構造解析 | イプロス都市まちづくり

特長を当社のFT-IR、熱分解GC-MSを使用して分子レベルで解き明か…

アイテスでは『ナイロン6.10の構造解析』を行っています。ナイロンはしなやかさを備え、絹に近い感触を持ち、その一方で、「鋼鉄より強く、クモの糸より細い」という天然繊維にない高い強度や耐久性を持ちます。その特長を当...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

LCD解析でお困りのあなたに、私たちアイテスが解決のお手伝いをしま…

LCD解析でお困りのあなたに、私たちアイテスが解決のお手伝いをします！ 構造解析：　刻々と進化するFPD製品・先端技術が組み込まれた製品に対して、　特性・構造上の潜在的問題点がないかを評価しご報告します。不良解析：　増え続ける海外製造品の製造不良に対して、 ...

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【資料】液晶材料とその分析技術

分子構造から解析する、アイテスの技術力を図や表とともにわかりやすく解説…

当資料では、分子構造解析のための分析手法として一例をご紹介しています。液晶高分子（LCP）をはじめ、IRによる構造解析やラマンによる構造解析、 GC-MS分析による低分子液晶（for LCD）のTICデータ、お...

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AFM（原子間力顕微鏡）

微小プローブによる高分解能でのイメージング！ナノレベルの構造解析を実現…

当社では、試料表面を微小プローブで走査し、ナノレベルの 構造解析を実現いたします。「形状測定（タッピングモード）」では、周期的に振動させたプローブで試料表面を軽くタッピングし、表面形状を計測。また、「位相イメージング」は、カンチレバーを動か...

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機械研磨による半導体の観察例

半導体の構造観察や不良解析における断面作製！FIBやCPに劣らぬ断面作…

当社で行った「機械研磨による半導体の観察例」をご紹介いたします。メリット、デメリットはありますが、FIBやCPに劣らぬ断面作製が機械研磨でも可能。当社では長年、蓄積されたノウハウを元に、観察目的や試料の組成、構造に応じてより適切な処理方法をご提案いたします。お困りごとなど御座いましたら下記までお気軽にお問い合わせください。【観察例】 ■半導体_Si ■化合物...

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モジュール試作と熱抵抗評価

ダイアタッチやTIM材などの評価に好適！試作から評価まで対応致します

株式会社アイテスでは、『モジュール試作と熱抵抗評価』を承っております。パワーデバイス及びパワーデバイスで使用する材料の評価において、実際にデバイスを組み立てての熱抵抗測定は、実力の把握に有効な方法です。試作から評価まで対応致します。ご興味がございましたら、是非お気軽にご相談ください。【特長】＜パワーモジュールの試作＞ ■チップの調達からモジュールの組立てまで、...

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【X線透視・CT検査装置】装置外観と主なスペック

YXLON製マルチフォーカスCheetah EVO導入！電子部品など、…

X線観察は、非破壊検査の1手法であり、解析・分析を行う上で始めに行う検査で、実装基板、電子部品を始め、様々な部品、部材の初期観察に有効です。またCT検査では、3次元的に構造を捉えることができるため、視覚的な判断が可能。「Cheetah EVO」には、リフローシミュレータも搭載されているため、はんだ付け時のボイドの挙動などリアルタイムで観察することができ、リフローの条件出しや...

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【資料】断面作製方法

主な断面作製方法や、加工条件、メリット&デメリットなどを掲載しています…

当資料は、断面作製方法についてご紹介しています。観察、分析・解析を行う上で断面作製を行う場合がありますが、目的や材質、構造に見合った方法を選択、或いは組み合わせて加工することで信頼度の高い結果を得ることが可能です。機械的加工では、「機械研磨」「ミクロトーム」。イオンビーム加工では「FIB」「イオンポリッシャー(CP)」などの主な断面作製方法などを掲載。ぜひ、ご一...

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角型Liイオン電池の構造解析

光学顕微鏡観察及び極低加速FE-SEMにて観察！詳細な構造の解析や元素…

市販の角型Liイオン電池を機械研磨し、光学顕微鏡観察及び極低加速FE-SEMにて観察することにより、詳細な構造の解析や元素分析等が行えます。資料では、Liイオン電池の全体構造及びSEM観察や極低加速FE-SEMによる Liイオン電池の詳細構造観察を写真を用いてご紹介しております。【解析概要】 ■Liイオン電池の全体構造及びSEM観察 ■極低加速FE-SEMによるLiイオン...

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EBSDによる解析例（セラミック）

「観察/元素分析」や「EBSDによる解析」など！EBSDによる解析例を…

セラミック（Al2O3）について、EBSDによる解析例を紹介致します。「観察/元素分析」では、EDXによる元素分析からAl2O3と判断され、マップよりSiが点在している様子が観察されました。「EBSDによる解析」では、EBSD法により結晶サイズの分布や配向性を確認でき、マップにHigh lightすることにより、グラフに現れた特長を可視化できます。【解析概要】 ...

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【X線透視・CT検査装置】チップ抵抗の観察事例

立体的に観察ができるため解析に有効なCT観察！チップ抵抗の観察事例をご…

X線透視・CT検査装置によるチップ抵抗の観察事例をご紹介します。チップ抵抗は、セラミックスの表面に薄膜状の金属膜(抵抗体)が形成された構造で、 X線像で見られるL字状の線は抵抗値を調整するために施されたトリミング痕です。 CT観察では、所望の断層図を見れて立体的に観察できるため、解析に有効。 X線観察やCT観察で不具合箇所が見つかれば、断面観察や元素分析を行い、原因を調査...

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