【半導体製造装置関連】集積回路測高検査装置2型

計測後NG品を自動排出！自動ローディングされたJEDECトレー内ICの…

『集積回路測高検査装置2型』は、視野角10mm内、高さ0.7mm以内の高さ計測が可能な製品です。 スロットマガジンに格納されているリードフレーム(最大30×50)を1枚ずつ計測ステージにローディングし、高さ計測を実施。 検査結果によるNG排出を行い、空ポケットに良品ワークを自動充填します。 当社は、FA装置の開発・設計から組立調整、設置、納品後のメンテナンスや改善・改造提案まで一貫したサービス...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ライズワン

【製作実績紹介】X線検査装置

X線による検査で、外観検査では検知出来ない内部クラックを検査する装置

内部クラック検査関連であれば、X線が使用できるワークに対して応用可能。 当社は、FA装置の開発・設計から組立調整、設置、納品後のメンテナンスや改善・改造提案まで一貫したサービスを展開しています！ 掲載装置は製作実績です。 こちらをご参考に、類似した装置または新規製作に対応致しますので、お気軽にお問い合わせ下さい。...【簡易スペック】 ■カバー内に鉛を埋め込み、X線を外部に漏らさない構造構成。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ライズワン