• SEMの観察条件による見え方の違い 製品画像

    SEMの観察条件による見え方の違い

    各種条件下で撮影したSEM像をご紹介!SEMの観察条件による見え方の違…

    SEM観察は、試料表面に照射した電子が試料の極表層で散乱することで 発生する二次電子や反射電子を検出器で捉え、像としてモニターに 映し出しています。 電子を捉える検出器には種類があり、それぞれの特長を生かした像が 得られ、加速電圧を変えることで見え方も変わります。 当資料では、各種...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 卓上型SEM(電子顕微鏡)『TM3030Plus』 製品画像

    卓上型SEM(電子顕微鏡)『TM3030Plus』

    試料の観察や元素分析が可能!半導体、電子部品分野のみならず、ライフサイ…

    【仕様】 ■加速電圧:5kV(表面)、15kV(通常、分析) ■最大試料サイズ:70mm ■最大試料厚さ:50mm ■電子銃:タングステンフィラメント ■検出器 ・高感度半導体型反射電子検出器 ・高感度低真空二次電子検出器 ■観察モード ・導電体(分析モード) ・標準 ・帯電軽減(低真空) ■分析装置:BrukerAXS社製 QUANTAX...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • イオンクロマト分析 製品画像

    イオンクロマト分析

    固体試料は、イオン性成分を純水に溶出!水溶液中の微量なイオン性成分を高…

    - NO2- NO3- 有機酸など ■陽イオン:Li+ Na+ K+ Mg2+ Ca2+ など ■定量下限:約100ppb(イオン種による) ■検出限界:約10ppb(イオン種による) ■検出器:電気伝導度(サプレッサー仕様) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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