超解像STED顕微鏡 STEDYCON

お手持ちの光学顕微鏡に後付け可能！低コストで超解像イメージングを実現！

Abberior社製 超解像STED顕微鏡ユニット STEDYCON は、既存の蛍光顕微鏡のCマウントに取り付けることで、簡単にSTED顕微鏡へのグレードアップが可能な製品です。 初期投資を抑えつつ、30nmの解像度でイメージングを実現...

メーカー・取り扱い企業： 日本カンタム・デザイン株式会社

原子間力顕微鏡（AFM）

研究用から生産現場向けまで、大小様々なシステムのカスタマイズ提案が可能…

当社では、ユーザーフレンドリーな操作性に対応し、表面形状の測定を 簡単かつ短時間で行える『原子間力顕微鏡（AFM）』を取り扱っています。 アクティブ防振機構を搭載し、多彩な測定モードに対応した「CoreAFM」や、 専用ツールの使用によりカンチレバーの交換がスムーズに行える コンパクト設計...

メーカー・取り扱い企業： 日本カンタム・デザイン株式会社

【半導体分野へご提案】表面検査装置・レジスト・精密位置制御

弊社が得意とする【半導体分野向けソリューション】をお客様に合わせてご提…

【表面検査】 ◆原子間力走査型電子顕微鏡（AFM&SEM in situ測定） by Quantum Design North America ◇原子間力顕微鏡（AFM） by Nanosurf ◆散乱型近接場光赤外顕微鏡（Nano...

メーカー・取り扱い企業： 日本カンタム・デザイン株式会社

高分解能フーリエ変換赤外分光装置 nano-FTIR

赤外イメージング、分光測定が可能　10nmの空間分解能を実現します

タ駆動：最大移動幅　X＝60mm、Y=15mm、Z=6mm （AFMヘッド側　X=30mm、Y=3mm、Z=4mm） ○ノイズレベル：＜0.2nm　RMS（1.5 - 150Hz） ○光学顕微鏡 ・水平分解能0.8μｍ、視野角0.7mm ・長作動距離対物レンズ（WD＝20mm） ○CCDカメラ：5Mpix　ハイスピード・デジタルイメージング ○励起波長 ・可視、赤外および...

メーカー・取り扱い企業： 日本カンタム・デザイン株式会社

コンパクトAFM『NaioAFM』※デモ受付中

表面形状の測定を短時間・簡潔に！防塵・防風用シールド、防振機構が標準搭…

『NaioAFM』は、表面形状の測定に必要な要素技術を標準搭載しつつ、 装置のセットアップやカンチレバー交換が簡単に行えるなど、 機能性と操作性を両立したコンパクトタイプの原子間力顕微鏡です。 スキャン前に必要な再チューニングやサンプルへのアプローチ、 サンプル平面の傾斜補正はソフトウェアが自動的に行うため、 サンプルにカンチレバーを近づければ、スキャンが開始されます。...

メーカー・取り扱い企業： 日本カンタム・デザイン株式会社