CECソリューションフェア2024

PRCECソリューションフェア2024～DXと生成AIで創るビジネスの未来…

当社設立50周年を記念して、恒例のCECソリューションフェアを更にパワーアップして開催！ 出展52社 150以上の製品・ソリューションを展示いたします。 ＊＊＊ リアルとオンラインでのダブル開催！ ＜朱鷺メッセ＞と＜オンライン特設サイト＞のご都合の良い会場でご参加いただけます。 今話題の生成AIを活用したチャットボットが、製品質問に応え、あなたにぴったりな製品をおすすめします！ スキージャンプレジ...

メーカー・取り扱い企業： CEC新潟情報サービス株式会社

不燃セラミックシリーズ フジマルチ内装用モールディング　FMC型

PR80種類以上の豊富なラインアップ！当社の不燃セラミックをご紹介

当社で取り扱っている『不燃セラミックシリーズ FMC型』 についてご紹介いたします。 様々な形状、断面図サイズの製品を80種類以上にわたって 豊富にご用意。 断面図サイズ15×25(mm)の「FMC-2002」や、 12×21(mm)の「FMC-2009」などを取り扱っております。 【ラインアップ(一部)/断面図サイズ】 ■FMC-2065：15×18(mm) ■FMC...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ティ・エス・シー

正極活物質の粒径評価

リチウムイオン電池や全固体電池の作製において重要な管理項目の測定事例を…

当社で行ったレーザー回析による正極活物質の粒径測定の事例を ご紹介いたします。 気中または液中で、粒子にレーザー光を照射し、粒子により散乱される 光の強度の角度依存性を測定。散乱光強度の角度依存性を測定し、 そのデータから粒子径分布(粒度分布)が算出されます。 市販の試薬を試料として使用し、溶媒に分散させず、乾式で測定を実施。 NMC酸化物の粒径測定結果では、粒子径が数十μm以...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ハイパワー恒温恒湿槽での環境試験

ハイパワー恒温恒湿槽を2台導入！車載用部品等の温度サイクル試験・温湿度…

株式会社アイテスでは、『ハイパワー恒温恒湿槽での環境試験』を 承っております。 最大15℃/分（-45⇔±155℃）の定速温度変化が可能。 温度勾配をコントロールしての温度サイクル試験が実施できます。 また、温度制御範囲が一般的な恒温恒湿槽より広く、95℃にて制御可能です。 【特長】 ■ハイパワー恒温恒湿槽を2台導入 ■最大15℃/分（-45⇔±155℃）の定速温度変化が可能 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

パワーデバイスのHAST試験

パワーデバイスに対して高温･高湿度環境下で最大1000Vの印加が可能！…

株式会社アイテスでは、『パワーデバイスのHAST試験』を承っております。 【特長】 ■最大1000V印加での不飽和蒸気加圧試験が可能 ■高温高湿下での通電により、金属配線の腐食やマイグレーション等の評価を実施 ■試験中のモニタリングにより､リアルタイムでの試料劣化を把握...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ワンショット3D形状測定機『VR-6200』

この1台で、いろいろ測れる！切断せずに断面形状を再現、光沢面も測定可能…

株式会社アイテスは、KEYENCE社製のワンショット3D形状測定機 『VR-6200』を導入しました。 電動回転ユニットを付属しており、切断せずに断面形状を再現。 HDRスキャンアルゴリズムにより、光沢面も測れます。 プロファイル計測をはじめ、平面計測、体積面積、比較計測など この1台で、様々な測定を行うことができます。 【測定可能項目】 ■プロファイル計測 ■平面計測 ■...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

透明素材の曇価（ヘーズ）測定、全光／拡散透過率測定サービス

ガラス、ITOなどの透明素材に！各透明樹脂・紫外線照射前後の測定評価も…

DIFの比で表されます。 当サービスのご提供とともに、分子構造視点のデータ解析考察も ご対応いたします。ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【装置仕様】 ■装置：日本電色工業株式会社製 ■対応規格：JIS K7136／JIS K7136-1／JIS K7105／ASTM D1003 ■サンプルサイズ：40×40～200×280mm ■取得データ ・全光線透過率／ヘー...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

海外製 液晶ディスプレイの良品解析

不具合が出れば詳細解析も！海外製LCD導入ご検討のお客様向け簡易版解析

株式会社アイテスの液晶ディスプレイの良品解析についてご紹介します。 まず、外観観察としてセルパネル状態で、FPC、FOG、COG、 シール材に着目して光学顕微鏡観察を行い、次にセルパネルを解体して、 シール材やPI膜、TFT形状を確認。 良品解析で不具合が見つかった場合は、配線の断面観察、異物分析など 原因究明のための追加解析を御提案させていただきます。 ご用命の際は、当社へお気軽に...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

パワー半導体の解析サービス

故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします…

株式会社アイテスでは、パワー半導体の解析サービスを承っております。 当社は日本IBM野洲事業所の品質保証部門から1993年に分離独立して以来、 独自の分析・解析技術を培ってきました。 Si半導体だけでなく、話題のワイドバンドギャップ半導体も対応可能です。 【特長】 ■OBIRCH解析ではSiだけでなく、SiCやGaNデバイスにも対応 ■表裏どちらからでもFIB加工可能 ■PN接...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

モジュール試作と熱抵抗評価

ダイアタッチやTIM材などの評価に好適！試作から評価まで対応致します

株式会社アイテスでは、『モジュール試作と熱抵抗評価』を承っております。 パワーデバイス及びパワーデバイスで使用する材料の評価において、実際に デバイスを組み立てての熱抵抗測定は、実力の把握に有効な方法です。 試作から評価まで対応致します。 ご興味がございましたら、是非お気軽にご相談ください。 【特長】 ＜パワーモジュールの試作＞ ■チップの調達からモジュールの組立てまで、一貫し...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ウェハー加工サービス

成膜加工・再生加工等、半導体ウェハサービスで新しい価値を創造します！

株式会社アイテスでは、ベアウェハやその加工にかかわるお客様の さまざまな課題を解決するお手伝いをしています。 ますます多様化する半導体ニーズに、ウェハ、成膜加工、再生加工 など前工程の分野で、専門性と優れた対応力でお応えいたします。 また、シリコン、微細電鋳のMEMS試作加工受託を開始しました。 【サービス内容（一部）】 ■ウェハ成膜加工 ■ウェハパターニング加工 ■ウェハ再...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ポリウレタンゴムの動的粘弾性測定

圧縮モード以外の引張、せん断、曲げモードにおいても！同様にマスターカー…

株式会社アイテスの品質技術、ポリウレタンゴムの動的粘弾性測定 についてご紹介いたします。 DMAは高分子材料に周期的な振動荷重を与え、生じる応力と位相差から、 弾性や粘性を温度の関数として測定する分析です。今回は、円柱状の ゴム試料を用いて、圧縮モードで測定を行いました。 測定結果は、Tan δの温度分散曲線より、-15.7℃にガラス転移温度を 有していることを示し、 時間―温度換算...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

樹脂材料（半導体 LED用途）の分析

樹脂材料を分析し、製品性能に与える特性を評価することが可能！

株式会社アイテスでは、樹脂材料（半導体 LED用途）の分析を行っております。 MOSFET、ICといった半導体製品、LEDパッケージには、エポキシ樹脂や シリコーン樹脂といった 樹脂材料が多く使用されています。 これらの特性は製品の性能に大きく寄与します。当社ではこれらの 樹脂材料を分析し、製品性能に与える特性を評価することが可能です。 【分析・評価方法】 ■DSC ■TMA ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

化学反応機構研究所材料劣化解析（PETの分解・劣化）

ポリマー材料やサンプルの状態などに応じて適切な分析方法をご提案！

株式会社アイテスでは、材料劣化解析を行っております。 ポリマー材料やサンプルの状態などに応じて適切な分析方法をご提案。 材料がどのような劣化過程を辿ったかを解析し、ポリマー材料や使用環境を 適切にすることで製品の寿命を延ばす事が可能です。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

Φ8インチIC・MEMSファウンドリーサービス開始

最大8インチＭＥＭＳラインを有するオムロン野洲事業所にてウェハ工程の試…

ラー、RF MEMS など）  各種半導体（IC、パワーデバイス など）  光学素子（アパーチャ、レンズ など）  機能構造（poly-Si TSV など） 加工場所： オムロン株式会社　野洲事業所（滋賀県野洲市） ～　8インチ半導体ライン　及び　8インチMEMSライン　～ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

パワーデバイスの逆バイアス試験（最大2000V）

不良基準（電流値）の設定が可能！高温及び高電圧通電によりデバイス劣化及…

株式会社アイテスでは、パワーデバイスの酸化膜及び接合部評価の 高温逆バイアス試験（HTRB）が最大2000Vまで印加できます。 試験中のリーク電流のモニタリングにより､リアルタイムでデバイスの 劣化状況が把握可能｡電源が独立しているために試験中に一つのデバイスが 故障した場合でも他のデバイスに影響を及ぼしません。 また、不良基準（電流値）の設定が可能で不良判定デバイスの電源を 不良判...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

パワーサイクル試験と特性評価

パワーサイクル試験装置を使用したパワーサイクル試験の受託！故障解析・分…

株式会社アイテスでは、シーメンス製（メンター製）のパワーサイクル 試験装置を使用した、パワーサイクル試験の受託を行っています。 試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能です。 また、パワーデバイスの各種観察・測定にも対応しています。 パワーサイクル試験などの試験前後の変化を捉えることができます。 【特長】 ■試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能 ■パワーデバイス...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【資料】超微小硬度計による負荷除荷モード＆カラーフィルター測定例

カラーフィルターの硬度測定例や、グラフを用いて硬度測定で得られる結果を…

当資料は、株式会社アイテスによる『超微小硬度計による負荷除荷モード＆ カラーフィルター測定例』についてのご紹介しています。 硬度測定で得られる結果をグラフを用いて解説。そのほかにも、不要になった ディス...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

有機物の分子構造を、もっとはっきりさせてみませんか？

NMR分析で類似分子構造の化合物を区別し、側鎖、置換基の結合位置や枝分…

株式会社アイテスでは、フタル酸エステル類の1H NMR分析を行っております。 類似分子構造の化合物を区別し、側鎖、置換基の結合位置や 枝分かれ構造などの構造解明にNMR分析は有効な手法です。 有機合成、高分子合成において、狙った分子構造物を得られたのかの確認には 必須の分析で、 医薬品、サプリメント、食品、繊維など、その特性効果・効能は 分子団の置換基の場所や分子構造により左右されます...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【資料】重合度、分子量の差をIR分析で検証

エチレン部に基準ピークを設け、エーテル結合に関与するピークに着目しまし…

当資料は、株式会社アイテスによる『重合度、分子量の差をIR分析で検証』 についてご紹介しています。 ポリエチレンオキサイド（PEO）は、その極性構造由来の特性により多くの 用途で使用されており、リチウム...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

化学反応機構研究所　フタル酸エステル1HNMR

似通った構造の化合物を区別して同定！プロトンの個数、構造の特長などの情…

株式会社アイテスでは、フタル酸エステル類の1H NMR分析を行っております。 似通った構造の化合物を区別して同定するにはNMR分析やGCMS分析が有効です。 当分析では、積分値からプロトンの個数、ケミカルシフトから官能基など 構造の特長、またカップリングパターンやカップリング定数から周りの プロトンとの位置関係などの情報を得る事ができます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

樹脂の変質劣化をFT-IR分析で確認してみませんか？

有機分子団(官能基)の吸収波長を検出し分析します！

株式会社アイテスでは、樹脂の変質劣化を確認する「FT-IR分析」を 行っております。 樹脂の劣化は、目に見える変色もあれば、見えない変質もあります。 変色では外観変化で把握できますが、見えない変質は強度低下に繋がり、 様々な不具合の起点となります。 IRによる分析は、その変質による分子構造変化を把握する事が可能です。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

In-Situ常時測定 信頼性評価試験サービス

In-Situ常時測定 信頼性評価試験サービス

In-Situ常時測定 信頼性評価試験では、特性を測定しながら、ストレスを印加し信頼性評価試験を行います。 ●正確な故障時間の把握が可能 　決まった時間にストレス環境より取り出して測定するリードアウト方式では、リードアウトのタイミングでしか故障の把握ができず、正確な故障発生時間を知ることはできません。 　In-Situ測定では、正確な故障時間の把握ができます。 ●回復性故障の検出が...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

パワーデバイスの故障解析

ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・…

あらゆるサイズ・形状のダイオード・MOS FET・IGBT等の パワーデバイスに対し最適な前処理を行い 裏面IR-OBIRCH解析や裏面発光解析により不良箇所を特定し観察いたします。 ■解析の前処理－裏面研磨－ 　各種サンプル形態に対応します。 　Siチップサイズ：200um～15mm角 ■不良箇所特定－裏面IR-OBIRCH解析・裏面エミッション解析－ 　IR-OBIRCH...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

半導体製品の信頼性トータル・ソリューション

半導体製品に関わる部品・装置・材料の開発評価の困難をサポート

【試験・評価・分析・解析】 　●信頼性試験 　　■温度サイクル試験 　　■冷熱衝撃試験 　　■高温保存試験 　　■高度加速寿命試験 　　■プリコンディショニング 　　■ホットオイル試験 　　■In-situ常時測定 　　■イオンマイグレーション試験 　　■エレクトロマイグレーション試験 　　■テストコンサルティンング 　●評価試験 　　■接合強度試験：プル/ シェア試験 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ESD(HBM・MM)試験受託サービス

DUTボード作製から試験まで！ご要望や目的に応じた試験をご提案、実施致…

『ESD(HBM・MM)試験サービス』は、半導体製品およびそれを含む 電子部品の信頼性として重要なHuman Body ModelとMachine Modelの ESDによる破壊に対する耐性を評価します。 512ピンまでのICモジュール、半導体製品、サブシステム等の製品に対応。 ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を 実施します。また...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

形状記憶合金の変態温度測定

物質が温度変化にともない相変態を起こすとき、熱エネルギー変化が起こりま…

形状記憶合金は、変形させても固有の温度以上にすると元の形状に戻る という特性を持つ合金であり、形状記憶性の発現は、 相変態(マルテンサイト変態)によるものです。 変態時の熱エネルギー変化をDSCにて捉える事で、3種類の形状記憶合金 製品の変態温度を測定し、元素分析によって組成との関係を調べました。 変形した針金をお湯に漬けると一瞬で元の形状に戻ります。 【DSCによる変態温...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

機械研磨による3D構築

X線CTとFIBスライス断面による3D構築のメリット・デメリットや機械…

機械研磨による3D構築手法を事例にてご紹介致します。 セラミックコンデンサは内部に薄膜の電極が積層された構造をしており、X線CT では内部の電極は透けてしまって確認する事ができません。また、FIBスライス 断面による3D構築は試料が数mmである為、局所的な確認に留まります。 機械研磨による3D構築手法は、X線CTとFIBスライス断面の不得意とする領域を 補う形で3D構築が可能とな...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【成分分析】GC-MS ガスクロマトグラフ質量分析計

新しく装置を導入！試料に含まれる成分の定性・定量を目的とした分析手法を…

島津製作所社製の「GC-MS ガスクロマトグラフ質量分析計」を 導入しました。 試料に含まれる成分の定性・定量を目的とした分析手法の一つで、 部品・部材・残存溶媒や添加剤など、揮発性有機物の定性・定量に 用いられる分析装置です。 測定対象がガス化することが必要条件(沸点300℃未満)となりますが、IRや RAMANに比べ感度が高い点、GC部での成分分離が可能な点から、混合物の ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

高温ラッチアップ試験

高温状態での動作が要求されるデバイスに！高温でのラッチアップ試験をご紹…

当社が行っている『高温ラッチアップ試験』についてご紹介します。 近年､デバイスの最大使用周囲温度条件下でのラッチアップ試験の需要が増加。 特に、車載部品用のAEC規格では、ClassII（最大使用周囲温度）の試験条件のみ となっており、高温状態での動作が要求されるデバイスでは、高温での ラッチアップ試験が推奨されています。 【ラッチアップ試験の主要規格（抜粋）】 ■JEDE...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

パワーデバイスのトータルソリューションサービス

パワーデバイスをあらゆる角度から徹底評価、検証します

■解決する力 　知識と技術でかいけつに導くコンサルティング 　スピード対応でお客様スケジュールを支援 ■つきとめる力 　故障個所をピンポイントし可視化する技能 　深い洞察力と高度かつ繊細な試料加工技術 ■特化した設備 　最高180℃での液槽熱衝撃試験 　パワー半導体に必須のパワーサイクル試験...■パワーデバイスの信頼性試験 ・パワーサイクル試験 　定電流600A　max.(V...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EBSD解析

結晶方位や結晶粒径の変化が解析可能！EBSD(電子線後方散乱回折)法を…

EBSD法とは、試料の持つ結晶構造の情報を基に連続的に取り込んだパターン の結晶方位を算出することにより、結晶粒の分布、集合組織や結晶相分布を 解析する手法です。 金属やセラミック等の結晶質のものは、立方体等の結晶格子が多数集まって 構成されていると考えられおり、当解析法では、それがどのような方向を 向いているのか(結晶方位)を解析。 IQマップ(イメージクオリティーマップ)を...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス