高周波/高速伝送設計支援ソフトウエア　カタログ

搭載治具全体の測定データから、Sパラメータデータの抽出が簡単！

「In Situ De-embedding(ISD)」は、被測定物を含む搭載治具全体の
測定データから、ディエンベディングを行い、被測定物のみ
Sパラメータデータの抽出を非常に簡単な操作で行えるソフトウエアです。

また、ディエンベディングの際に、Sパラメータは時間軸でも補正が行われ、
パッシビティ、コーザリティを満足する結果が得られます。

【特長】
■一般的なTRL法等のほかの手法に比べ、簡便かつ精度良く
　被測定物のみのデータを抽出することができます。
■コンデンサ、インダクタ、抵抗、フィルタ、IC等の高周波部品、
　差動デバイスや高速伝送用コネクタ等の多端子部品、オンウエハで
　測定される高周波素子等、Sパラメータで評価されるものに対して、使用できます。

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。