも対応
■パワーサイクル試験などの試験前後の変化を捉えることができる

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

株式会社アイテスでは、『ハイパワー恒温恒湿槽での環境試験』を
承っております。

最大15℃/分（-45⇔±155℃）の定速温度変化が可能。
温度勾配をコントロールしての温度サイクル試験が実施できます。

また、温度制御範囲が一般的な恒温恒湿槽より広く、95℃にて制御可能です。

【特長】
■ハイパワー恒温恒湿槽を2台導入
■最大15℃/分（-45⇔±155℃）の定速温度変化が可能
■温度勾配をコントロールしての温度サイクル試験が実施できる
■温度制御範囲が一般的な恒温恒湿槽より広い
■95℃にて制御可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

株式会社アイテスでは、『モジュール試作と熱抵抗評価』を承っております。

パワーデバイス及びパワーデバイスで使用する材料の評価において、実際に
デバイスを組み立てての熱抵抗測定は、実力の把握に有効な方法です。

試作から評価まで対応致します。
ご興味がございましたら、是非お気軽にご相談ください。

【特長】
＜パワーモジュールの試作＞
■チップの調達からモジュールの組立てまで、一貫して柔軟かつ安価でご提供
■ダイアタッチやTIM材などの評価に好適
＜過渡熱抵抗測定＞
■パワーデバイス向けのT3Ster（パワーサイクル試験装置 内蔵）にて、
　過渡熱抵抗の測定を実施、構造関数の取得と熱解析を行う
■そのデータも用いて、材料間の比較や熱抵抗の算出・不良部の推定などが可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

株式会社アイテスでは、『パワーデバイスのHAST試験』を承っております。

【特長】
■最大1000V印加での不飽和蒸気加圧試験が可能
■高温高湿下での通電により、金属配線の腐食やマイグレーション等の評価を実施
■試験中のモニタリングにより､リアルタイムでの試料劣化を把握 （詳細を見る）

当社が取り扱う、超音波顕微鏡『SAM(Scanning Acoustic Microscope)』を
ご紹介いたします。

半導体パッケージ、基板、電子部品等の内部状態、密着性状態の
不具合検出に大変威力を発揮します。

非破壊にて観察が可能で、試料に入射された超音波の反射波より、
剥離等の検出ができます。

【仕様(抜粋)】
■パルサーレシーバー：500MHz
■観察手法：反射法/透過法　両観察手法に対応
■音響レンズ/反射法：15,25,30,50,80,100,230MHz
■音響レンズ/透過法：15,25,30,50,100MHz

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株式会社アイテスでは、パワーデバイスの酸化膜及び接合部評価の
高温逆バイアス試験（HTRB）が最大2000Vまで印加できます。

試験中のリーク電流のモニタリングにより､リアルタイムでデバイスの
劣化状況が把握可能｡電源が独立しているために試験中に一つのデバイスが
故障した場合でも他のデバイスに影響を及ぼしません。

また、不良基準（電流値）の設定が可能で不良判定デバイスの電源を
不良判定時に遮断することができます。

【特長】
■試験中のリーク電流のモニタリングにより､リアルタイムで
　デバイスの劣化状況が把握出来る
■電源が独立しているために試験中に一つのデバイスが
　故障した場合でも他のデバイスに影響を及ぼさない
■不良判定デバイスの電源を不良判定時に遮断することができる

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）