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ワイヤーレス式草刈りロボット『NEXMOW(ネクスモウ)』草刈機
PR境界ワイヤーの埋設不要。高精度GPSによる自動運転で、置くだけですぐに…
ワイヤーレス式草刈りロボット『NEXMOW(ネクスモウ)』は、 自動で草刈りが行える、人手不足の解消に貢献する製品です。 高精度のGPSを搭載しており、境界ワイヤーを埋める必要がなく、 設定した範囲内の草刈りが自動で行えます。 【特長】 ■スマートフォンのアプリで簡単に操作や設定が可能 ■超音波センサーによる障害物検知、障害センサーによる自動停止に対応 ■最大10台まで連携可...
メーカー・取り扱い企業: 水戸工業株式会社
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工場の3Dデータ化 カルテ/モデリング作成/点群座標データ取得
PR3Dのカルテには配管や機器の情報を全て掲載!参照したい情報をパソコン操…
GoodDotの工場の3Dデータ化では、増築・改築の多い工場において、 設備管理をスムーズに行うために設備カルテを作成いたします。 3Dスキャナーカメラを用い、大型設備から機械部品、建築物、遺産等 さまざまなものを迅速・高精度に測定。 カルテには配管や機器の情報を全て掲載しており、参照したい情報を パソコンの操作で簡単に情報開示可能です。 【特長】 ■点群座標データの取...
メーカー・取り扱い企業: GoodDot株式会社
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クロスセクションポリッシャー(CP)法による断面観察サービス
高い加工精度と広い加工領域を実現!冷却機能でダメージを軽減しながらの加…
CP法は、機械研磨法に比べ、研磨によるダメージがない状態で断面を 観察することが可能です。 当社の冷却機能付トリプルイオンミリング装置は、3方向から照射する イオンビームにより、高い加工精度と広い加工領域を実現。 熱に弱い材料の場合には冷却機能でダメージを軽減しながらの加工も可能です。 【特長】 ■加工幅約4mm/加工深さ約1mmと広範囲での加工が可能 ■硬軟材において...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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試料表面の凹凸形状の3D測定や透明体越しの表面形状測定などが可能です!
当社では、形状測定レーザマイクロスコープ「VK-X200」を用いた 受託分析を行っております。 408nmレーザーを用いて観察、計測を実施。測定結果は国家基準につながる トレーザビリティ体系に基づいており、測定機器として非破壊測定に活用できます。 レーザー顕微鏡では、試料表面の凹凸形状の3D測定ができ、透明体の膜厚形状や 透明体越しの表面形状測定が可能です。 【特長】 ■...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能!高精度な発熱箇…
検出する事で不良箇所を特定 ■サンプルを非破壊の状態で解析したり、OBIRCHやエミッションでは 解析が難しい電子部品を解析する事も可能 ■ロックイン機能を使用し、位相情報を取得する事で、高精度な発熱箇所の 特定が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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広範囲での観察、計測も可能!レーザー顕微鏡を用いた受託分析のご紹介です
当社では、形状測定レーザマイクロスコープ「VK-X200」を用いた 受託分析を行っております。 平面計測、幅測定、高さ測定、膜厚測定等の各種、測定ができ、対象の サイズや求める精度により、適した対物レンズを選択し、観察や測定を実施。 範囲はレンズに応じて異なりますが、連結機能を有しているため、広範囲での 観察、計測も可能です。 【特長】 ■平面計測、幅測定、高...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・…
低倍最大視野:6.5mm角 ・エミッション解析: ~2kV まで対応 感度:数nA 低倍最大視野:6.5mm角 ・特定位置精度: ±0.3um、試料厚1.5um~0.1um ・機械研磨SEM観察: 大きな破壊箇所・異物・広範囲の観察 ・拡散層観察: TEM試料加工前に不良箇所近傍にて観察可能 構...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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経年の品質管理にも役⽴つ!⾦属・⾼分⼦・セラミックス等の材料の超微⼩硬…
圧⼦に荷重をかけている状態で、くぼみの押し込み深さを直読し、 硬さを求めます。回復挙動における特性値を求めることも可能です。 【装置概要】 ■試験⼒レンジ0.4mN~1000mN 精度±0.02mN ■押し込みレンジ1nm(0.01μm)~700μm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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化学分析・物理解析から信頼性試験までお任せください!測定評価サービスの…
【装置仕様】 ■温度範囲:100-350℃(精度±0.2℃) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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デバイス帯電モデル(Charged Device Model)のESD…
■印加電圧0Vから±4000Vまで、5Vステップ ■最大 1024ピン まで対応します。 ■プローブ移動精度:0.1mm ■印加ユニット:JEDEC(JESD22-C101F)、JEITA、EIAJ、AEC ■チャージ法 FI-CDM:電界誘導法(JEDEC・AEC) D-CDM:直接チャージ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします…
【故障箇所特定から拡散層評価や結晶構造などの物理解析まで対応】 ■裏面発光/ OBIRCH解析による故障箇所特定 ■故障箇所への高精度位置特定、FIB加工 ■不良箇所のFIB/LV-SEM観察、EBIC解析による拡散層形状評価 ■TEM観察による結晶構造観察、元素分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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ソフトマテリアルの断面作製も実現!Auto Slice&Viewで3D…
【FIB-SEM複合装置概要】 ■垂直方向にSEMカラム、斜め方向にFIBカラムを搭載 ■FIB加工中の様子をSEMでリアルタイムに観察が可能 ■加工位置精度の向上 ■大気非暴露で観察、分析可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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半導体、MEMS、液晶ガラスなど!微小領域の断面加工やTEM試料の作製…
【特長】 ■クロスビームFIB「Carl Zeiss 1540XB」 ・FIBで断面加工しながリアルタイムでSEM観察が出来るため、 ピンポイントで精度よく断面を出すことが可能 ・SEM/SIMの観察が可能 ■シングルビームFIB「SEIKO SMI 2200」 ・TEM試料作製やSIM観察断面の作製、微細加工などの加工が可能 ※詳しく...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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ガラス、金属、セラミックス、Si、化合物半導体、浅いインプラントなどの…
ミックSIMS』は、試料中に含まれる微量の全元素(H〜U)を ppmからppbの高感度で検出することができる二次イオン質量分析法です。 定性分析及び深さ方向分析ができ、加えて標準試料による高精度な定量分析が 可能。(当社の協力会社での分析実施) 最小ビーム径は約30um、材質によってさらにビーム径を落とすことが できます。 【特長】 ■試料の自動ロード/アンロード、高スル...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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FIB加工をリアルタイムで観察しながら断面観察が可能です。
半導体デバイス、MEMS、TFTなどナノスケールの精度で製造される エレクトロニクス製品の構造解析を行うための新たな手法: クロスビームFIBにより断面観察をご提案いたします。 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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