ウエーハ外観検査装置「W-AID、E-AID」　製品カタログversion 1.0

基本情報ウエーハ外観検査装置「W-AID、E-AID」　製品カタログ

ウエーハ外観検査装置「W-AIDシリーズ」のカタログになります。ウエーハエッジ検査装置「E-AIDシリーズ」も掲載中。

ウエーハ及びダイシング後のICチップを枚葉で検査し、マイクロクラック・チッピング・異物・パターンずれ等を自動検出する装置です。対象物の良品・不良品を自動判別し、所定のキャリア等に収納します。

お客様の要望にお聞きし、必要な機能を組み込んだ装置をオーダーメードで製造致します。

Siウエーハだけでなく、従来難しかったサファイア等の透明基板に発生する微小欠陥（異物・キズ等）を検出できます。
従来肉眼でバラツキが多かった検査工程を自動化・標準化できます。

（詳細を見る）

■産業用器具製造　・半導体プロセス用プラスチック製器具　・熱電対 ■産業用器具販売　・半導体プロセス用器具　・半導体プロセス用消耗品　・半導体プロセス用機器　・半導体プロセス用装置　・配管部材　・熱電対および関連部品、各種温度計　・理化学用機器　・その他工業用機器

お問い合わせ内容をご記入ください。

至急度必須	通常至急
ご要望必須	購入希望見積もり希望カタログ送付希望価格表送付希望連絡希望訪問希望その他あと文字入力できます。
目的必須	新規導入既存入れ替え試作検討情報収集
添付資料
お問い合わせ内容	あと文字入力できます。【ご利用上の注意】お問い合わせフォームを利用した広告宣伝等の行為は利用規約により禁止しております。