• 電子部品の信頼性試験・分析・解析を一気通貫で対応します! 製品画像

    電子部品の信頼性試験・分析・解析を一気通貫で対応します!

    過渡熱測定可能パワーサイクル試験、カスタマイズ発光/OBIRCH解析装…

    アイテスでは信頼性試験、分析・解析などパワーデバイスのトータルソリューションサービスを行っております。過渡熱測定を同時に行える「パワーサイクル試験機」をはじめ、「化合物半導体の故障解析」「拡散層の濃度解析」「モジュールの断面解析」など。具体的実績を元にご提案させていただきます。 キーワード:■パワー半導体全般(チップ、モジュールTIM素材など)■信頼性試験/評価 ■構造解析(出来栄え・他社品...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • テスト・計測・制御・寸法測定のプロ!(株)中央電機計器製作所 製品画像

    テスト・計測・制御・寸法測定のプロ!(株)中央電機計器製作所

    テスト・計測・制御・寸法測定のお困りごとなら中央電機計器製作所へ!

    創業以来90年以上に渡り、お客様の課題解決、テスト・計測・制御分野に特化した世の中にないものづくりに挑戦し続けております。 米国ナショナルインスツルメンツ(NI)社のアライアンスパートナーとして、LabVIEWを中心とするテスト・計測・制御システムのSIに20年以上の実績があります。 単品から量産まで、ハードウェアとソフトウェアはもちろん、メカに至るまでの開発・設計・製作を一貫して対応いたしま...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社中央電機計器製作所

  • 【EBSDによる解析例】Chip 製品画像

    【EBSDによる解析例】Chip

    Al配線に配向性が見られた、EBSDによる解析例を紹介いたします

    Chip表面の配線(Al)について、EBSDによる解析例を紹介いたします。 パッケージ樹脂を薬液/RIEにより開封し、EBSDによるチップ表面の Alパターンの解析を実施。 その結果、Al配線に配向性が見られました。 法線方位が分布しており、結晶が多く存在していると考えられます。 【概要】 ■解析方法 ・パッケージ樹脂を薬液/RIEにより開封 ・EBSDによるチップ表面...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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